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深入解析 onsemi NVTFS6H850NL N 溝道功率 MOSFET

lhl545545 ? 2026-04-08 11:45 ? 次閱讀
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深入解析 onsemi NVTFS6H850NL N 溝道功率 MOSFET

在電子設(shè)計領(lǐng)域,功率 MOSFET 是至關(guān)重要的元件,它廣泛應(yīng)用于各種電源管理和功率轉(zhuǎn)換電路中。今天我們要深入探討的是 onsemi 公司的 NVTFS6H850NL N 溝道功率 MOSFET,它具有諸多出色的特性,能滿足眾多緊湊設(shè)計的需求。

文件下載:NVTFS6H850NL-D.PDF

一、產(chǎn)品特性亮點(diǎn)

1. 緊湊設(shè)計

NVTFS6H850NL 采用了 3.3 x 3.3 mm 的小尺寸封裝,這對于需要緊湊設(shè)計的應(yīng)用場景來說至關(guān)重要。在如今追求小型化、集成化的電子設(shè)備中,這種小尺寸封裝能夠有效節(jié)省 PCB 空間,為設(shè)計帶來更多的靈活性。

2. 低損耗優(yōu)勢

  • 低導(dǎo)通電阻:其低 (R{DS(on)}) 特性可最大程度地減少導(dǎo)通損耗,提高電路的效率。例如在 10 V 的柵源電壓下,(R{DS(on)}) 僅為 8.6 mΩ;在 4.5 V 時為 11 mΩ。這意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,MOSFET 上的功率損耗更小,能有效降低發(fā)熱,提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性。
  • 電容:低電容特性有助于減少驅(qū)動損耗,降低驅(qū)動電路的功耗,從而進(jìn)一步提高整個系統(tǒng)的效率。

3. 高品質(zhì)與可靠性

  • 可焊側(cè)翼產(chǎn)品:NVTFS6H850NLWF 具有可焊側(cè)翼,這對于焊接工藝和焊接質(zhì)量的控制非常有利,能提高焊接的可靠性。
  • 汽車級認(rèn)證:該產(chǎn)品通過了 AEC - Q101 認(rèn)證,并且具備生產(chǎn)件批準(zhǔn)程序(PPAP)能力,適用于汽車電子等對可靠性要求極高的應(yīng)用場景。
  • 環(huán)保合規(guī):產(chǎn)品無鉛且符合 RoHS 標(biāo)準(zhǔn),符合環(huán)保要求,滿足全球市場的法規(guī)需求。

二、關(guān)鍵參數(shù)解讀

1. 最大額定值

參數(shù) 數(shù)值 單位
漏源電壓 (V_{DSS}) 80 V
柵源電壓 (V_{GS}) - -
連續(xù)漏極電流 (I{D})((T{C}=25^{circ}C)) - A
功率耗散 (P{D})((T{C}=25^{circ}C)) - W
連續(xù)漏極電流 (I{D})((T{A}=100^{circ}C)) - A
功率耗散 (P{D})((T{A}=100^{circ}C)) 1.9 W
脈沖漏極電流 (I_{DM}) - A
結(jié)溫 (T{J}) 和存儲溫度 (T{stg}) -55 至 175 °C
源極電流(體二極管) (I_{S}) 61 A

需要注意的是,超過最大額定值可能會損壞器件,影響其功能和可靠性。

2. 熱阻參數(shù)

參數(shù) 符號 數(shù)值 單位
結(jié)到殼的穩(wěn)態(tài)熱阻 (R_{JC}) (R_{JC}) 2.0 °C/W
結(jié)到環(huán)境的穩(wěn)態(tài)熱阻 (R_{JA}) (R_{JA}) 39 °C/W

熱阻參數(shù)對于散熱設(shè)計至關(guān)重要,它反映了器件散熱的難易程度。在實際應(yīng)用中,需要根據(jù)熱阻參數(shù)合理設(shè)計散熱方案,確保器件在安全的溫度范圍內(nèi)工作。

3. 電氣特性

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓 (V_{(BR)DSS}):在 (V{GS}=0 V),(I{D}=250 mu A) 時,(V_{(BR)DSS}) 為 80 V,這表明該 MOSFET 能夠承受較高的漏源電壓。
  • 零柵壓漏極電流 (I_{DSS}):在 (V{GS}=0 V),(T{J}=25^{circ}C),(V{DS}=80 V) 時,(I{DSS}) 為 10 (mu A);在 (T{J}=125^{circ}C) 時,(I{DSS}) 為 250 (mu A)。較低的漏極電流有助于減少靜態(tài)功耗。
  • 柵源泄漏電流 (I_{GSS}):在 (V{DS}=0 V),(V{GS}=20 V) 時,(I_{GSS}) 為 100 nA,這表明柵源之間的泄漏電流非常小。

