金鑒實(shí)驗(yàn)室文章

• 車規(guī)級與消費(fèi)級芯片的差異與影響2025-11-27 14:14

  

  車規(guī)級芯片與消費(fèi)級芯片在設(shè)計(jì)目標(biāo)、應(yīng)用場景及性能要求上存在顯著差異，其核心區(qū)別源于各自服務(wù)的產(chǎn)品屬性——汽車領(lǐng)域強(qiáng)調(diào)安全性、可靠性與長生命周期，而消費(fèi)電子則更注重性價(jià)比與短期性能迭代。引言隨著汽車電子化與智能化的快速發(fā)展，車規(guī)級芯片作為汽車電子系統(tǒng)的核心部件，其重要性日益凸顯。盡管消費(fèi)級芯片在性能與成本方面具備一定優(yōu)勢，卻難以滿足汽車行業(yè)對安全性、可靠性及長

  芯片 車規(guī)級芯片 729瀏覽量

• 背散射衍射技術(shù)（EBSD）的應(yīng)用領(lǐng)域2025-11-26 17:13

  

  電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）在材料科學(xué)的研究中，對材料的顯微結(jié)構(gòu)和晶體學(xué)特性的深入理解是至關(guān)重要的。電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）作為一種強(qiáng)大的顯微分析工具，它允許科學(xué)家們在原子尺度上研究材料的晶體取向、晶粒大小、晶界特性以及織構(gòu)等。本文將詳細(xì)介紹EBSD技術(shù)的工作原理、樣品制備過程以及其在材料科學(xué)中的應(yīng)用。EBSD技術(shù)的工作原理EBSD是一種掃描電子顯微

  顯微鏡 材料 810瀏覽量

• LED導(dǎo)電銀膠來料檢驗(yàn)2025-11-26 17:08

  

  導(dǎo)電銀膠是由銀粉填充入基體樹脂形成的具有導(dǎo)熱、導(dǎo)電及粘結(jié)性能的復(fù)合材料。基體樹脂固化后作為導(dǎo)電膠的分子骨架，決定了導(dǎo)電銀膠的力學(xué)性能和粘接性能。銀粉在基體樹脂中形成連結(jié)網(wǎng)絡(luò)從而導(dǎo)電、導(dǎo)熱，但同時(shí)也會(huì)受到基體樹脂的影響。因此，各組分材料的選擇和添加量的確定對導(dǎo)電銀膠的性能影響重大。導(dǎo)電銀膠物理、化學(xué)特性和固晶工藝都對銀膠的粘接、散熱效果發(fā)揮著重要的作用，銀膠的

  led 導(dǎo)電 822瀏覽量

• 如何用FIB技術(shù)定位納米級缺陷？關(guān)鍵操作與案例解析2025-11-26 17:06

  

  FIB技術(shù)以其獨(dú)特的納米級加工能力，在半導(dǎo)體芯片、材料科學(xué)等領(lǐng)域展現(xiàn)出精準(zhǔn)切割、成像和分析的強(qiáng)大功能。樣品制備樣品制備是FIB測試的首要環(huán)節(jié)，其質(zhì)量直接影響最終測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。對于不同類型的樣品，制備要求也各不相同。1.塊狀樣品的尺寸控制一般而言，樣品最大尺寸不應(yīng)超過2cm，高度需控制在3mm以內(nèi)。這種尺寸要求相當(dāng)于將日常物體精確縮小到適合觀察的尺度。過大

  fib 測試 納米級 696瀏覽量

• 氬離子拋光制樣經(jīng)驗(yàn)分享2025-11-25 17:14

  

  氬離子拋光技術(shù)通過電場加速產(chǎn)生的高能氬離子束，在真空環(huán)境下對樣品表面進(jìn)行可控的物理濺射剝離。與傳統(tǒng)機(jī)械制樣方法相比，其核心優(yōu)勢在于：完全避免機(jī)械應(yīng)力導(dǎo)致的樣品損傷，能夠保持材料的原始微觀結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)真正的全局平面化處理，為后續(xù)的SEM、EDS、EBSD等分析提供理想的觀測基底。一、微納米顆粒（針對200μm以下樣品）微納米顆粒樣品，如鋰電池陽極材料等，通常需要

