1.導通測試

導通測試是線束中必須相連接的點是否準確的連接。通常人們用的方法是線路的一端，施以一定額的電流，并在另一端探查是否有相對應的電流流出，而獲知該路徑是否接通，再進一步量測兩端的電壓差，計算該導線的電阻值，此要對線束逐點進行點對點的測試。

在多線束導通測試的過程中，如果有錯誤發生，不論是斷線、短路或接線錯誤，通常最大的困難就是找到真正的錯誤，是斷線未接，還是連接錯誤，還是線間短路等等。傳統上簡單的線束測試器中，通常是一對一的導通測試及一對一的絕緣測試。這種方法對于復雜的線束拓撲結構，經常無法檢測涵蓋所有錯誤，即使發現有錯誤，仍不能很快的掌握實際的狀況。

線束的正常連接及常見失效如下圖所示：

線束導通測試示意圖

ATX-3000線束測試儀導通測試原理：給需要測試的線束施加一定電流，測量線纜端點處的電壓值和電流值，由測試儀內部對測量結果使用歐姆定律進行換算，得出準確的電阻值。用此電阻值與用戶設定的電阻值進行比較，判定是否有質量隱患。導通測試原理圖如圖：

線束測試儀導通測試原理圖

該導通測試功能通過快速自學習保存一個正確標準，便可得出未知電纜線束連接關系，省去手工輸入接線關系的不便和繁瑣工序，判斷連接關系是否正確，是否有短路、斷路、誤配線等質量隱患。

本方案中，線束測試儀主機選用高性能DSP和FPGA核心芯片，FPGA的工作頻率由FPGA芯片以及設計決定系統時鐘頻率較高，CPLD內部采用固定長度的金屬線進行各邏輯塊的互連，所以設計的邏輯電路具有時間可預測性,確保導通速度不低于0.5S/點，其中具體環節測試時間如下表所示。

2.電阻測試

線束測試儀ATX-3000電阻測試基于開爾文電橋的四線隔離法進行測試。四線測試法技術是被高精度電路測量系統所采用的一種電阻測試方法，四線測試方法是利用Kelvin電橋測試法進行電阻測量，并采用24位ADC保證在低電流的情況下滿足微電阻的精確度。當被測電阻阻值較小時，利用這種測試方法可獲得非常精確的測試結果。此測試法是利用直接從被測電阻兩端讀取電壓的方法，可以消除測試導線帶來的誤差累積，尤其是在測長距離和多轉接終端電阻阻值時，可補償線束測試儀內部和線間電阻誤差。

Kelvin電橋測試法原理圖

兩線制測電阻會引入線上電阻，如圖所示：

四線制測電阻電壓表的電流保持在最低限度，避免了導線的電阻所引起的誤差，提高電阻測量精度，如圖所示：

Aigtek安泰電子研究的ATX-3000線束測試儀，采用計算機輔助測試技術，將控制系統、人機交互模塊、測試功能電路和繼電器陣列集成在一起，自動化程度比較高，一定程度上提高了測試精度和效率。能夠實現對整機電纜的短路、斷路、絕緣和耐壓故障進行檢測以及對二極管、繼電器、開關等電子元器件的可靠性進行測試。系統的測量控制單元采取模塊化設計，系統的每個分布式開關單元有多達4096點的測試容量，測試速度快;系統測試容量大，且擴展方便。

通過以上的介紹，相信您對于線束測試儀低壓測試原理有了清晰的了解，如想了解更多，請持續關注安泰電子。

審核編輯：湯梓紅