電容作為電路中不可或缺的元器件，在旁路、去耦、濾波、振蕩、同步、調諧等常見電路中擔任著重要作用，也常常在高速電路中扮演者重要角色，在手機，通訊，以及汽車，航空等多種領域，電子設備的電路板上也都可以看到電容的身影，電容的好壞直接影響整個設備的性能。而要保證電子設備的正常工作，并經得起環境和其他因素的考驗，就必須對設備電路板的電子元器件進行可靠性（失效性）測試，電容老化測試則是電路可靠性測試里不可避免的重要環節。

什么是電容老化？

電容老化表現為電容隨時間的減少，通常出現在EIA II類電容器。在用作介電材料的所有鐵電配方中都會發生這種自然且不可避免的現象，并且由于電介質的晶體結構隨溫度和時間的變化而發生。

另外，由鈦酸鋇堿（II，III和IV類）制成的電容器是鐵電的，因此往往容易老化，其中如果電容器保持電容的能力將在未加熱和/或不帶電狀態下隨時間降低。I類電容器不是鐵電體，因此不會老化。

什么會引起電容老化？

通常電容受過壓，過熱以及電化學腐蝕都會導致電容的老化（電老化和熱老化），因為不管是過壓還是過熱都會讓電容里面電解粒子的流動超乎異常的活躍，從而形成逃逸極板的沖壓，直接表現為電容充放電的時間會很短，甚至會被擊穿，造成電解質的泄露而固化造成短路，電容失效。

在設備運行的過程中，長期過電壓運行、電容器內部局部放電，都會導致電力電容器電老化的發生，造成極其嚴重的后果。為了保障電力電容器長久安全運行，應避免電容器長期過電壓運行。而導致電容熱老化的因素有很多，例如電容器長期過電流運行、電容器環境溫度過高、電網存在諧波等因素，都會導致電力電容器出現熱老化。為了保障電容器的運行，企業可以采用諧波治理裝置、禁止電容器長期過電流、過溫運行等方式，避免其出現熱老化。

電容老化有哪些危害？

電容出現電老化，將會對絕緣介質產生影響，導致電容器的使用壽命大幅度縮短。如果電老化特別嚴重的話，電容將會出現損壞，影響整個設備的性能，甚至造成設備失效。和電老化一樣，電容器的熱老化也會影響其使用壽命。當電容器熱老化十分嚴重時，電容器可能會出現電容器外殼膨脹變形等故障，甚至出現電容爆炸事故。

虹科萬片電容測試系統助力電容失效性批量測試

電容的老化不可避免，因此更需要對電容的可靠性進行測試。無論是元器件生產商進行批量的電容失效性測試（國標測試），還是涉及到產品電路中大量電容的可靠性測試，這個測試環節都對于元器件和產品的品控和質量都十分重要。通常對于電容器的測試，工程師們往往習慣直接通過萬用表去判斷電容器是否漏電和擊穿，但由于無法模擬溫濕度和電壓條件，且考慮到開發成本和測試數量，往往難以對其可靠性進行判斷。批量的電容測試系統成為了電容材料生產商和需要用到大量電容的廠家的急需品。

廣州虹科電子科技有限公司十幾年來一直深耕于測試測量領域，針對大批量電容的失效性分析測試針對性地推出了虹科電容測試系統。設備通過給電容施加電壓，同時施加高溫和高濕的環境，來加速電容的老化，測試電容的可靠性。系統采用模塊化設計，支持通道擴展，并且針對每一個電流通道都單獨實現監測和控制斷開的功能，保證系統在其中某一個電容失效（短路）的時候不影響其他的通道。

虹科電容測試系統適合進行大規模的測試，一次的測試容量可達幾萬片，因此采用了多電源供電的方式，可選的電源擴展規模，能支持多路電源，即在一次測試中可以配置不同的通道供電電壓不同，從而實現了同一次長時間加熱加濕的過程中測試多種規格的電容，極大提升測試效率。
系統功能

1. 系統主要用于電容的老化測試。
2. 系統提供高低溫和濕度環境。
3. 系統支持一次測試中提供多組可調電壓值，且每一路電壓可以程控輸入到任意一組電容上。
4. 系統可以實現對每一路的電流進行監控，當電容失效電流超限時可報警或者自動斷開該路，不影響其他路的測試。
5. 電流監控可以自定義閾值。
6. 系統配備LED面板，試試顯示每一路的失效情況。
7. 系統預留TCP通訊接口，可以實現通過TCP遠程控制和獲取測試數據。
8. 系統可以自動化測試并且生成測試報告。
9. 系統配備高阻儀，可以檢測檢測每一路的電容對應的阻值。
10. 測試通道可擴展，能達到一次2000+通道和四萬片以上電容的老化失效測試，極大提升測試效率。

系統組成

為了達到靈活的電源配置，我們采用了基于LXI的大規模矩陣，可以實現電源和測試設備到電容組的任意路由，同時采用了虹科電流監控模塊，可以同時監測上千個通路的電流，并且實現閾值的自定義和自動切斷NG短路的被測件，保證系統在有短路的情況下仍然可以正常運行測試。