Onsemi NVD5C434N N溝道功率MOSFET深度解析
在電子工程師的日常設(shè)計(jì)工作中,MOSFET是一個(gè)經(jīng)常會(huì)用到的關(guān)鍵器件。今天我們就來(lái)深入了解一下Onsemi公司的NVD5C434N N溝道功率MOSFET,看看它有哪些特性和優(yōu)勢(shì)。
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產(chǎn)品概述
NVD5C434N是一款40V、2.1mΩ、163A的N溝道MOSFET。它具有低導(dǎo)通電阻($R{DS(on)}$)和低柵極電荷($Q{G}$)及電容的特點(diǎn),能夠有效降低導(dǎo)通損耗和驅(qū)動(dòng)損耗。而且,該器件通過(guò)了AEC - Q101認(rèn)證,具備PPAP能力,符合Pb - Free、Halogen Free/BFR Free以及RoHS標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)鍵參數(shù)
最大額定值
| 參數(shù) | 符號(hào) | 值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓 | $V_{DSS}$ | 40 | V |
| 柵源電壓 | $V_{GS}$ | 20 | V |
| 連續(xù)漏極電流($T_{C}=25^{circ}C$) | $I_{D}$ | 163 | A |
| 連續(xù)漏極電流($T_{C}=100^{circ}C$) | $I_{D}$ | 115 | A |
| 功率耗散($T_{C}=25^{circ}C$) | $P_{D}$ | 117 | W |
| 功率耗散($T_{C}=100^{circ}C$) | $P_{D}$ | 58 | W |
| 連續(xù)漏極電流($T_{A}=25^{circ}C$) | $I_{D}$ | 26 | A |
| 連續(xù)漏極電流($T_{A}=100^{circ}C$) | $I_{D}$ | 22 | A |
| 功率耗散($T_{A}=25^{circ}C$) | $P_{D}$ | 3.2 | W |
| 功率耗散($T_{A}=100^{circ}C$) | $P_{D}$ | 2.2 | W |
| 脈沖漏極電流($T{A}=25^{circ}C$,$t{p}=10mu s$) | $I_{DM}$ | 900 | A |
| 工作結(jié)溫和存儲(chǔ)溫度范圍 | $T{J}$,$T{stg}$ | - 55 to 175 | $^{circ}C$ |
| 源極電流(體二極管) | $I_{S}$ | 130 | A |
| 單脈沖漏源雪崩能量($T{J}=25^{circ}C$,$I{L(pk)} = 25A$) | $E_{AS}$ | 420 | mJ |
| 焊接用引腳溫度(距外殼1/8英寸,10s) | $T_{L}$ | 260 | $^{circ}C$ |
電氣特性
關(guān)斷特性
- 漏源擊穿電壓$V{(BR)DSS}$:在$V{GS}=0V$,$I_{D}=250mu A$時(shí)為40V。
- 漏源擊穿電壓溫度系數(shù)$V{(BR)DSS}/T{J}$:18mV/$^{circ}C$。
- 零柵壓漏極電流$I{DSS}$:$T{J}=25^{circ}C$時(shí)為10μA,$T_{J}=125^{circ}C$時(shí)為250μA。
- 柵源泄漏電流$I{GSS}$:在$V{DS}=0V$,$V_{GS}=20V$時(shí)為100nA。
導(dǎo)通特性
- 柵極閾值電壓$V{GS(TH)}$:在$V{GS}=V{DS}$,$I{D}=250mu A$時(shí),范圍為2.0 - 4.0V。
- 負(fù)閾值溫度系數(shù)$V{GS(TH)}/T{J}$:7.9mV/$^{circ}C$。
- 漏源導(dǎo)通電阻$R{DS(on)}$:在$V{GS}=10V$,$I_{D}=50A$時(shí),典型值為1.7mΩ,最大值為2.1mΩ。
- 正向跨導(dǎo)$g{fs}$:在$V{DS}=3V$,$I_{D}=50A$時(shí),典型值為155S。
電荷、電容和柵極電阻
- 輸入電容$C{iss}$:在$V{GS}=0V$,$f = 1.0MHz$,$V_{DS}=25V$時(shí)為5400pF。
- 輸出電容$C_{oss}$:3000pF。