  拋光 電子元器件 584瀏覽量

• 汽車車燈LED車規(guī)級認(rèn)證之AEC-Q1022025-11-25 17:12

  

  LED光源在汽車領(lǐng)域的應(yīng)用日益廣泛，車燈照明、智能系統(tǒng)、盲點(diǎn)偵測等場景均對LED品質(zhì)提出了高要求。因此，眾多LED元器件供貨商紛紛布局車用LED領(lǐng)域，而通過AEC-Q102驗(yàn)證，成為其產(chǎn)品立足車電市場的關(guān)鍵通行證。車規(guī)級的核心定義與標(biāo)準(zhǔn)差異車規(guī)級是適用于汽車電子元件的專屬規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)，其嚴(yán)苛程度可通過與消費(fèi)級、工業(yè)級、軍工級的對比清晰體現(xiàn)：汽車需在戶外高溫、高寒

  led 汽車 認(rèn)證 735瀏覽量

• 透射電鏡（TEM）樣品制備方法2025-11-25 17:10

  

  在材料科學(xué)與生命科學(xué)的研究中，透射電子顯微鏡（TEM）已成為探索微觀世界不可或缺的工具。然而，許多科研人員在TEM分析過程中常常遇到圖像質(zhì)量不理想、數(shù)據(jù)解讀困難的問題，其根源往往不在于儀器操作或分析技術(shù)，而在于實(shí)驗(yàn)的第一步——樣品制備。一、TEM樣品的基本要求1.樣品須為固體，且厚度通常應(yīng)小于100nm；2.在電鏡的電磁環(huán)境中保持穩(wěn)定，不會(huì)被吸附至極靴；3.

  TEM 顯微鏡 電鏡 963瀏覽量

• 聚焦離子束-掃描電鏡（FIB-SEM）的三大應(yīng)用技術(shù)2025-11-24 14:42

  

  聚焦離子束-掃描電鏡（FIB-SEM）雙束系統(tǒng)是現(xiàn)代材料科學(xué)研究中不可或缺的多維表征平臺(tái)。該系統(tǒng)將聚焦離子束的精準(zhǔn)加工能力與掃描電鏡的高分辨率成像功能有機(jī)結(jié)合，為從微觀到納米尺度的材料結(jié)構(gòu)解析提供了完整解決方案。二維樣品制備基礎(chǔ)FIB二維樣品制備通過可控離子濺射實(shí)現(xiàn)材料的定點(diǎn)加工，首先在目標(biāo)區(qū)域沉積鉑/鎢保護(hù)層，隨后采用聚焦離子束進(jìn)行精確定點(diǎn)銑削獲得觀測截面

  fib 掃描電鏡 離子束 416瀏覽量

• 以供應(yīng)商和制造商的視角看AEC-Q認(rèn)證2025-11-24 14:38

  

  在汽車電子行業(yè)中，AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)是確保光電子半導(dǎo)體器件質(zhì)量和可靠性的關(guān)鍵規(guī)范。作為供應(yīng)商和制造商，遵循這一標(biāo)準(zhǔn)不僅是對產(chǎn)品質(zhì)量的嚴(yán)格把控，也是對客戶承諾的象征。AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)的重要性AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)是汽車電子委員會(huì)（AEC）制定的，專門針對光電子半導(dǎo)體器件的一系列測試規(guī)范。這些規(guī)范包括了高溫工作壽命（HTOL）、溫度循環(huán)（TC）、濕熱高濕高低

  AEC 汽車電子 認(rèn)證 623瀏覽量

• 答疑篇：聚焦離子束（FIB）常見問題2025-11-21 20:07

  

  聚焦離子束（FIB）技術(shù)作為材料分析領(lǐng)域的重要工具，已在納米科技、半導(dǎo)體和材料科學(xué)研究中發(fā)揮著不可替代的作用。1.FIB制樣的注意事項(xiàng)有哪些？①首先確定樣品成分是否導(dǎo)電，導(dǎo)電性差的樣品要噴金；②其次FIB的目的，截面看SEM還是TEM；TEM是做普通高分辨還是球差，普通的高分辨減薄厚度比球差要厚一些，最薄可以減薄到十個(gè)nm左右的厚度；③進(jìn)而切割或取樣位置；④

  fib 材料 離子束 483瀏覽量