在進行EMC抗擾度測試時，必須在所有適用的測試頻率下檢查所用射頻功率放大器的線性度。檢查方法如下：

確定產生測試電平所需的功率，包括調制。例如:

• 測試電平:10v /m
• 調制:80% AM, 1 kHz
• 所需場強包括調制:18 V/m

輻射抗干擾校準配置示例

在特定頻率下所需的功率由n點均勻性校準期間測量的校準文件決定(在上面的例子中，均勻面產生18 V/m的功率)。然后對所有頻率點進行如下檢查:

1. 設置信號發生器電平，使放大器提供所需的輸出功率。
2. 將信號發生器電平降低5.1 dB。
3. 放大器的輸出功率至少降低3.1 dB。如果功率下降小于3.1 dB，說明放大器壓縮過遠，不滿足壓縮要求。

通過上述測試，將檢查每個頻率點的放大器是否表現出小于 2 dB 的壓縮，從所需測試電平（包括調制）所需的（最大）功率測量，幅度范圍為 5.1 dB 。作為對照組，1 dB 壓縮點測試需要測量放大器的增益降低 1 dB 的點，即以放大器的“小信號增益”為起點（全功率下典型值為 20 dB），測量在哪個輸出功率下增益降低了 1 dB。這種測量是在更大的幅度范圍內進行的，從而更早地實現了壓縮。

1 dB 方法主要用于電信市場，其中大振幅范圍內的線性度很重要。這與 EMC 測試相反，EMC 測試中唯一相關的一點是放大器在應用放大器的功率點周圍的表現，目的是確保 AM 調制不會失真太多。因此，1db壓縮點對EMC測量的要求過于嚴格。

根據所使用的放大器技術，放大器將表現出“軟”或“硬”壓縮行為。在第一種情況下，放大器將提供很多額外的“可用”功率高于1db壓縮點，而放大器的“硬”壓縮行為通常鎖定僅高于1db壓縮點。特別是具有 GaN 晶體管的放大器會表現出軟壓縮行為。與基于硅和砷化鎵的放大器相比，這種相對較新的晶體管技術的優點是壽命更長、效率更高。