導(dǎo)通特性

  • 導(dǎo)通電阻 (R_{DS(on)}):在 (V{GS}=10 V),(I{D}=10 A) 時,(R{DS(on)}) 典型值為 7.1 mΩ;在 (V{GS}=4.5 V),(I{D}=10 A) 時,(R{DS(on)}) 典型值為 8.9 mΩ,最大值為 11 mΩ。較低的導(dǎo)通電阻能有效降低導(dǎo)通損耗。
  • 閾值電壓 (V_{GS(TH)}):在 (V{GS}=V{DS}),(I{D}=70 mu A) 時,(V{GS(TH)}) 典型值為 1.6 V,最大值為 2.0 V。
  • 正向跨導(dǎo) (g_{FS}):典型值為 64.1 S,反映了 MOSFET 對輸入信號的放大能力。

電荷和電容特性

參數(shù) 符號 測試條件 典型值 單位
輸入電容 (C_{iss}) (C_{iss}) (V{GS}=0 V),(f = 1.0 MHz),(V{DS}=40 V) 1450 pF
反向傳輸電容 (C_{rss}) (C_{rss}) - 10 pF
輸出電容 (C_{oss}) (C_{oss}) - 182 pF
總柵電荷 (Q{G(TOT)})((V{GS}=10 V)) (Q_{G(TOT)}) (V{GS}=10 V),(V{DS}=40 V),(I_{D}=10 A) 26 nC
總柵電荷 (Q{G(TOT)})((V{GS}=4.5 V)) (Q_{G(TOT)}) (V{GS}=4.5 V),(V{DS}=40 V),(I_{D}=10 A) 13 nC
柵源電荷 (Q_{GS}) (Q_{GS}) - 4.0 nC
柵漏電荷 (Q_{GD}) (Q_{GD}) - 4.2 nC

這些電荷和電容參數(shù)對于 MOSFET 的開關(guān)速度和驅(qū)動電路的設(shè)計有重要影響。

開關(guān)特性

在 (V{GS}=4.5 V),(V{DS}=64 V),(I{D}=10 A),(R{G}=2.5 Omega) 的條件下:

  • 開通延遲時間 (t_{d(on)}) 為 9 ns。
  • 關(guān)斷延遲時間 (t_{d(off)}) 為 21 ns。
  • 上升時間 (t_{r}) 為 26 ns。
  • 下降時間 (t_{f}) 為 5 ns。

開關(guān)特性決定了 MOSFET 在開關(guān)過程中的速度和效率,對于高頻開關(guān)應(yīng)用尤為重要。

漏源二極管特性

參數(shù) 測試條件 (T_{J}=25^{circ}C) (T_{J}=125^{circ}C) 單位
正向二極管電壓 (V_{SD}) (V{Gs}=0V),(I{s}=10A) 0.8 - 1.2 0.7 V
反向恢復(fù)時間 (t_{RR}) (V{Gs}=0 V),(dI/dt = 100 A/s),(I{s}=10A) - 37 ns
電荷時間 (t_{a}) - - 22 ns
放電時間 (t_{b}) - - 15 ns
反向恢復(fù)電荷 (Q_{RR}) - - 40 nC

漏源二極管特性對于 MOSFET 在反向?qū)〞r的性能有重要影響。

三、典型特性曲線分析

1. 導(dǎo)通區(qū)域特性

從導(dǎo)通區(qū)域特性曲線(Figure 1)可以看出,不同柵源電壓下,漏極電流隨漏源電壓的變化情況。隨著柵源電壓的增加,漏極電流也相應(yīng)增加,這符合 MOSFET 的工作原理

2. 傳輸特性

傳輸特性曲線(Figure 2)展示了在不同結(jié)溫下,漏極電流隨柵源電壓的變化。結(jié)溫的變化會影響 MOSFET 的導(dǎo)通特性,工程師在設(shè)計時需要考慮結(jié)溫對性能的影響。

3. 導(dǎo)通電阻與柵源電壓和漏極電流的關(guān)系

導(dǎo)通電阻與柵源電壓和漏極電流的關(guān)系曲線(Figure 3 和 Figure 4)表明,導(dǎo)通電阻隨柵源電壓的增加而減小,隨漏極電流的增加而略有增加。這對于選擇合適的柵源電壓和設(shè)計負(fù)載電流具有重要指導(dǎo)意義。

