国产精品久久久aaaa,日日干夜夜操天天插,亚洲乱熟女香蕉一区二区三区少妇,99精品国产高清一区二区三区,国产成人精品一区二区色戒,久久久国产精品成人免费,亚洲精品毛片久久久久,99久久婷婷国产综合精品电影,国产一区二区三区任你鲁

企業號介紹

全部
  • 全部
  • 產品
  • 方案
  • 文章
  • 資料
  • 企業

SPEA

SPEA成立于1976年，注于于電路板和電路模塊檢測，為半導體IC和 MEMS傳感器設計并制造自動測試設備，提供標準化產品和定制化服務方案

72 內容數 9.1w 瀏覽量 97 粉絲

SPEA DOT800T功率半導體測試設備

型號： DOT800T

--- 產品參數 ---

  • ISO測試 NTC和底板之間的絕緣測試
  • ISO測試 NTC和IGBT間的絕緣測試等
  • AC測試 Qrr – 反向恢復電荷等
  • 功率測試能力 可達 20kV，10kA

--- 產品詳情 ---

SPEA功率器件測試機

SPEA-功率器件測試機-DOT800T

功率半導體器件是實現電能轉換的核心器件，主要用途包括逆變、變頻等，在家用電器、新能源汽車、工業制造、通訊等領域有著廣泛的應用。小型化、集成化、大功率、低功耗是功率半導體的主要發展方向，這些趨勢也對自動化測試設備提出了更高的要求。SPEA長期深耕半導體測試行業，持續探索并突破核心檢測技術，公司出品的DOT800T功率半導體測試儀在檢測速度、精度、動態雜散電感等關鍵性能指標處于全球領先地位。

DOT800T 將一整套的功率測試解決方案整合到了單臺設備之中，提供了在全范圍功率應用中進行 ISO、AC、DC 測試所需的所有資源，從晶圓級到最終產品，均可輕松完成。

 

DOT800T 不但解決了傳統硅電子器件的測試要求，也解決了氮化鎵和氮化硅等新技術帶來的測試要求，覆蓋了這些產品的性能范圍，包括最高電壓和電流源，高頻低電流測量等需求。

 

單套測試平臺即可覆蓋全范圍功率應用

ISO測試資源

  • 高達 12kV/10mA DC
  • 高達 10kV/20mA AC
  • 高電壓安全開關（帶輸出矩陣）用于限制放電電流，確保測試儀在任何情況下都保證安全

 

AC測試資源

  • 高達 6kV，高達3kA
  • 電流短路測試，高達10kA
  • 最多 8 個可獨立編程的門驅動
  • 2 – 8 個多脈沖
  • 數字化儀的取樣率可達10GS/s 取樣率
  •  

 

DC測試資源

  • 中等功率V/I 資源（±100V、±2A，最高可達16A），配備 8 臺驅動和 8 個數字化儀，各自完全浮動和互相獨立
  • 高電壓發生器發生能力高達20kV
  • 高電流發生器可發生高達4kA 脈沖電流，配有自動斜坡發生器，可縮短測試時間

 

SPEA DOT800T功率半導體測試類型


 

為你推薦

  • SPEA 在線離線ICT測試儀 3030IL 全自動電路板測試設備2023-11-14 17:29

    產品型號：3030IL、3030M、3030R等 設備尺寸：900x970x1737mm 內核數：可達到4核 電阻測量范圍：1mΩ——1GΩ 電感測量范圍：1μH——1H 電感測量范圍：0.5pF——1F

  • 飛針代測-電路板代測-SPEA飛針測試2023-08-17 10:55

    產品型號：4080 應用行業：軍工電子、汽車電子、消費電子、航天航空等 代測項目：器件測試、短路測試、連通性測試、上電測試等 適用電路板：PCBA、PCB、負載板、背板、主板等 代測優勢：降本增效，無需治具成本、省人力、快速獲取測試結果

  • IGBT功率器件測試儀2022-12-12 10:30

    產品型號： DOT800T ISO測試資源：高達12KV/10mA DC ISO測試資源：高達 10kV/20mA AC AC 測試資源：高達 6kV，高達 3kA AC 測試資源：電流短路測試，高達 10kA DC 測試資源：高電壓發生器發生能力高達 20kV

  • SPEA 3030BT桌面型電路板測試機2022-11-15 11:14

    產品型號：3030BT 設備尺寸：466*483*177mm ICT在線測試功能：有 開路測試功能：有 開/短路測試功能：有

  • SPEA 3030C ICT在線測試儀2022-11-14 09:27

    產品型號：3030C 產品類型：針床測試儀 主要功能：ICT、FCT、OBP等 通道-核心：2048-雙核

  • STU200-高G慣性測試設備-mems測試設備|SPEA2022-10-09 14:39

    產品型號：STU200 加速度：-28~+28g 溫度范圍：-50℃~150℃ 頻率范圍：80~120Hz

  • SPEA 4050S2飛針測試儀2022-09-30 09:48

    產品型號：4050S2 測試機接口：384 最小焊點尺寸：80um 測試精度：±40um

  • SPEA 4060S2 飛針測試機2022-09-30 09:25

    產品型號：4060S2 測試機接口：576通道 最小焊點尺寸：80um xyz運動技術：線性電機

  • SPEA 4085飛針測試設備2022-09-28 17:28

    產品型號：4085

  • MEMS麥克風仿真單元2022-09-28 10:27

    產品型號：MCTU300

  • 協同創新 · 生態共建：SPEA高管團隊到訪芯派科技2025-12-11 18:16

    近日，SPEA全球執行副總裁LorenzoBonaria先生、副總裁AndreaFurnari先生、人力資源經理BellinoAndrea先生及中國區總經理孫媛麗女士一行，赴西安芯派科技開展深度考察交流。芯派科技董事長羅義先生熱情接待了SPEA訪問團，雙方圍繞半導體產業發展趨勢、技術合作路徑展開戰略對話，并共同探訪西安高校科，為產學研協同創新注入新動能。在芯
    425瀏覽量

