高精密電子儀器和通信系統的應用下，我們需要考慮不同封裝(貼片/直插)的石英晶振的電性能參數變化對系統的影響，包括C0/C1, CL,RR。

C0/C1對晶體穩定性的影響

晶體的靜態電容C0和動態電容C1大小，與晶片電極面積大小(體積大小)成正比，不同廠家設計C0也有差異。

同一頻率C0/C1的不同會影響振蕩電路的穩定性：

C0/C1大，頻率上升到標稱頻率前電抗變大，起振快，頻率難調整，但不易受外面雜散電容影響，適合高穩需求;

C0/C1小，頻率變量大，易受雜散電容影響，頻率溫度穩定性變差，但易于CL調整頻率。

KOAN晶振建議您：

先求穩后求精準度，要合理控制C0/C1范圍，比如49S-25M合理范圍280-310.

CL對相噪和起振的影響

負載電容CL是電路中跨接晶體兩端的總的有效電容，主要影響負載諧振頻率和等效負載諧振電阻，與晶體一起決定振蕩器電路的工作頻率，通過調整負載電容，就可以將振蕩器的工作頻率微調到標稱值。

CL大，遠端相噪好;CL過大，難調整到標稱頻率，還容易導致回路阻抗增大，難起振;CL小，容易調整頻率，近端相噪好，易起振。

KOAN晶振建議您：

隨著晶體小型化發展，諧振器C0變小，我們應相應降低CL。否則會減弱晶體C0電流分流比例。

RR對振幅和激勵功率的影響01

同頻率晶體的體積越小RR越大，RL晶體加負載電容的諧振阻抗， RL=RR(1+C0/CL)2 。根據其大小，評估振蕩電路設計振蕩寬限，滿足振蕩電路的振幅條件和激勵功率等級。

02P=I2*RL，可根據電流I的大小評估激勵功率等級和匹配相應的限流電阻

I：晶體諧振時流經晶振的電流，與RR成反比

RL：等效電阻

P：實際跨在晶體上的功率。

原文標題：晶體諧振器電性能差異化應用

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