貼片光耦是一種以光為介質(zhì)傳輸電信號的器件。它的內(nèi)部由發(fā)光二極管和光敏三極管封裝在一起。
貼片光耦的應(yīng)用領(lǐng)域包括電路隔離、直流電機(jī)調(diào)速、照明系統(tǒng)、PWM應(yīng)用、交流電源檢測、磁簧繼電器驅(qū)動(dòng)、開關(guān)電源反饋、電話鈴聲檢測、邏輯接地隔離、邏輯耦合和高頻噪聲抑制。

下面由弗瑞鑫小編向大家介紹貼片光耦的優(yōu)點(diǎn)和如何延長光耦使用壽命!

一、 貼片光耦的優(yōu)點(diǎn)

1.輸入和輸出端子是絕緣的，因此耐壓非常高，通常可以超過1KV。
2.對于單向傳輸，輸入端只能影響輸出端，而輸出端不能影響輸入端。
3.貼片光耦器件的共模抑制比很大，可以很好地抑制干擾，消除噪聲。
4.無觸點(diǎn)，使用壽命長，體積小，耐沖擊。
5.響應(yīng)速度快，時(shí)間常數(shù)通常在毫秒或微秒量級。

二、 如何貼片光耦延長壽命?

1、哪些參數(shù)會(huì)影響貼片光耦的壽命?

貼片光耦

電路設(shè)計(jì)的主要考慮因素之一是預(yù)期壽命，這取決于產(chǎn)品本身和其中包含的單個(gè)組件的壽命。在考慮組件時(shí)，某些組件可能會(huì)完全失效，或者隨著時(shí)間的推移，其性能可能會(huì)下降。對于貼片光耦，CTR性能將隨時(shí)間的延長而降低，具體取決于工作條件。

貼片光耦的使用壽命可能超過幾十年，因此需要使用更嚴(yán)格的條件來加速壓力測試。

對于可靠性測試而言，縮短壓力測試時(shí)間并預(yù)測正常使用條件下的最終壽命是非常有意義的。當(dāng)貼片光耦在更高的溫度和電流下測試時(shí)，器件的老化過程比正常工作條件下的老化過程快得多。

CTR的老化速率取決于操作期間的正向電流IF和環(huán)境溫度TA。應(yīng)注意，通過降低LED的工作溫度和驅(qū)動(dòng)正向電流，可以減緩CTR的老化。

貼片光耦

圖1：正向電流與預(yù)期CTR老化率和工作時(shí)間之間的關(guān)系。現(xiàn)場工作參數(shù)：100%占空比、80℃環(huán)境溫度和正向電流如圖所示。壓力測試參數(shù)：1000小時(shí)測試、110℃測試溫度、30 mA正向電流。

貼片光耦

圖2：溫度與預(yù)期CTR老化率和工作時(shí)間之間的關(guān)系。現(xiàn)場工作參數(shù)：100%占空比，5 mA正向電流，環(huán)境溫度如圖所示。壓力測試參數(shù)：1000小時(shí)測試，110℃測試溫度，30 mA正向電流。

2、如何延長貼片光耦的使用壽命

根據(jù)以上可靠性數(shù)據(jù)，我們建議采用以下方法延長貼片光耦的使用壽命：
1.減少貼片光耦有效工作時(shí)間
2.降低LED二極管的工作電流和功耗
3.避免LED出現(xiàn)峰值瞬態(tài)電流
4.調(diào)整LED的占空比以保持較低的平均電流

審核編輯黃宇