国产精品久久久aaaa,日日干夜夜操天天插,亚洲乱熟女香蕉一区二区三区少妇,99精品国产高清一区二区三区,国产成人精品一区二区色戒,久久久国产精品成人免费,亚洲精品毛片久久久久,99久久婷婷国产综合精品电影,国产一区二区三区任你鲁

企業號介紹

全部
  • 全部
  • 產品
  • 方案
  • 文章
  • 資料
  • 企業

漢通達

開發、生產計算機軟硬件，開發電子測控儀器儀表及配套機械設備，以及批發、零售和售后服務。

193 內容數 44w+ 瀏覽量 210 粉絲

100M動態數字功能板卡（Timing，PPMU）

型號： UI-X6920

--- 產品參數 ---

  • 型號 X6920
  • 時鐘速率 5kHz ~100 MHz
  • 通道數 32 pins (通過級聯最高可達512 pins)
  • Pattern內存 64M/每通道
  • Sequence內存 64M/每通道
  • 并行測試能力 Any pin to any site
  • Timing Gen 4 phases, 4 windows; 可任意定義DIO
  • Timing Set 64個Timing Sets，4個phases, 4個win
  • Rate Setti 1ns; 采用125Mhz主時鐘
  • Clocks per 1 to 255

--- 數據手冊 ---

PXI-X6920.pdf

--- 產品詳情 ---

Demo板       UI-X6920是個高密度高速100MHz的PXI數字板， 是個特有的專業性板卡，專業面對數字類的測試, 能用來測試大量的數字混合芯片.        板卡有一個Sequencer Pattern Generator ，功能上類似于一個32通道的ATE測試機. 它可以通過擴展的方式擴展到512通道. 每個pin有1ns的沿精度，每個pin都有pmu，能夠進行DC/AC參數測試。

      Each每個數字通道都是獨立可編程的，支持 drive hi, drive lo, sense hi, sense lo, and load value. 另外，每個通道的PMU功能，可以支持DUT (device under test)的DC并測      UI-X6920支持大容量的pattern memory，每個pin有64 Mb的容量，可以用于動態采集. 板卡支持激勵/響應和實時比較模式的工作模式，可以通過自帶的大容量test pattern完成最大的測試效率 。

      UI-X6920的timing generator支持4個timing phases和 4個windows，可以獨立進行drive和sense. 每個phase和 window包括2個timing沿assert/deassert和一個獨立的open window/close window. 這4個phases和windows能用于指定通道的edge timing功能. 每個phase/window有64個獨立的time set ，每個sequence都可以獨立自定義. 另外，支持多種數據格式, 包括NRZ,R0, RZ,RC ,SBC. 這些數據格式可以指定不同的通道. 

     板卡采用per pin per site的架構, 具有ATE的功能測試能力,同時支持豐富的軟件開發,UI-X6920數字IO板卡能給大部分用戶在芯片測試上帶來的成本優勢，該板卡可以和其他PXI板卡一起配合使用，組成PXI的測試解決方案，例如RF，SMU和Mixed-signal cards等，能夠針對大量的芯片測試應用，例如 MCU, Sensors, RF ICs,  PMICs,和多功能IC等 。

特點：標準PXI總線產品； 100MHz 測試速率 32個I/O通道，每通道PMU  系統可擴展至512通道 drive/sense量程從-1.5V到+6.5V 任意pin可設任意site 每通道Per-pin timing功能，輸入輸出雙向功能 通道DC功能和PMU功能 64個timing sets具有timing動態變換功能 每通道64Mb內存 支持Windows7/10操作系統 支持LabView和LabWindows 支持主/從架構通信模式 

目標應用： 半導體測試 ASIC測試 高速測試/發送期望對比測試/ 仿真測試 ATE 數字測試 LED/激光二極管 太陽能電池 晶體管 汽車測試 航空航天 功率器件 

 

Demo板 
 PXI 平臺 
     數字IO卡  X6920

      

 X6320 SMU (可選) 

為你推薦

  • UI-7110 六位半數字多用表2022-06-02 09:35

    產品型號：UI-7110 直流電壓：100mV~1000V 直流電流：100μA -10A 交流電壓：100mV~750V (3Hz-300kHz) 交流電流：100μA~10A(3Hz-10kHz) 電阻：10Ω -100MΩ

