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半導體分立器件測試系統(tǒng)曲線追蹤測試
一、核心技術(shù)特性 ? 高精度測試能力 ? 電壓測試范圍覆蓋0-3300V(可擴展),分辨率達1mV;電流測試范圍0-2500A,分辨率最低至0.1nA,測試精度控制在0.2%+2LSB 采用脈沖測試法(脈寬300μs-5ms)抑制溫升,結(jié)合Kelvin四線消除接觸電阻誤差,確保大功率器件極限參數(shù)準確性 ? 高效智能化操作 ? 單參數(shù)測試速度達0.5ms/參數(shù),百點I-V曲線生成僅需數(shù)秒 支持自動分檔編程與16Bin分選機對接,量產(chǎn)測試效率達10,000件/小時 ? 全兼容測試范圍 ? 覆蓋硅基器件至第三代