金鑒實(shí)驗(yàn)室文章

• 聚焦離子束技術(shù)在TEM樣品制備中的應(yīng)用2025-11-11 15:20

  

  聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡(jiǎn)稱FIB）技術(shù)是一種先進(jìn)的微觀加工與分析手段，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)以及半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域。FIB核心原理是利用離子源產(chǎn)生高能離子束，通常以鎵（Ga）離子為主，部分設(shè)備還配備氦（He）或氖（Ne）離子源。離子束在轟擊樣品時(shí)，會(huì)產(chǎn)生濺射現(xiàn)象，從而實(shí)現(xiàn)材料的精準(zhǔn)去除，同時(shí)通過二次電子信號(hào)獲取樣品的形貌

  fib 顯微鏡 離子束 350瀏覽量

• 電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)與其他衍射技術(shù)的比較2025-11-10 11:12

  

  電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)概述電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是一種在材料科學(xué)領(lǐng)域中用于表征晶體結(jié)構(gòu)的重要方法。它通過分析從樣品表面反射回來的電子的衍射模式，能夠精確地測(cè)量晶體的取向、晶界的角度差異、不同物相的識(shí)別，以及晶體的局部完整性等關(guān)鍵信息。傳統(tǒng)衍射技術(shù)的局限性在EBSD技術(shù)成熟之前，主要依賴X射線衍射（XRD）和中子衍射等宏觀衍射技術(shù)來獲取晶體結(jié)構(gòu)

  晶體 材料 441瀏覽量

• 帶你一文了解聚焦離子束（FIB）加工技術(shù)2025-11-10 11:11

  

  在微觀尺度上進(jìn)行精細(xì)操作是科學(xué)和工程領(lǐng)域長(zhǎng)期面臨的重要挑戰(zhàn)。聚焦離子束（FocusedIonBeam,FIB）加工技術(shù)為解決這一難題提供了有效途徑。該技術(shù)通過將離子束聚焦至納米尺度的束斑，利用離子與樣品表面的相互作用，實(shí)現(xiàn)對(duì)材料的局部刻蝕、沉積以及改性，從而在納米加工領(lǐng)域展現(xiàn)出重要價(jià)值。FIB技術(shù)的基本原理FIB加工技術(shù)的基礎(chǔ)是離子束與物質(zhì)之間的相互作用。該

  fib 離子束 離子源 452瀏覽量

• 你知道散熱設(shè)計(jì)對(duì)LED車燈的重要性嗎？2025-11-10 11:10

  

  LED技術(shù)在汽車照明領(lǐng)域的應(yīng)用隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，LED（發(fā)光二極管）技術(shù)在汽車照明領(lǐng)域的應(yīng)用越來越廣泛。LED模組不僅在高端車型中得到應(yīng)用，也逐漸普及到A級(jí)車和售后市場(chǎng)。LED光源的使用不僅提升了車燈的光學(xué)性能，還因其高效節(jié)能的特性，成為未來發(fā)展的趨勢(shì)。LED車燈的優(yōu)勢(shì)LED燈具有更高的亮度和更好的光束分布，能夠提供更清晰的視野，提高夜間行車的安全性。如需

  led 散熱設(shè)計(jì) 車燈 320瀏覽量

• 如何制備合適的TEM樣品2025-11-07 15:06

  

  在材料科學(xué)與生命科學(xué)的研究中，透射電子顯微鏡（TEM）已成為探索物質(zhì)微觀世界不可或缺的工具。然而，許多科研人員在TEM分析過程中常常遇到圖像質(zhì)量不理想、數(shù)據(jù)解讀困難等問題，其根源往往在于最初的樣品制備階段。不適宜的樣品厚度、差的導(dǎo)電性或制樣過程中引入的損傷，都會(huì)直接導(dǎo)致電子束穿透異常、圖像畸變甚至樣品報(bào)廢。合乎規(guī)范的樣品與恰當(dāng)?shù)闹苽浞椒ㄊ撬蠺EM數(shù)據(jù)可靠性

