光學檢測作為智能制造的關鍵一環，一直以來肩負著工業制造過程中產品質量、精度和性能等方面的重要保證。近年來，更是被廣泛用于消費電子、半導體芯片，汽車零部件等質量檢測中，為制造業從材料分析到生產，再到裝配及失效分析全面賦能，向高質量發展努力轉型。

蔡司代理三本精密儀器獲悉，在即將于上海新國際博覽中心（3月20-22日）舉辦的2024慕尼黑“上海光博會”（LASER WORLD of PHOTONICS CHINA2024）上，「質量」專家蔡司將再度攜一眾質量解決方案重磅登場——屆時，您將領略蔡司最新光學系統復合式檢測解決方案，，顯微分析質量解決方案，連接器無損檢測解決方案，藍光三維光學掃描質量解決方案等。

而更值得期待的是，展會首日，蔡司還將正式發布旗下顯微鏡家族的新品ZEISS Axio Zoom.V16，這款兼具高分辨率與高效率的蔡司數碼顯微鏡究竟將帶來哪些創新？3月20日上午11：00，蔡司展臺W4102，我們將現場為您揭曉，敬請期待！

先劇透現場部分精彩

看點1
復合式質量解決方案 | 電子器材
挑戰：電子領域背板連接器測量挑戰
蔡司解決方案 | O-DETECT 322復合式檢測
高效光學測量 更高檢測效率
全景相機導航 方便編程
軟件系統 功能強大卻簡單易學

看點2
CT檢測質量解決方案 | 電子產品
連接器產業鏈的測量挑戰（從生產到裝配及失效分析）
蔡司解決方案 | ZEISS METROTOM | 生產過程
一臺設備具備多種功能包括但不限于GD&T檢測，失效分析，非破壞性測試
借助孔隙率分析功能優化注塑工藝參數
低使用成本、低維護成本、較小占地面積（1.6㎡）
多工件批量掃描、自動化檢測腳本，有效節約人力和時間

蔡司解決方案 | ZEISS METROTOM + ZEISS INSPECT X-Ray | 裝配及失效分析
在整個測量范圍內具備可追溯的計量精度
ZEISS INSPECT X-Ray 簡便易用，功能強大
無損檢測，無需剖切
ZEISS Metrotom多樣產品序列滿足客戶各種需求
AMMAR 及BHC各類偽影校正功能，顯著提升圖像質量