本文演示了靈活，可擴展PXI平臺的開放式體系結構和其硬件與軟件的優勢，用于半導體測試

被測設備

目標設備是具有802.11n和藍牙功能的WiFi IC。在查看了目標IC規范后，確定了一組測試IC的資源要求，并將其與PXI尺寸中可用的儀器相匹配。被測設備（DUT）需要四個電源，并且在給DUT上電時必須按特定順序對電源進行排序。

此外，盡管DUT的IDD非常低，但在初始化DUT時，其中一個電源的浪涌電流可能會超過1A。電源要求強制使用可編程電源，并且必須容納1A的浪涌電流。初始加電時，DUT處于低功率空閑狀態，因此可以進行通信。DUT上有兩個通信端口：JTAG端口和掃描端口。JTAG端口用于配置和初始化DUT，并執行IO的初始結構測試。掃描端口用于配置DUT的運行并完成結構IO測試。還可以使用“掃描”端口控制DUT進行其他功能測試。

由于DUT已經在UltraFlex系統上進行測試，因此DUT有一套經過驗證的測試模板，可用于PXI系統。Marvin Test Solutions的文件轉換工具可用于將ATP文件轉換為硬件特定的模式，數字測試儀器滿足準確表示ATP模式文件參數所需的速度、信道密度、模式深度和定時能力。

測試系統

為了代替與UltraFlex系統相關的IC處理器，需要一種與DUT進行接口的方法。設計了專用的DUT板，并通過電纜將其連接到演示系統的儀器。DUT板設計經過模塊化處理，可以輕松擴展測試站點的數量，并展示多站點測試功能。

測試系統

所示的系統設計包括GX7100BPXI 3U / 6U組合式智能機箱。需要3U和6U PXI插槽的組合以容納兩個GX7400A可編程電源。每個GX7400A在三個6U插槽中提供兩個150W可編程電源。

選擇了四個GX5296PXI模塊作為DUT的數字測試儀器。GX5296每塊卡提供32個IO通道，每個通道具有完整的PMU功能，64M模式深度，125 MHz時鐘速率，1nS邊沿時序分辨率，每個引腳的時序以及DUT響應數據的實時比較。使用MTS的GtDio6x-FIT文件轉換工具，從UltraFlex ATP模式文件轉換了數字測試模板，并進行了格式化，以使每個DUT的模式都駐留在兩個GX5296儀器上。將功能從測試一個DUT擴展到兩個DUT只需添加第二組GX5296儀器，并將這些模塊連接到第二個DUT測試板即可。

測試軟件

使用ATEasy開發環境編寫了用于控制加載轉換后的ATP測試模板，運行模擬接觸測試，執行測試模板并將測試結果報告給操作員的軟件，并使用集成的Test Executive GUI控制了測試執行。還編寫了演示，以顯示針對半導體測試應用使用開放式體系結構硬件和軟件工具的總體多功能性。

責任編輯：xj

原文標題：解決方案聚焦：如何使用PXI儀器進行高級數字測試

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