照度計(jì)Gossen MAVOLUX5032在光學(xué)測(cè)量中的實(shí)際應(yīng)用：

Gossen MAVOLUX5032照度計(jì)使用方便，測(cè)量精度高。能夠顯示lx或fc單位照度。

搭配可選配件中的亮度配件，MAVOLUX5032照度計(jì)也可用于測(cè)量單位cd/m2或fL亮度。探頭通過顏色校正，即其相對(duì)光譜響應(yīng)已經(jīng)適應(yīng)了人眼V（λ）光譜響應(yīng)度。所有重要類型的光都可以高精度測(cè)量，不需要任何額外的校正因子。V（λ）適應(yīng)的準(zhǔn)確性是MAVOLUX5032C和MAVOLUX5032B兩種照度計(jì)類型的主要區(qū)別。照度計(jì)的質(zhì)量等級(jí)已經(jīng)在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中DIN第7部分定義5032。

因此，MAVOLUX5032C符合C類，MAVOLUX5032B符合B類（DIN第7和8部分5032)。余弦校準(zhǔn)了照度計(jì)探頭，使斜入射光得到精確測(cè)量。

兩種MAVOLUX5032類型允許在不添加附件的情況下測(cè)量非常高強(qiáng)度的光。特別是0.01lx初始靈敏度MAVOLUX5032B特別適用于極低光強(qiáng)度的測(cè)量。

lx=Lux, 1lx=0.0929fc fc=footcandle, 1fc=10,76lx

cd/m2=Candelapersquaremeter, 1cd/m2=0,2919fL fL=footlambert, 1fL=3,426cd/m2

照度計(jì)在光學(xué)測(cè)量中多種場(chǎng)景中的應(yīng)用：

1、照度計(jì)測(cè)量反射式圖卡的表面照度：

在圖像測(cè)試領(lǐng)域，建立一個(gè)統(tǒng)一的光源環(huán)境是非常重要的。因此，在每次測(cè)試之前，應(yīng)測(cè)試圖卡表面的照度，并且每次測(cè)量都是統(tǒng)一的。

在實(shí)際測(cè)試中，為了保證圖卡表面的均勻性，我們通常使用四個(gè)邊緣和中心點(diǎn)作為測(cè)量點(diǎn)。最后，通過獲得的測(cè)量值計(jì)算圖卡表面的均勻性。均勻性指數(shù)越高越好。如果不能滿足測(cè)試要求，則需要調(diào)整補(bǔ)光源的角度和距離，并使用照度計(jì)重新測(cè)量以計(jì)算均勻性。

測(cè)量每個(gè)測(cè)試點(diǎn)的照度時(shí)，務(wù)必不要堵塞探頭。測(cè)量人員可以站在一邊，將手伸向另一邊。

注意：測(cè)試圖卡表面容易損壞，測(cè)量時(shí)輕輕靠近表面，不要在圖卡上摩擦并移動(dòng)到測(cè)量點(diǎn)。

2、照度計(jì)測(cè)量反射式燈箱的照度：

使用照度計(jì)測(cè)量光源環(huán)境時(shí)，我們只需將探頭放置在要測(cè)量的位置，即可實(shí)時(shí)顯示測(cè)量值，方便我們統(tǒng)計(jì)光源數(shù)據(jù)，控制光源環(huán)境。

3、照度計(jì)測(cè)量透射式圖卡表面的亮度：

在圖像測(cè)試中，不乏需要測(cè)試圖卡表面亮度的情況。通過增加亮度配件的照度計(jì)，可以快速測(cè)試不同圖塊的亮度值。

比如在camera在動(dòng)態(tài)范圍測(cè)試中，我們獲得了每個(gè)圖塊的亮度值。然后，在隨后的圖像分析中，我們可以向分析軟件提供它作為一個(gè)輔助文檔。最后，用于分析動(dòng)態(tài)范圍的結(jié)果數(shù)據(jù)，以獲得更準(zhǔn)確、更可靠的測(cè)試結(jié)果。

逐個(gè)測(cè)量圖塊的亮度，并記錄可用文件；

例如:在分析軟件中，我們可以選擇要測(cè)試的測(cè)量指標(biāo)

例如:在分析軟件中，我們可以選擇要測(cè)試的測(cè)量指標(biāo)

因?yàn)檐浖旧頃?huì)找到具有相同文件名的附屬文檔，所以點(diǎn)擊Start之后，可以將亮度數(shù)據(jù)應(yīng)用到分析中。

4、照度計(jì)測(cè)量散射燈箱的亮度：

照度計(jì)在測(cè)試亮度之前，需要增加照度計(jì)M516G配件，將照度計(jì)轉(zhuǎn)換成亮度計(jì)，如圖所示：

從上圖可以看出，單位已經(jīng)從lx轉(zhuǎn)換成cd/m2。對(duì)于散射燈箱，我們還可以增加適配盤（M499G），用于屏蔽外部光源，測(cè)量結(jié)果將更加準(zhǔn)確。此外，適應(yīng)板的大表面降低了接觸壓力。因此，在測(cè)量過程中損壞設(shè)備的風(fēng)險(xiǎn)也將大大降低。

審核編輯：湯梓紅