電路特性分析測試的簡單介紹
用于諸如放大器、混頻器和濾波器等電路的晶圓級測量的測試系統的規范化會頗具挑戰性，特別是當單個晶圓可容納多種電路類型時，為驗證這些結構所需進行的測試是廣泛且復雜的，包括 S 參數、DC 參數、噪聲指數、增益壓縮和互調失真。測量和校準準確度是至關重要的，尤其是在必須使多個流程之間的測試相互吻合的場合。
MeasureOne 優勢
- 有保證的系統配置、安裝和支持
- 準確和可重復的晶圓級產品特性分析
- 經過預先驗證的系統配置
- 按照規定的驗收標準進行安裝
- 由專門的聯系人提供客戶支持
- 由解決方案專家幫助實現優化
解決方案組件
- Cascade 200 mm或300 mm半自動探針臺系統，WinCal XE校準軟件，Infinity探針和ISS標準校準片
- Keysight Technologies PNA 或 PNA-X、B1500A、WaferPro-XP、IC-CAP 軟件和 DC 功率分析儀
審核編輯：符乾江
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