  TEM 顯微鏡 電子束 391瀏覽量

• EBSD技術(shù)的工作原理、數(shù)據(jù)采集與分辨率能力2025-11-06 12:38

  

  EBSD技術(shù)：材料顯微學(xué)的先進(jìn)工具電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是材料科學(xué)中一種重要的顯微分析技術(shù)。它通過分析高能電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的背散射電子的衍射花樣，獲取樣品的晶體結(jié)構(gòu)、晶粒取向、晶界類型等關(guān)鍵晶體學(xué)信息。作為一種結(jié)合了掃描電子顯微鏡（SEM）與衍射分析功能的高分辨率表征手段，EBSD在材料研究與工業(yè)檢測(cè)中發(fā)揮著越來越重要的作用。EBSD技術(shù)的基

  工業(yè)檢測(cè) 數(shù)據(jù)采集 電子束 412瀏覽量

• 透光率測(cè)定：原理、方法與實(shí)用指南2025-11-06 12:37

  

  在日常生活中，我們隨處可見各種透明或半透明材料——從高樓大廈的玻璃幕墻到手中的手機(jī)屏幕，從汽車的擋風(fēng)玻璃到食品包裝薄膜。這些材料看似相同，實(shí)則透光性能千差萬(wàn)別。透光率，這個(gè)衡量材料透光能力的關(guān)鍵指標(biāo)，直接影響著產(chǎn)品的性能與用戶體驗(yàn)。透光率究竟是什么？透光率是評(píng)價(jià)材料對(duì)光透過能力的重要參數(shù)，簡(jiǎn)單來說，它描述了光線穿過材料后保留了多少能量。當(dāng)光線照射到材料表面時(shí)

  材料 汽車制造 測(cè)定 836瀏覽量

• 一文看懂掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM）2025-11-06 12:36

  

  從最初的光學(xué)顯微鏡到如今的電子顯微鏡，我們觀察微觀世界的能力不斷提升，推動(dòng)了材料科學(xué)、生物學(xué)、半導(dǎo)體技術(shù)等領(lǐng)域的革命性進(jìn)展。本文將講解現(xiàn)代微觀分析的兩大主力工具——掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子顯微鏡（TEM）。為什么選擇電子成像？要理解電子顯微鏡的價(jià)值，我們首先需要明白成像的基本原理。日常生活中我們熟悉的光學(xué)顯微鏡，其分辨能力受到可見光波長(zhǎng)的限制。可見

  SEM TEM 電鏡 1020瀏覽量

• 什么是CDM靜電測(cè)試？2025-11-06 12:35

  

  CDM測(cè)試是一種模擬帶電集成電路自身快速靜電放電的可靠性檢測(cè)方法。一、CDM模型核心概念CDM（帶電設(shè)備模型）是ESD（靜電放電）測(cè)試中的一種關(guān)鍵模型，區(qū)別于HBM（人體模型）和MM（機(jī)器模型）。它專門模擬電子元器件（如芯片）在生產(chǎn)、運(yùn)輸或處理過程中因摩擦等因素自身累積靜電，隨后在接觸接地導(dǎo)體時(shí)發(fā)生的快速放電現(xiàn)象。其最顯著的特征是放電速度極快，電流上升時(shí)間在

  CDM ESD 集成電路 靜電測(cè)試 670瀏覽量

• 電子背散射衍射（EBSD）樣品制備技術(shù)：鋯合金與高碳鋼2025-11-05 14:40

  

  電子背散射衍射樣品制備工藝電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是現(xiàn)代材料微觀結(jié)構(gòu)分析的核心手段之一，通過與掃描電子顯微鏡（SEM）及能譜儀（EDS）的聯(lián)用，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)材料顯微組織、晶體取向、相分布及織構(gòu)等關(guān)鍵信息的定量表征。該技術(shù)分析的準(zhǔn)確性、分辨率及數(shù)據(jù)質(zhì)量，從根本上依賴于樣品表面的制備狀態(tài)。一個(gè)理想的EBSD樣品表面需滿足無(wú)應(yīng)變層、無(wú)劃痕、平整度高且清潔無(wú)污染

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