  • SPEA榮獲博世全球供應商獎2025-11-17 15:25

    SPEA榮獲博世全球供應商獎
    1100瀏覽量

  • 聚焦服務 加速擴張 | SPEA菲律賓辦公室盛大開業2025-11-06 16:36

    SPEAproudlyinaugurateditsnewofficeinthePhilippines,markingasignificantstepinstrengtheningitspresenceintheheartofSoutheastAsia’selectronicsmanufacturinghub.SPEA自豪地宣布其在菲律賓的新辦事處正式啟用，這
    860瀏覽量

  • 2025 CHInano 納米游學營到訪SPEA蘇州2025-10-24 11:00

    近日，第十五屆中國國際納米技術產業博覽會（CHInano2025）正在蘇州國際博覽中心火熱舉辦。這場聚焦微納制造、第三代半導體、納米大健康、AI技術應用等前沿領域行業盛會，不僅呈現納米技術領域的最新突破，還為觀眾精心策劃游學活動，搭建起交流學習、協同創新的橋梁。SPEA作為全球MEMS測試領域的領軍企業，很榮幸成為本次游學活動的重要一站。在SPEA蘇州總經理
    632瀏覽量

  • 國際半導體高管峰會（I.S.E.S. China 2025）圓滿收官2025-09-24 17:52

    9月22-23日，國際半導體高管峰會中國站（I.S.E.S.China2025）在上海成功舉辦，為全球半導體產業奉獻了一場思想與智慧交融的年度盛宴。本屆峰會以"重塑半導體產業新高度——創新、可持續與全球變革"為主題，匯聚了包括博世、三安、匯川、安森美、意法半導體在內的近百家全球頂尖企業及行業領袖，共同探討半導體產業的技術突破與可持續發展路徑。SPEA作為功率

  • “深化中國戰略，探索協同發展”SPEA代表團訪問芯派科技2025-09-09 17:50

    SPEANews在全球半導體產業競爭日益激烈的當下，SPEA作為全球領先自動化測試設備廠商堅定不移地扎根中國市場，精準地響應中國客戶需求，持續深化與本土企業的合作，與中國半導體產業同頻共振、攜手共進。近日，SPEA全球副總裁AndreaFurnari、SPEA（蘇州）總經理孫媛麗一行開啟了對西安芯派科技的重要訪問之旅。此次高層會晤旨在深化雙方的交流與合作，共

  • 「研學啟思，實踐賦能」SPEA“追芯逐夢”暑期研學營圓滿落幕2025-08-19 15:57

    8月18日，SPEA蘇州測試培訓服務中心迎來一群朝氣蓬勃的青少年。由SPEA與蘇州工業園區女企業家協會聯合舉辦的"追芯逐夢"研學營正式啟航。10余名初高中學子開啟了自動化測試技術的沉浸式探索之旅。在接待大廳，SPEA負責人結合MEMS傳感器、功率半導體、5G通信、新能源汽車等前沿應用，全面介紹SPEA在自動化測試領域的創新突破及卓越成就，生動詮釋了"科技點亮
    598瀏覽量

  • 逐綠前行向未來 | SPEA順利落成五座光伏電站2025-08-01 11:40

    近日，SPEA總部沃爾皮亞諾工廠順利落成五座光伏電站。這些電站總裝機容量達1131.975千瓦峰（kWp），有望每年產出1.2GWh清潔能源，標志著公司在節能減排、綠色可持續發展方面邁出了重要一步。該項目由CoesaEnergy負責執行，其順利推進得益于歐盟的寶貴支持。項目獲得了“2024年企業能效與可再生能源”（行動II.2i.2“企業能效”）的資助，其中
    696瀏覽量

  • 現代晶圓測試：飛針技術如何降低測試成本與時間2025-07-17 17:36

    半導體器件向更小、更強大且多功能的方向快速演進，對晶圓測試流程提出了前所未有的要求。隨著先進架構和新材料重新定義芯片布局與功能，傳統晶圓測試方法已難以跟上發展步伐。飛針測試技術的發展為晶圓探針測試帶來了重大轉變，針對復雜測試需求提供適應性強且高效的解決方案，同時有利于降低單個芯片的測試成本。本文將解析影響晶圓測試的最新趨勢，并探討飛針測試技術如何改變半導體制

  • SPEA一行走進西郊利物浦太倉芯片學院開展產學研交流2025-06-27 17:27

    近日，SPEA首席企業發展官FabrizioRimondotto攜斯貝亞（蘇州）總經理孫媛麗、副總經理楊葉明一行，拜訪了西郊利物浦大學（以下簡稱“西浦”）太倉校區，與芯片學院陳院長及助理教授Dr.ArjunKumar進行了深入而友好的產學研交流。西浦芯片學院始終緊跟前沿科技行業發展趨勢，不斷優化課程體系，積極推動教育教學與社會實踐的深度融合，致力于培養適應市
    996瀏覽量