參數(shù)指標(biāo)
| 項目 | 參數(shù) | |
| 集電極-發(fā)射極 | Z大電壓. | 3000V |
| Z大電流 | 1000A | |
| 精度 | 0.10% | |
| 漏電流測試量程 | 1uA~100mA | |
| 柵極-發(fā)射極 | Z大電壓. | 300V |
| Z大電流 | 1A(直流)/10A(脈沖) | |
| 精度 | 0.10% | |
| Z小電壓分辨率 | 30uV | |
| Z小電流分辨率 | 10pA |
可測項目
集電極-發(fā)射極電壓Vces,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(br)ces
集電極-發(fā)射極飽和電壓Vce sat
集電極電流Ic,集電極截止電流Ices
柵極漏電流Iges,柵極-發(fā)射極閾值電壓Vge(th)
柵極電阻Rg
電容測量
I-V特性曲線掃描,C-V特性曲線掃描等
PMST功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)特色:
單臺Z大3000V輸出;
單臺Z大1000A輸出,可并聯(lián)后Z大4000A;
10us的超快電流上升沿;
同步測量;
國標(biāo)全指標(biāo)的自動化測試
審核編輯 黃昊宇
聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。
舉報投訴
-
系統(tǒng)測試
+關(guān)注
關(guān)注
2文章
37瀏覽量
15193 -
功率器件
+關(guān)注
關(guān)注
43文章
2120瀏覽量
95121
發(fā)布評論請先 登錄
相關(guān)推薦
熱點(diǎn)推薦
「聚焦半導(dǎo)體分立器件綜合測試系統(tǒng)」“測什么?為什么測!用在哪?”「深度解讀」
器件(如 IGBT 模塊),測試其高功率、高頻特性。
新能源行業(yè):光伏逆變器、儲能系統(tǒng)中的整流二極管、MOSFET,測試耐高壓、低損耗
發(fā)表于 01-29 16:20
分立器件的靜態(tài)參數(shù)要測試哪些?這些參數(shù)對器件有什么影響?
在電子設(shè)計中,分立器件(如晶體管、二極管、集成電路等)是構(gòu)成復(fù)雜電路的基礎(chǔ)組件。為了確保其性能穩(wěn)定、可靠,必須對其進(jìn)行靜態(tài)參數(shù)測試。
半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測試儀系統(tǒng)STD2000X使用價值和選型參考
半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測試儀系統(tǒng)在半導(dǎo)體研發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量控制及應(yīng)用中具有重要的使用價值和意義,主要體現(xiàn)在以下幾個方面: 1. 技術(shù)價值:確保
STD2000X:半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)電性測試的全場景解決方案
在半導(dǎo)體設(shè)計與制造過程中,器件性能的精確測試是確保產(chǎn)品可靠性與一致性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。蘇州永創(chuàng)智能科技有限公司推出的 STD2000X 半導(dǎo)體靜態(tài)電性測試
半導(dǎo)體器件的通用測試項目都有哪些?
隨著新能源汽車、光伏儲能以及工業(yè)電源的迅速發(fā)展,半導(dǎo)體器件在這些領(lǐng)域中的應(yīng)用也愈發(fā)廣泛,為了提升系統(tǒng)的性能,半導(dǎo)體器件系統(tǒng)正朝著更高效率、更高功率
基于Moku的功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng):精準(zhǔn)、高效、經(jīng)濟(jì)的一體化測試方案
摘要隨著SiC、GaN等新型功率器件的廣泛應(yīng)用,功率器件動態(tài)參數(shù)測試對
半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)的用途及如何選擇合適的半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)
? 半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)是用于評估二極管、晶體管、晶閘管等獨(dú)立功能器件性能的專業(yè)設(shè)備。 一、核心功能 ? 參數(shù)
如何正確選購功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)測試機(jī)?
主要的功率半導(dǎo)體器件特性分為靜態(tài)特性、動態(tài)特性、開關(guān)特性。這些測試中最基本的測試就是靜態(tài)
功率器件測量系統(tǒng)參數(shù)明細(xì)
輸出與測量能力,滿足最苛刻的功率器件靜態(tài)、動態(tài)參數(shù)測試需求 選型指南: 應(yīng)用領(lǐng)域 晶圓級測試(C
發(fā)表于 07-29 16:21
半導(dǎo)體分立器件測試的對象與分類、測試參數(shù),測試設(shè)備的分類與測試能力
半導(dǎo)體分立器件測試是對二極管、晶體管、晶閘管等獨(dú)立功能半導(dǎo)體器件的性能參數(shù)進(jìn)行系統(tǒng)性檢測的過程,旨在評估其電氣特性、可靠性和適用性。以下是主
IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀系統(tǒng)
HUSTEC華科智源 HUSTEC-1600A-MT IGBT功率器件測試儀 一:IGBT功率器件測試
晶體管參數(shù)測試系統(tǒng)/測試儀主要功能,應(yīng)用場景
晶體管參數(shù)測試系統(tǒng)是用于評估半導(dǎo)體分立器件電氣性能的專業(yè)儀器設(shè)備,其核心功能是對晶體管的靜態(tài)/動態(tài)參數(shù)
有沒有一種能測試90%以上半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)的設(shè)備,精度及測試范圍寬,可與分選機(jī)、探針臺聯(lián)機(jī)測試?
平臺, 填充調(diào)用式菜單操作界面,測試界面簡潔靈活、人機(jī)界面友好。配合開爾文綜合集成測試插座,只需要根據(jù)不同器件更換測試座配合系統(tǒng)自適應(yīng)
發(fā)表于 03-20 11:30
功率器件靜態(tài)參數(shù)系統(tǒng)測試項目和指標(biāo)
評論