動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-10-29 14:43

  光電子元器件常見的可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目

  

  光電器件是通過(guò)光與電的相互作用研制出的各種功能設(shè)備，它們能夠?qū)崿F(xiàn)光信號(hào)的產(chǎn)生、調(diào)制、探測(cè)、傳輸、能量分配、能量調(diào)節(jié)、信號(hào)放大以及光電轉(zhuǎn)換等功能。這些設(shè)備主要分為兩大類：光纖通信器件和光電照明器件。1.光纖通信器件光纖通信器件主要應(yīng)用于光通信系統(tǒng)中，實(shí)現(xiàn)光信號(hào)的發(fā)射、傳輸、控制與接收。該類器件可進(jìn)一步劃分為光有源器件與光無(wú)源器件。光有源器件：例如激光器、光收發(fā)

  元器件 光電子 可靠性試驗(yàn) 高溫

  304瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-10-29 14:41

  氬離子的拋光與切割技術(shù)

  

  氬離子拋光和切割技術(shù)是現(xiàn)代微觀分析領(lǐng)域中不可或缺的樣品制備手段。該技術(shù)通過(guò)利用寬離子束（約1毫米寬）對(duì)樣品進(jìn)行切割或拋光，能夠精確地去除樣品表面的損傷層，并暴露出高質(zhì)量的分析區(qū)域，為后續(xù)的微觀結(jié)構(gòu)觀察和成分分析提供理想的樣品表面。氬離子切割技術(shù)氬離子切割技術(shù)的核心在于利用寬離子束對(duì)樣品進(jìn)行精確切割。在切割過(guò)程中，一個(gè)堅(jiān)固的擋板被用于遮擋樣品的非目標(biāo)區(qū)域，從而

  電池 線路板

  329瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-10-29 14:29

  納米加工技術(shù)的核心：聚焦離子束及其應(yīng)用

  

  聚焦離子束技術(shù)的崛起在納米科技蓬勃發(fā)展的浪潮中，納米尺度制造業(yè)正以前所未有的速度崛起，而納米加工技術(shù)則是這一領(lǐng)域的心臟。聚焦離子束（FocusedIonBeam，F(xiàn)IB）作為納米加工的代表性方法，憑借其卓越的性能和廣泛的應(yīng)用前景，成為了納米加工領(lǐng)域的明星技術(shù)。FIB結(jié)合掃描電子顯微鏡（ScanningElectronMicroscopy，SEM）形成的雙束系

  儀器 離子束 聚焦

  365瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-10-29 14:27

  靜電、浪涌與TVS：從測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)到選型指南，一篇搞定電路防護(hù)

  

  在電子工程領(lǐng)域，ESD（靜電放電）和浪涌問題堪稱基帶工程師的"頭號(hào)噩夢(mèng)"。這些問題測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)苛，現(xiàn)象難以捕捉，特別是ESD故障，往往沒有標(biāo)準(zhǔn)解決路徑，只能依靠工程師反復(fù)構(gòu)思方案并驗(yàn)證。要想最大限度地避免這些問題，選擇合適的防護(hù)器件并在設(shè)計(jì)階段做好充分防護(hù)措施至關(guān)重要。本文將詳細(xì)介紹ESD和浪涌的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試方法，以及如何選擇關(guān)鍵的TVS防護(hù)器件。什么是TV

  TVS 浪涌 靜電

  616瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-10-27 16:22

  電子元器件典型失效模式與機(jī)理全解析

  

  在現(xiàn)代電子設(shè)備中，元器件的可靠性直接影響著整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行。本文將深入探討各類電子元器件的典型失效模式及其背后的機(jī)理，為電子設(shè)備的設(shè)計(jì)、制造和應(yīng)用提供參考。典型元件一：機(jī)電元件機(jī)電元件包括電連接器、繼電器等，它們共同特點(diǎn)是包含機(jī)械和電子兩部分，因此對(duì)工作環(huán)境尤為敏感。電連接器由殼體、絕緣體和接觸體三大部分組成，其失效主要表現(xiàn)為接觸失效、絕緣失效和機(jī)械聯(lián)接失

  失效模式 電子元器件

  581瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-10-24 12:22

  熱沖擊試驗(yàn)：確保PCB可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)

  

