迪賽康科技(深圳)有限公司一直專注于高頻、高速相關(guān)的產(chǎn)品研發(fā)，已經(jīng)陸續(xù)推出全系列接口高速測(cè)試夾具，多款同軸連接器，高頻高速線纜和測(cè)試探針等高速相關(guān)產(chǎn)品，并申請(qǐng)專利。

最近研發(fā)出一款最新的差分測(cè)試可調(diào)間距探針，非常適用于信號(hào)完整性驗(yàn)證、芯片評(píng)估、共面波導(dǎo)、電路調(diào)試及測(cè)試裝置用途，配合探針臺(tái)和網(wǎng)絡(luò)分析儀，基本可以做到高速信號(hào)測(cè)試無死角(阻抗，損耗哪里不對(duì)點(diǎn)哪里)。

差分仿真模型及仿真結(jié)果：

通過控制差分探針SS之間的距離，將探針針尖位置阻抗優(yōu)化至100±1ohm(Tr=35ps)，且實(shí)現(xiàn)本款可調(diào)間距的差分探針在0.05~5.0mm范圍內(nèi)調(diào)整間距時(shí)，探針針尖阻抗波動(dòng)在100±2ohm以內(nèi)，40GHz回?fù)p滿足18dB。

我們推出的這款探針具有寬頻帶、精阻抗、高性價(jià)比、高可靠性等特點(diǎn)，精細(xì)研磨，特制倒角，有效解決ACP探針測(cè)試堆金問題，高可靠性測(cè)試，無縫隙覆蓋DC~40GHz，產(chǎn)品統(tǒng)一采用標(biāo)準(zhǔn)安裝接口，GSSG間距可調(diào)觸點(diǎn)形式，觸點(diǎn)尺寸50um，可通用適配多種探針臺(tái)、探針臂，適用于微波集成電路在片測(cè)試、管結(jié)參數(shù)提取、MEMS產(chǎn)品測(cè)試及片上天線測(cè)試等領(lǐng)域。

注：以上S參數(shù)測(cè)試結(jié)果包括兩個(gè)差分探針，一個(gè)差分探針插損測(cè)試結(jié)果應(yīng)該為上圖測(cè)試結(jié)果的一半。

迪賽康差分探針參數(shù)

1. 阻抗特性：100Ω±2%

2. 引出角度： 45°

3. 信號(hào)形式：GSSG

4. 觸點(diǎn)間距：可調(diào)間距

5. 觸點(diǎn)寬度：50um

6. 接觸電阻：30mΩ

7. 工作溫度：-55~125°

外形尺寸：

注意事項(xiàng)：探針頭部結(jié)構(gòu)都為精密零件，測(cè)試時(shí)必須配合探針臺(tái)使用!

我們很高興能夠?qū)⒋颂结槷a(chǎn)品推向市場(chǎng)，并為當(dāng)下該領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)難題提供一種新穎獨(dú)特的解決方案。有了這款性能已得到驗(yàn)證的產(chǎn)品，客戶無需再使用當(dāng)前作為權(quán)宜之計(jì)的臨時(shí)探針，而且測(cè)試人員可實(shí)現(xiàn)控制性和可重復(fù)性更高的測(cè)試。

原文標(biāo)題：一款高性能、差分可調(diào)間距測(cè)試探針(GSSG)

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審核編輯：湯梓紅