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優可測

優可測是精密測量領域的國產自主品牌,致力為半導體、新能源、3C電子、醫療、刀具、精密光學等行業及高校提供三維測量產品、解決方案及相關服務。

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優可測白光干涉儀

型號: ER320
品牌: Atometrics(優可測)

--- 產品參數 ---

  • 像素 230萬
  • 掃描原理 白光干涉
  • 掃描范圍 5000um
  • 最大掃描速度 400um/s
  • 被測物反射率 0.02%~100%
  • 顯示分辨率 0.001nm
  • RMS重復性 0.005nm

--- 產品詳情 ---

用途:為半導體、光學鏡片、材料、3C消費類電子、醫療、刀具等行業提供納米級別粗糙度、臺階高度、微觀形貌、三維形貌比對、高度、平面尺寸等要素測量。

特點:最高0.03nm精度,業內最快速度,可客制化測量工具和在線測量。

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