  在電子設(shè)備制造領(lǐng)域，印刷線路板（PCB）的質(zhì)量與可靠性直接決定著最終產(chǎn)品的性能與壽命。而在眾多測(cè)試項(xiàng)目中，熱沖擊試驗(yàn)以其嚴(yán)苛的條件和高效的篩選能力，成為評(píng)估PCB可靠性的重要手段之一。熱沖擊試驗(yàn)的核心價(jià)值熱沖擊試驗(yàn)通過(guò)讓PCB樣品在極短時(shí)間內(nèi)經(jīng)歷急劇的溫度變化，來(lái)模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用、運(yùn)輸或存儲(chǔ)過(guò)程中可能遭遇的極端環(huán)境。這種測(cè)試不僅考驗(yàn)著PCB基材的耐受性，更

  pcb PCB 沖擊試驗(yàn) 印刷線路板

  559瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-10-24 12:20

  電子元器件失效分析之金鋁鍵合

  

  電子元器件封裝中的引線鍵合工藝，是實(shí)現(xiàn)芯片與外部世界連接的關(guān)鍵技術(shù)。其中，金鋁鍵合因其應(yīng)用廣泛、工藝簡(jiǎn)單和成本低廉等優(yōu)勢(shì)，成為集成電路產(chǎn)品中常見的鍵合形式。金鋁鍵合失效這種現(xiàn)象雖不為人所熟知，卻是電子設(shè)備可靠性的一大隱患。為什么金鋁鍵合會(huì)失效金鋁鍵合失效主要表現(xiàn)為鍵合點(diǎn)電阻增大和機(jī)械強(qiáng)度下降，最終導(dǎo)致電路性能退化或開路。其根本原因源于金和鋁兩種金屬的物理與化

  電子元器件 芯片

  645瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-10-23 16:00

  新動(dòng)態(tài)：電器電子產(chǎn)品概述及有害物質(zhì)限制使用管理

  

  電子產(chǎn)品與電氣產(chǎn)品分類電器電子產(chǎn)品已成為現(xiàn)代社會(huì)不可或缺的組成部分，廣泛滲透到生產(chǎn)與生活的各個(gè)角落。從廣義上，可將其分為電子產(chǎn)品和電氣產(chǎn)品兩大類。電子產(chǎn)品主要指以電子管、集成電路等電子技術(shù)為基礎(chǔ)，通過(guò)電子運(yùn)動(dòng)實(shí)現(xiàn)功能的產(chǎn)品。其核心在于處理信息與信號(hào)，早期因主要元件為電子管而得名。常見的產(chǎn)品包括智能手機(jī)、電腦、電視機(jī)、收音機(jī)、錄像機(jī)、激光唱機(jī)（CD）、移動(dòng)通信

  電器 電子產(chǎn)品

  1.1k瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-10-22 14:36

  產(chǎn)品可靠性驗(yàn)證手段：機(jī)械沖擊測(cè)試與振動(dòng)測(cè)試的差異

  

  在產(chǎn)品研發(fā)與質(zhì)量管控中，機(jī)械沖擊測(cè)試與振動(dòng)測(cè)試是兩項(xiàng)關(guān)鍵的可靠性驗(yàn)證方法。兩者雖均涉及產(chǎn)品在力學(xué)環(huán)境下的響應(yīng)，但其物理機(jī)制與測(cè)試目的存在本質(zhì)差異。準(zhǔn)確把握二者的區(qū)別，有助于企業(yè)優(yōu)化測(cè)試方案，合理分配資源，并提升產(chǎn)品的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。理解兩種測(cè)試的本質(zhì)機(jī)械沖擊測(cè)試用于模擬產(chǎn)品在生命周期內(nèi)可能經(jīng)歷的瞬態(tài)、高強(qiáng)度的沖擊事件，例如設(shè)備跌落、碰撞或驟然受力。該類測(cè)試關(guān)注的

  機(jī)械 測(cè)試

  587瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-10-22 14:33

  半導(dǎo)體器件的靜電放電（ESD）失效機(jī)理與防護(hù)設(shè)計(jì)

  

  靜電在自然界中無(wú)處不在。從芯片制造、封裝測(cè)試、運(yùn)輸存儲(chǔ)到組裝使用，靜電可能在任一環(huán)節(jié)對(duì)芯片造成不可逆損。半導(dǎo)體ESD失效的四大特征1.隱蔽性（1）人體通常需2~3KV靜電才能感知，而現(xiàn)代半導(dǎo)體器件可能僅需不到20V即會(huì)受損。（2）在無(wú)塵室中，技術(shù)人員身著防靜電服時(shí)，仍可能攜帶足以損傷芯片的靜電。2.潛在性（1）部分受損元器件外觀完好，初始功能正常，卻已留下“

  ESD 半導(dǎo)體器件 靜電

  878瀏覽量