4. 導(dǎo)通電阻隨溫度的變化

導(dǎo)通電阻隨溫度的變化曲線(Figure 5)顯示,導(dǎo)通電阻隨溫度的升高而增大。在高溫環(huán)境下,需要考慮導(dǎo)通電阻增大對電路性能的影響。

5. 漏源泄漏電流與電壓的關(guān)系

漏源泄漏電流與電壓的關(guān)系曲線(Figure 6)表明,在不同結(jié)溫下,漏源泄漏電流隨漏源電壓的變化情況。較低的漏源泄漏電流有助于提高電路的穩(wěn)定性。

6. 電容變化特性

電容變化特性曲線(Figure 7)展示了輸入電容 (C{iss})、反向傳輸電容 (C{rss}) 和輸出電容 (C_{oss}) 隨漏源電壓的變化。電容的變化會影響 MOSFET 的開關(guān)速度和驅(qū)動電路的設(shè)計。

7. 柵源電壓與總柵電荷的關(guān)系

柵源電壓與總柵電荷的關(guān)系曲線(Figure 8)有助于工程師了解柵極驅(qū)動所需的電荷量,從而設(shè)計合適的驅(qū)動電路。

8. 電阻性開關(guān)時間與柵極電阻的關(guān)系

電阻性開關(guān)時間與柵極電阻的關(guān)系曲線(Figure 9)顯示,開關(guān)時間隨柵極電阻的增加而增加。在設(shè)計驅(qū)動電路時,需要合理選擇柵極電阻,以平衡開關(guān)速度和驅(qū)動功耗。

9. 二極管正向電壓與電流的關(guān)系

二極管正向電壓與電流的關(guān)系曲線(Figure 10)展示了在不同結(jié)溫下,二極管正向電壓隨電流的變化情況。這對于了解 MOSFET 內(nèi)部二極管的性能非常重要。

10. 最大額定正向偏置安全工作區(qū)

最大額定正向偏置安全工作區(qū)曲線(Figure 11)定義了 MOSFET 在不同漏源電壓和漏極電流下的安全工作范圍。工程師在設(shè)計電路時,必須確保 MOSFET 的工作點(diǎn)在安全工作區(qū)內(nèi)。

11. 最大漏極電流與雪崩時間的關(guān)系

最大漏極電流與雪崩時間的關(guān)系曲線(Figure 12)顯示了 MOSFET 在雪崩狀態(tài)下的最大漏極電流隨時間的變化。這對于評估 MOSFET 在異常情況下的可靠性非常重要。

12. 熱特性曲線

熱特性曲線(Figure 13)展示了不同占空比下的熱阻隨脈沖時間的變化情況。這對于散熱設(shè)計和熱管理具有重要指導(dǎo)意義。

四、訂購信息

NVTFS6H850NL 有兩種封裝可供選擇:

  • NVTFS6H850NLTAG:采用 WDFN8 3.3x3.3, 0.65P 封裝,無鉛,每卷 1500 個。
  • NVTFS6H850NLWFTAG:采用 WDFNW8 3.3x3.3, 0.65P(Full - Cut 8FL WF)封裝,無鉛且具有可焊側(cè)翼,每卷 1500 個。

五、機(jī)械尺寸與封裝信息

文檔中詳細(xì)給出了 WDFN8 3.3x3.3, 0.65P 和 WDFNW8 3.3x3.3, 0.65P(Full - Cut 8FL WF)兩種封裝的機(jī)械尺寸和外形圖,包括各個尺寸的公差范圍。這些信息對于 PCB 設(shè)計和器件安裝非常重要,工程師需要根據(jù)這些尺寸進(jìn)行合理的布局和布線。

六、總結(jié)與思考

onsemi 的 NVTFS6H850NL N 溝道功率 MOSFET 具有緊湊設(shè)計、低損耗、高可靠性等諸多優(yōu)點(diǎn),適用于各種電源管理和功率轉(zhuǎn)換應(yīng)用。在實際設(shè)計中,工程師需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,合理選擇器件的參數(shù)和封裝,同時要充分考慮熱管理、驅(qū)動電路設(shè)計等方面的問題。例如,如何根據(jù)導(dǎo)通電阻和熱阻參數(shù)設(shè)計散熱方案?如何根據(jù)開關(guān)特性和電荷電容參數(shù)設(shè)計合適的驅(qū)動電路?這些都是需要我們深入思考和研究的問題。希望通過本文的介紹,能幫助電子工程師更好地了解和應(yīng)用 NVTFS6H850NL 這款 MOSFET。

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