DS4830 光電控制器內部的模 / 數轉換器（ADC）失調可隨溫度和增益設置而變化，但 DS4830 允許用戶測量 ADC 內部失調。將測得的 ADC 失調加至 ADC 失調寄存器，以抵消失調誤差。本應用筆記演示利用應用程序校準 DS4830 內部 ADC 的失調。

　　引言

　　模 / 數轉換器（ADC）將輸入電壓轉換為相應的數字編碼。理想的 ADC 在編碼空間內實現這種行為。圖 1 所示為采用 2V 基準的 3 位 ADC 的傳遞函數。

　　然而，設計一款在所有架構下都滿足理想 ADC 特性的 ADC 非常困難。由于各種設計限制或約束，轉換器存在各種誤差，例如積分非線性（INL）、微分非線性（DNL）、增益以及 ADC 輸入失調。失調誤差是 ADC 最常見的誤差。對應于零電壓輸入（ADC 輸入連接至地）的 ADC 數字編碼輸出稱為 ADC 失調。圖 2 所示為帶有失調的 3 位 ADC 傳遞函數。

　　DS4830 ADC 內部失調

　　DS4830 光電微控制器內置 13 位 ADC 和 ADC 失調寄存器（ADVOFF），用于校準 ADC 內部失調。工廠對每一 DS4830 在室溫、不同 ADC 增益 ADCG1 （1.216V 滿幅）下進行失調校準。然而，DS4830 ADC 內部失調會隨溫度和增益變化。 DS4830 可測量任意 ADC 增益設置下的 ADC 內部失調。然后利用測量值校準 ADVOFF 寄存器。為測量 ADC 內部失調，ADC 控制器將內部地連接至 ADC 輸入，然后啟動 ADC 轉換。ADC 控制器具有專用的通道選擇地址 25，指示 ADC 控制器測量 ADC 的內部失調。ADC 控制器沒有專用的數據緩存器儲存 ADC 的內部失調結果。為存取內部失調轉換結果，必須使用 ADC 控制器的地址覆蓋選項。

　　用于 ADC 內部失調的地址覆蓋選項

　　默認設置下，ADC 轉換結果儲存在通道編號對應的 ADC 緩存器內。ADC 控制器提供“地址覆蓋”選項。該選項允許將 ADC 轉換結果放在任意數據緩存器地址（0-24 數據緩存器）。ADC 控制寄存器（ADCN）具有地址覆蓋控制位 LOC_OVR。如果將該位置 1，則允許用戶選擇一個替代位來儲存 ADC 轉換結果。ADC 狀態寄存器（ADST）的 ADC 轉換配置寄存器選擇位（ADCFG）置 1 時，替代位置由 ADDATA［12:8］位（ALT_LOC［4:0］）定義。