一前言

在EMI(電磁干擾)整改的歷程中，當(dāng)我們針對(duì)某一系列產(chǎn)品完成了多個(gè)項(xiàng)目的整改后，面對(duì)該系列中某款產(chǎn)品的測(cè)試數(shù)據(jù)異常，通常能夠較為準(zhǔn)確地預(yù)判其可能的問(wèn)題所在。然而，這并不意味著所有情況都能如此直接判斷。EMI問(wèn)題的根源復(fù)雜多樣，不僅限于產(chǎn)品的PCB(印刷電路板)設(shè)計(jì)缺陷。

實(shí)際上，產(chǎn)品的物理結(jié)構(gòu)以及測(cè)試時(shí)的擺放方式同樣會(huì)對(duì)EMI測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生顯著影響。因此，在進(jìn)行EMI問(wèn)題排查時(shí)，我們需要采取更為全面和細(xì)致的策略，以應(yīng)對(duì)這些多元化的挑戰(zhàn)。

二案例分享

今天分享的是一款脫毛儀產(chǎn)品的整改過(guò)程，下面是該產(chǎn)品的EMI測(cè)試摸底數(shù)據(jù)，如下圖：

摸底數(shù)據(jù)垂直方向圖(1)

摸底數(shù)據(jù)水平方向圖(2)

【分析】：

從測(cè)試的摸底數(shù)據(jù)來(lái)看，在150MHz-250MHz分布著有規(guī)律間隔的尖峰單支，這從以往對(duì)脫毛儀整改的經(jīng)驗(yàn)來(lái)看，可以基本判定為觸摸方案通過(guò)觸摸數(shù)據(jù)線輻射出來(lái)的噪聲數(shù)據(jù)。

【整改措施】：

把觸摸數(shù)據(jù)線串的阻容參數(shù)來(lái)改善EMI的測(cè)試噪聲輻射大小。因?yàn)楸緛?lái)產(chǎn)品本來(lái)就有阻容，所以嘗試著修改觸摸采用的阻容參數(shù)再進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證，修改位置如下圖：

修改觸摸數(shù)據(jù)線的阻容參數(shù)位置圖(3)

修改完后測(cè)試的數(shù)據(jù)依舊不盡人意，測(cè)試完的數(shù)據(jù)基本和摸底的是差不多的，雖然之后也嘗試了多組其他的參數(shù)，但測(cè)試結(jié)果都是一樣的。

【分析】：

在這種情況下，我覺(jué)得應(yīng)該是觸摸數(shù)據(jù)線的芯片引腳的其他數(shù)據(jù)引腳耦合到數(shù)據(jù)線的噪聲輻射出來(lái)的。

接下來(lái)在這些可能耦合到噪聲的數(shù)據(jù)線上都加了濾波措施，然后繼續(xù)進(jìn)行EMI測(cè)試，測(cè)試的結(jié)果依舊和摸底的數(shù)據(jù)基本一致。最后連觸摸數(shù)據(jù)線都直接斷開(kāi)后測(cè)試，測(cè)試的數(shù)據(jù)還是一樣沒(méi)有改善。

測(cè)試到了這一步我也很疑惑，因?yàn)橹暗漠a(chǎn)品都是通過(guò)這些方法就得以解決的，而這次這些整改措施一點(diǎn)效果都沒(méi)有。

后在對(duì)產(chǎn)品的問(wèn)題點(diǎn)重新排查的過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)在芯片的下方有引出一根走線也有著和測(cè)試數(shù)據(jù)一樣的噪聲頻率。經(jīng)過(guò)與客戶溝通后得知這也是觸摸線，客戶在產(chǎn)品的側(cè)邊也新增加了一個(gè)觸摸功能，該觸摸走線和前面的觸摸走線在芯片的相鄰引腳上，而且沒(méi)有任何濾波測(cè)試。

【整改措施】：

于是在該線上串一個(gè)2K的濾波電阻，如下圖：

紅框位置串2K電阻圖(4)

測(cè)試的結(jié)果如下圖：

整改后EMI測(cè)試數(shù)據(jù)圖(5)

可以看出在150MHz-250MHz分布著有規(guī)律間隔的尖峰單支噪聲數(shù)據(jù)已經(jīng)消失。

三總結(jié)

在EMI整改過(guò)程中，一款產(chǎn)品的多次整改會(huì)讓我們對(duì)該產(chǎn)品的問(wèn)題點(diǎn)無(wú)比的熟悉，但是不是每一次的問(wèn)題點(diǎn)都會(huì)在同一個(gè)位置，產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)和功能修改都有可能引起新的EMI問(wèn)題，所以產(chǎn)品在前期設(shè)計(jì)對(duì)結(jié)構(gòu)和功能修改的評(píng)審格外重要。