  • 源測量單元板卡（4通道SMU功能板卡）2022-06-01 15:32

    產品型號：UI-X6330 輸出通道數(DACs：4 上電后繼電器狀態：全通道關閉 工作溫度：0 °C to +55 °C 存儲溫度：-20 °C to +70 °C 尺寸：3U

  • 源測量單元板卡（4通道SMU功能板卡）2022-05-31 15:23

    產品型號：UI-X6320 輸出通道數(DACs：4 上電后繼電器狀態：全通道關閉 工作溫度：0 °C to +55 °C 存儲溫度：-20 °C to +70 °C 尺寸：3U

  • 100M動態數字功能板卡（Timing，PPMU）2022-05-25 15:12

    產品型號：UI-X6920 型號：X6920 時鐘速率：5kHz ~100 MHz 通道數：32 pins (通過級聯最高可達512 pins) Pattern內存：64M/每通道 Sequence內存：64M/每通道

  • MEMS芯片測試板卡2022-02-21 15:14

    產品型號：UI-X6220 時針速率：10MHz（最大） 通道數：32pins?card 驅動電流：正負32mA DC（最大） 電壓精度：16bits 電壓量程：-1V到+10V

  • 100M動態數字功能板卡（Timing，PPMU）2022-02-21 11:29

    產品型號：UI-X6920 時針速率：5KHz~100MHz 通道數：32pins Pattern內存：64M/每通道 Sequence：64M/每通道 并行測試能力：Any pin to any site

  • MEMS芯片測試系統2021-12-13 17:15

    產品型號：UI300系列MEMS傳感器測試機 Pin Channe：32~224pin (支持多板卡擴展) Test Rate：10MHz PMU：PMU per channel/16bit DPS：-1V~+10V per site; 512mA MAX Rang：2UA,8UA,32UA,128UA,512UA,2MA,8

  • MEMS芯片測試板卡2021-12-08 14:49

    產品型號：UI-X6220 時鐘速率：10MHz（最大） 通道數：32pins/card 電壓量程：-1V到正負10V 驅動電流：正負32mA DC（最大） 電壓精度：16bits

  • BMS測試系統2021-12-02 10:58

    產品型號：UI120C系列 集成電池管理系統自動測試系統 單體電壓：0.1-5V 電壓輸出精度：正負1mV 步進精度：<0.5mA 隔離電壓：正負750V 安全保護：短路保護，極性反轉保護，過熱保護，多通道互鎖結構

  • BMS測試產品2021-12-02 10:47

    產品型號：UI100E 系列 鋰電池模擬模塊 電池仿真通道：16 單體電壓：1.3V-5V 電壓輸出精度：正負1mV 電壓回讀精度：正負1mV 電壓輸出步進：0.15mV

  • 揭秘芯片測試：如何驗證數十億個晶體管2026-03-06 10:03

    微觀世界的“體檢”難題在一枚比指甲蓋還小的芯片中，集成了數十億甚至上百億個晶體管，例如NVIDIA的H100GPU包含800億個晶體管。要如何確定每一個晶體管都在正常工作？這是一個超乎想象的復雜工程。如果讓人類拿著顯微鏡一個接一個地檢查，測試一顆芯片可能需要數百年。然而在現代工廠中，這必須在幾秒鐘內完成。這就是可測性設計（DFT,DesignforTesta

  • 芯片DFT Scan測試原理2026-02-27 10:05

    在芯片制造過程中，可能會引入物理缺陷，這些缺陷在電氣層面的表現稱為故障。常見的故障模型包括固定型故障（例如引腳固定連接到電源或地）、跳變故障、路徑延時故障（如門級端口信號上升下降過慢）、以及靜態電流型故障（表現為異常高電流泄漏）。若某個故障能在電路中向后傳播并導致芯片輸出與預期不符，則稱為失效。值得注意的是，并非所有故障都會引發失效，只有那些最終影響到功能正
    165瀏覽量

  • 超全的芯片測試原理講解2026-02-13 10:01

    做芯片測試的同學經常會涉及到Continuity測試、Leakage測試、GPIOdrivecapability測試、GPIOpullup/pulldownresistor測試、standbyidd、runidd、IDDQ、MBIST、SCAN等測試，小編在此帶大家總結一下這些測試的基本原理。Continuity測試（即OS測試）該測試主要是測試芯片的ope

