如果使用傳統的示波器，一般使用疊加顯示波形功能。疊加顯示功能可以盡可能利用示波器的垂直分辨率，使測試波形占據整個屏幕，觀察波形的細節。然而，當您需要同時觀察兩個或兩個以上的信號時，多個波形將疊加在一起。一些工程師選擇縮小波形，分別占據顯示區域的一部分進行觀測，以便同時觀察而不相互干擾，這將導致整個示波器的垂直分辨率降低振幅分辨率。

假設同時觀察兩個信號，波形縮小到理想信號的50%，則分辨率降低到50%左右，如果觀察四個信號，則降低到全屏顯示的25%。

為了解決工程師的這個問題，泰克示波器啟動了分區顯示功能。使用此功能，您可以分割示波器屏幕的顯示區域，每個區域顯示一個通道的波形，以確保每個波形不會干擾，并且不會犧牲其垂直分辨率。

泰克示波器系列采用Tek049芯片，這是泰克最新開發的ASIC(專用集成電路)。它是一個高度集成的系統(SOC)混合信號ASIC，包含4億個晶體管和20億個連接，形成4個內部ADCS(模數轉換器)和集成DSP(數字信號處理器)。

手動光標測試功能(多種光標模式)

光標測試功能是工程師常用的示波器功能。信號的時間差或振幅差可以快速手動測試。大多數工程師將使用光標測試的基本功能，但泰克示波器的高級光標測試功能鮮為人知：

1.利用泰克示波器的光標測試功能，可以測量波形、水平、垂直、水平和垂直，大大擴大了光標測試的應用范圍。例如，選擇波形光標測試可以測試光標1和光標2的水平和垂直參數以及兩個光標參數的變化δ，并且可以設置光標聯動，從而快速方便地比較其他周期波形和初始測試位置的參數。

2.如果選擇波形，可以設置兩個光源來測試不同波形之間的時間順序關系。如圖所示，可以很容易地測試通道1的**個上升邊緣和通道2的第三個上升邊緣之間的時間差。

3.如果選擇水平和垂直模式，可以在水平和垂直模式下指定不同的測試源，以便于測試兩種不同通道波形的水平和垂直關系。

審核編輯黃宇