探索SCAN90004:四通道LVDS緩沖器/中繼器的卓越性能與應用
在高速數據傳輸的領域中,LVDS(低壓差分信號)技術憑借其低功耗、高抗干擾性和高速率的特點,成為了眾多電子工程師的首選。而今天,我們要深入探討的就是德州儀器(TI)推出的一款四通道LVDS緩沖器/中繼器——SCAN90004,它在提升信號質量和傳輸距離方面有著出色的表現。
文件下載:scan90004.pdf
關鍵特性與優勢
高速數據傳輸
SCAN90004的每個通道最大數據速率可達1.5Gbps,能夠滿足大多數高速數據傳輸的需求。同時,其可配置的預加重功能,可以有效克服有損背板和電纜帶來的ISI(碼間干擾)抖動影響,確保信號的穩定傳輸。
低輸出偏斜和抖動
在高速數據傳輸中,輸出偏斜和抖動是影響信號質量的重要因素。SCAN90004通過優化設計,實現了低輸出偏斜和抖動,保證了數據的準確傳輸。
多種輸入兼容性
該芯片支持LVDS、CML(電流模式邏輯)和LVPECL(低壓正發射極耦合邏輯)等多種輸入信號類型,具有很強的通用性。
集成終端電阻
芯片內部集成了100Ω的輸入和輸出終端電阻,不僅提高了信號性能,還減少了外部元件數量,節省了電路板空間。
高ESD保護
LVDS輸出端具備12kV的ESD(靜電放電)保護能力,增強了芯片的可靠性和穩定性。
測試功能豐富
支持IEEE 1149.1(JTAG)接口和IEEE 1149.6有限能力,還具備故障插入功能,方便工程師進行測試和調試。
低功耗設計
采用單3.3V電源供電,功耗極低,適合工業應用中的低功耗需求。
寬溫度范圍
工作溫度范圍為-40°C至+85°C,能夠適應各種惡劣的工業環境。
小封裝尺寸
采用小尺寸的TQFP封裝,節省了電路板空間,便于布局。
引腳說明
| 引腳名稱 | TQFP引腳編號 | I/O類型 | 描述 |
|---|---|---|---|
| 差分輸入 | |||
| IN0+ | 13 | I, LVDS | 通道0的反相和同相差分輸入 |
| IN0- | 14 | ||
| IN1+ IN1- | 15 16 | I, LVDS | 通道1的反相和同相差分輸入 |
| IN2+ IN2- | 19 20 | I, LVDS | 通道2的反相和同相差分輸入 |
| IN3+ IN3- | 21 22 | I, LVDS | 通道3的反相和同相差分輸入 |
| 差分輸出 | |||
| OUT0+ OUT0- | 48 47 | O, LVDS | 通道0的反相和同相差分輸出 |
| OUT1+ OUT1- | 46 45 | O, LVDS | 通道1的反相和同相差分輸出 |
| OUT2+ OUT2- | 42 41 | O, LVDS | 通道2的反相和同相差分輸出 |
| OUT3+ OUT3- | 40 39 | O, LVDS | 通道3的反相和同相差分輸出 |
| 數字控制接口 | |||
| PWDN | 12 | I, LVTTL | 低電平激活硬件掉電模式 |
| PEM0 PEM1 | 1 2 | I, LVTTL | 預加重控制輸入,用于選擇所有輸出的預加重級別 |
| TDI | 34 | I, LVTTL | 測試數據輸入,支持IEEE 1149.1功能 |
| TDO | 35 | O, LVTTL | 測試數據輸出,支持IEEE 1149.1功能 |
| TMS | 27 | I, LVTTL | 測試模式選擇,支持IEEE 1149.1功能 |
| TCK | 26 | I, LVTTL | 測試時鐘,支持IEEE 1149.1功能 |
| TRST | 25 | I, LVTTL | 測試復位,支持IEEE 1149.1功能 |
| 電源 | |||
| VDD | 3,4,5,7,10,11,28,29,32,33 | I, Power | VDD = 3.3V, ±5% |
| GND | 8,9,17,18,23,24,37,38,43,44 | I, Power | 接地 |
| N/C | 6,30,31,36 | 不連接 |
電氣特性
靜態特性
在LVTTL直流規格方面,芯片的高電平輸入電壓范圍為2.0V至VDD,低電平輸入電壓范圍為GND至0.8V。輸入和輸出電流在不同條件下都控制在較小范圍內,確保了芯片的穩定性。同時,輸入和輸出電容也較小,有利于提高信號的響應速度。
開關特性