  • 半導體通用測試文件標準STDF介紹2026-02-06 10:02

    對于半導體測試特別是集成了復雜IP的芯片，要完整記錄各項DC,AC,功能性測試等等生成的龐大數據，還要和芯片的生產批次，生成時間，測試機臺等信息組合起來，那不能無序簡單地堆砌成一個文件了事。這樣會造成后期解析分析非常困難。同時考慮到各個EDA大廠生成的測試pattern的格式不同，ATE的解析和測試結果的生成格式不同。那在生產環境可能就有多種組合產生，如果你

  • 半導體行業知識專題九：半導體測試設備深度報告2026-01-23 10:03

    （一）測試設備貫穿半導體制造全流程半導體測試設備是集成電路產業鏈核心裝備，涵蓋晶圓測試、封裝測試及功能驗證等環節。半導體測試設備貫穿于集成電路制造的全生命周期，且因半導體生產流程極其復雜，為了防止壞品流入下一道高成本工序，測試必須分段進行，主要在晶圓制造后的CP測試與封裝后的FT測試兩大核心環節發揮決定性作用：CP測試（CircuitProbing/Wafe

  • 半導體測試制程介紹2026-01-16 10:04

    半導體產品的附加價值高、制造成本高，且產品的性能對于日后其用于最終電子商品的功能有關鍵性的影響。因此，在半導體的生產過程中的每個階段，對于所生產的半導體IC產品，都有著層層的測試及檢驗來為產品的質量作把關。然而一般所指的半導體測試則是指晶圓制造與IC封裝之后，以檢測晶圓及封裝后IC的電信功能與外觀而存在的測試制程。以下即針對「半導體測試制程」中之各項制程技術

  • 芯片可靠性（RE）性能測試與失效機理分析2026-01-09 10:02

    2025年9月，國家市場監督管理總局發布了六項半導體可靠性測試國家標準，為中國芯片產業的質量基石奠定了技術規范。在全球芯片競爭進入白熱化的今天，可靠性已成為衡量半導體產品核心價值的關鍵指標。01芯片的“健康指標”：半導體可靠性的本質半導體可靠性（RE）指的是芯片在規定條件和時間內，持續保持其預定功能的能力。這不僅僅是“能用”，而是在各種復雜環境下“穩定可靠地

  • 半導體測試，是“下一個前沿”2025-12-26 10:02

    本文由半導體產業縱橫（ID：ICVIEWS）編譯自3dincites利用人工智能進行半導體測試創新，將能夠共享與良率、覆蓋率和成本息息相關的真實數據。雖然人工智能在半導體設計和制造領域取得了重大進展，但半導體測試是“下一個前沿”，它是設計與制造之間的橋梁，解決了傳統分離領域之間模糊的界限。更具體地說，通過連接設計和制造，測試可以幫助產品和芯片公司更快地生產出

  • 過零檢測電路，有點意思~2025-12-19 10:01

    整體原理圖先說阻容降壓部分，R8、C2、D2、D3、ZD1、ZD2構成常見阻容降壓電路，交流電經過半波整流阻容降壓后，在兩個穩壓管ZD1、ZD2兩端形成11.2V左右的直流電壓（這個電壓是提供給后面的12V繼電器使用的）。阻容降壓電路交流電的正負半周的電流流向分別如下：交流電正半周電流流向交流電負半周電流流向負半周時，D2為C2提供交流通路，D3起到隔離單向

  • 我就是那個32歲還在點點點的測試狗！2025-12-12 10:02

    2019年入行，如果你問我有沒有后悔選測試這條路，說實話，有也沒有。工作前兩年我幾乎是在混日子，完全沒方向，機械點點點、提bug，和現在剛入行的新人沒太大差別。那個階段沒有成長、也沒思考，腦子里沒有職業規劃，甚至連“測試到底是干什么”都說不清。直到第三年，一個項目出了重大線上問題，我被拉去參與復盤。那次我第一次意識到：“測試，不只是找bug，而是保障質量的最
    279瀏覽量

  • MEMS傳感器轉臺測試設備2021-12-13 15:30

    聯合儀器MEMS測試系統UI320采用測試機加轉臺的構架，是對MEMS陀螺儀和加速度計的測試平臺。可對MEMS傳感器芯片進行測試，支持I2C/SPI的通訊方式，提供免費的開源軟件底層API基于C開發，支持VC,VC++，labview等。