據麥姆斯咨詢報道，意法半導體（STMicroelectronics）近日推出一款高精度、低功耗的雙軸數字測斜儀：IIS2ICLX，主要應用于工業自動化和結構健康監測[注]等領域。IIS2ICLX具有可編程的機器學習內核和16個獨立的可編程有限狀態機，有助于邊緣設備節能省電，減少向云端傳輸的數據量。

注：結構健康監測：利用傳感器技術連續篩查道路、橋梁、隧道等建筑工程和基礎設施的結構健康狀況。

憑借其先進的嵌入式功能，IIS2ICLX降低了系統功耗，延長了電池供電節點的續航時間。該數字測斜儀的固有特性可簡化與高性能產品的集成，同時最大程度地減少傳感器校準工作和成本。

IIS2ICLX采用MEMS加速度計技術，具有±0.5 / ±1 / ±2 / ±3g的可選滿量程，并通過I2C或SPI數字接口輸出數據。嵌入式補償單元使溫度漂移保持在0.075mg/°C以內，即使環境溫度發生劇烈波動，傳感器的測量精度和重復性也非常出色。15μg/√Hz的超低噪聲密度可實現高分辨率傾角監測以及結構健康監測所需的低幅值、低頻振動感測。

IIS2ICLX具有高穩定性、可重復性、高精度和高分辨率等優點，特別適合工業應用，例如天線指向監測、云臺調平、叉車和建筑機械、調平儀器、設備安裝監測、太陽能板安裝和光線跟蹤，以及“工業4.0”應用，例如機器人和自動導引車（AGV）。

在結構健康監測中，IIS2ICLX可以準確地測量傾斜度和振動，幫助評估人員分析高樓等高聳建筑物、橋梁或隧道等基礎設施的結構完整性。與采用早期的較昂貴的結構健康監測傳感器相比，基于MEMS技術的IIS2ICLX價格適中，能夠滿足對更多結構進行安全監測的需求。

許多高精度測斜儀都是單軸測量設備，而基于2軸MEMS加速度計的IIS2ICLX則可以檢測兩個坐標軸與水平面的傾斜角（俯仰角和翻轉角），或者將兩個坐標軸合并成單軸，測量物體與水平面單一方向的傾斜角，并且可重復測量精度和分辨率更高，可測量±180°范圍內的傾角。IIS2ICLX的數字輸出可以節省外部數模轉換或濾波器件，簡化系統設計，降低物料清單（BOM）成本。

為了簡化IIS2ICLX的應用開發，加快產品上市周期，意法半導體還提供了專門的傳感器校準和傾斜角實時計算軟件庫，這些軟件庫屬于STM32Cube的X-CUBE-MEMS1擴展軟件包。

IIS2ICLX采用高性能陶瓷腔LGA封裝，尺寸為5mm x 5mm x 1.7mm，工作溫度范圍-40℃至+105℃。該產品現已投入批量生產，網上價格為15美元/個，可提供樣片。