LVDS輸出的開關特性表現出色,包括差分低到高和高到低的轉換時間、傳播延遲、脈沖偏斜、通道間偏斜等參數都在合理范圍內。例如,差分低到高和高到低的傳播延遲在2.0ns至3.2ns之間,脈沖偏斜最大為80ps,通道間偏斜最大為125ps。此外,芯片的抖動性能也非常優秀,隨機抖動在1.1psrms至1.5psrms之間,確定性抖動在不同模式下也有較好的表現。
功能描述
內部終端
SCAN90004在輸入和輸出端都集成了100Ω的終端電阻,能夠有效減少近端串擾(NEXT)的影響,提高信號完整性。同時,這種集成設計也減少了外部元件數量,節省了電路板空間。
輸出特性
該芯片的輸出特性針對點對點背板和電纜應用進行了優化,不適合多點或多分支信號傳輸。在實際應用中,需要根據具體需求選擇合適的傳輸方式。
掉電模式
通過PWDN輸入引腳可以激活硬件掉電模式。在掉電模式下,所有輸入和輸出緩沖器以及內部偏置電路都將關閉,輸出處于三態。需要注意的是,在退出掉電模式時,可能會有一定的延遲,這與帶隙參考和輸入/輸出緩沖電路的開啟有關。
預加重功能
| 預加重功能可以顯著減少長距離或有損傳輸介質帶來的ISI抖動。通過PEM0和PEM1兩個引腳,可以選擇四種預加重級別:關閉、低、中、高。具體的選擇如下表所示: | PEM1 | PEM0 | 預加重 |
|---|---|---|---|
| 0 | 0 | 關閉 | |
| 0 | 1 | 低 | |
| 1 | 0 | 中 | |
| 1 | 1 | 高 |
輸入故障安全偏置
如果下游接收器在源處于三態、斷電或移除時仍處于開啟和啟用狀態,建議考慮對LVDS鏈路進行故障安全偏置。可以通過在輸出端連接一個1kΩ到地的下拉電阻,或者使用外部故障安全網絡來實現。
測試功能
IEEE 1149.1(JTAG)支持
SCAN90004支持完全符合IEEE 1149.1標準的接口,通過測試訪問端口(TAP)可以對每個LVTTL I/O上的邊界掃描單元進行測試,方便進行互連測試。
IEEE 1149.6支持
對于高速差分(包括交流耦合)網絡的測試,傳統的IEEE 1149.1技術可能無法滿足需求。SCAN90004集成了相關電路,支持對所有差分輸入和輸出進行交流耦合測試,但測試能力有限。具體的支持程度需要在目標應用中使用適當的JTAG軟件進行測試來確定。
故障插入
故障插入是一種用于輔助診斷軟件驗證和調試的技術。在SCAN90004中,可以通過IEEE 1149.1的“固定”指令在任何引腳或引腳組合上創建固定狀態(高或低),幫助驗證監測軟件是否能夠檢測和診斷這些故障。
應用信息
輸入接口
SCAN90004可以接受差分信號,并支持簡單的交流或直流耦合。由于其具有較寬的共模范圍,因此可以與所有常見的差分驅動器(如LVPECL、LVDS、CML)進行直流耦合。以下是典型的直流耦合接口示例:

輸出接口
SCAN90004的輸出信號符合LVDS標準,可以與大多數常見的差分接收器進行直流耦合。在實際應用中,建議在實施接口之前檢查接收器的數據手冊,確保其共模輸入范圍能夠適應LVDS信號。以下是典型的直流耦合接口示例:

典型性能特性
通過一些典型的性能測試圖表,我們可以更直觀地了解SCAN90004的性能表現。例如,在運行時鐘或PRBS 23 - 1模式時,動態電源電流的測量結果可以反映芯片的功耗情況;在不同條件下測量的總抖動結果可以展示芯片的抖動性能。
封裝信息
SCAN90004采用TQFP(PFB)封裝,引腳數為48。有兩種可訂購的部件編號:SCAN90004TVS/NOPB和SCAN90004TVS/NOPB.A,它們的主要參數基本相同,包括工作溫度范圍為-40°C至+85°C,MSL等級為3級,峰值回流溫度為260°C等。
總結
SCAN90004作為一款高性能的四通道LVDS緩沖器/中繼器,具有高速數據傳輸、低功耗、低抖動、豐富的測試功能等眾多優點。在工業控制、通信、醫療等領域的高速數據傳輸應用中,它能夠提供穩定可靠的信號傳輸解決方案。電子工程師在設計相關電路時,可以充分利用其特性,提高系統的性能和可靠性。同時,在實際應用中,還需要根據具體需求進行合理的配置和調試,以達到最佳的效果。你在使用類似芯片時遇到過哪些問題呢?歡迎在評論區分享你的經驗和見解。
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