- 反向傳輸電容$C_{rss}$:71pF。
- 總柵極電荷$Q{G(TOT)}$:在$V{GS}=10V$,$V{DS}=32V$,$I{D}=50A$時(shí)為80.6nC。
- 閾值柵極電荷$Q_{G(TH)}$:15.2nC。
- 柵源電荷$Q_{GS}$:25.2nC。
- 柵漏電荷$Q_{GD}$:15.4nC。
- 平臺(tái)電壓$V_{GP}$:4.8V。
開(kāi)關(guān)特性
- 開(kāi)啟延遲時(shí)間$t_{d(on)}$:15ns。
- 上升時(shí)間$t{r}$:在$V{GS}=10V$,$V{DS}=32V$,$I{D}=50A$,$R_{G}=2.5Omega$時(shí)為78ns。
- 下降時(shí)間$t_{f}$:14ns。
漏源二極管特性
- 正向二極管電壓$V{SD}$:$T{J}=25^{circ}C$,$V{GS}=0V$,$I{S}=50A$時(shí),范圍為0.8 - 1.2V;$T_{J}=125^{circ}C$時(shí)為0.7V。
- 反向恢復(fù)時(shí)間$t{rr}$:在$V{GS}=0V$,$di{S}/dt = 100A/mu s$,$I{S}=50A$時(shí)為73ns。
- 充電時(shí)間$t_{a}$:36ns。
- 放電時(shí)間$t_{b}$:37ns。
- 電荷$Q_{rr}$:120nC。
典型特性曲線
文檔中給出了多個(gè)典型特性曲線,這些曲線對(duì)于我們了解器件在不同條件下的性能非常有幫助。
- 導(dǎo)通區(qū)域特性曲線:展示了不同柵源電壓下,漏極電流與漏源電壓的關(guān)系。
- 傳輸特性曲線:體現(xiàn)了不同結(jié)溫下,漏極電流與柵源電壓的關(guān)系。
- 導(dǎo)通電阻與柵源電壓曲線:可以看到導(dǎo)通電阻隨柵源電壓的變化情況。
- 導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓曲線:有助于我們分析導(dǎo)通電阻在不同漏極電流和柵極電壓下的變化。
- 導(dǎo)通電阻隨溫度變化曲線:了解導(dǎo)通電阻隨溫度的變化趨勢(shì)。
- 漏源泄漏電流與電壓曲線:展示了漏源泄漏電流與漏源電壓的關(guān)系。
- 電容變化曲線:體現(xiàn)了輸入、輸出和反向傳輸電容隨漏源電壓的變化。
- 柵源與總電荷曲線:有助于分析柵源電荷與總柵極電荷的關(guān)系。
- 電阻性開(kāi)關(guān)時(shí)間變化與柵極電阻曲線:可以看到開(kāi)關(guān)時(shí)間隨柵極電阻的變化情況。
- 二極管正向電壓與電流曲線:了解二極管正向電壓與電流的關(guān)系。
- 最大額定正向偏置安全工作區(qū)曲線:確定器件在不同條件下的安全工作范圍。
- $I_{PEAK}$與雪崩時(shí)間曲線:分析峰值電流與雪崩時(shí)間的關(guān)系。
- 熱特性曲線:展示了不同占空比下熱阻隨脈沖時(shí)間的變化。
封裝與訂購(gòu)信息
NVD5C434N采用DPAK3封裝,訂購(gòu)編號(hào)為NVD5C434NT4G,每卷2500個(gè)。對(duì)于封裝的具體尺寸和引腳分配等信息,文檔中也有詳細(xì)說(shuō)明。在設(shè)計(jì)PCB時(shí),我們需要根據(jù)這些信息來(lái)進(jìn)行布局和布線,以確保器件能夠正常工作。
總結(jié)
Onsemi的NVD5C434N N溝道功率MOSFET憑借其低導(dǎo)通電阻、低柵極電荷和電容等特性,在功率轉(zhuǎn)換等應(yīng)用中具有很大的優(yōu)勢(shì)。通過(guò)對(duì)其各項(xiàng)參數(shù)和典型特性的了解,我們可以更好地將其應(yīng)用到實(shí)際設(shè)計(jì)中。不過(guò),在使用過(guò)程中,我們也需要注意器件的最大額定值,避免超過(guò)其極限參數(shù),以保證器件的可靠性和穩(wěn)定性。各位工程師在實(shí)際應(yīng)用中,不妨多思考如何充分發(fā)揮該器件的優(yōu)勢(shì),同時(shí)避免可能出現(xiàn)的問(wèn)題。你在使用MOSFET時(shí)遇到過(guò)哪些挑戰(zhàn)呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)。
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