詳細介紹一下TLP測試相關的知識
ESD的概念想必大家都非常清楚，即兩個物體之間的電荷的轉移，當兩個物體之間直接接觸或者相互靠近發生介質擊穿時，就會產生靜電放電。
而TLP（傳輸線脈沖測試Transmission-line pulse -TLP）是一種通過測量時域的電流和電壓來研究集成電路的及其特性的ESD測試方法。
下面詳細介紹一下TLP測試相關的知識：
TLP脈沖發生器的基本結構：長度為L的充電線（TL1），開關S1和高壓電源（Vo）。
A、充電線的長度決定了脈沖的寬度；
B、標準TLP的典型值為100ns脈沖寬度，1ns的上升時間；
C、逐步增加脈沖幅度，直到DUT出現故障或者達到最大的電壓；
D、DUT的故障通常通過DC漏電流來判斷
E、通常讀取脈沖時間70%到90%的時間。
使用TLP測試出來的I-V曲線
動態阻抗是ESD保護器件的一個非常重要的參數，動態阻抗越低，表明更多的ESD電流會流經保護器件，更少的電流會流經被保護設備。
動態阻抗的定義：dv/dI
一般TVS的動態阻抗為幾百mohm到幾ohm，而多層壓敏電阻-對于低電容設備，有幾ohm或者更高的阻抗。
審核編輯：劉清
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