--- 產品參數 ---
- 分辨率 優于3nm
- 放大倍數 360000
--- 產品詳情 ---
? 產品介紹:
ZEM20pro臺式掃描電鏡采用單晶燈絲,最高放大36萬倍,分辨率可達3nm。自動亮度對比度、自動聚焦、大圖拼接。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺,滿足不同實驗及檢測需求。
? 產品特色:
▲ 易用性強
▲ 兼容擴展性強
▲ 高性價比
▲ 多級防震
▲ 多種成像模式
▲ 高分辨觀察
? 實拍案例:

? 產品參數:
主要指標 | ZEM20 Pro |
環境要求 | AC 220V,50Hz,1kW,無需減震臺 |
加速電壓 | 3kV~20kV連續可調,1kV步進 |
電子槍 | 單晶燈絲 |
放大倍數 | 360000x |
分辨率 | 3nm |
探測器 | 二次電子探測器、四分割背散射電子探測器、集成式能譜儀(選配) |
樣品臺 | 兩軸:X:60mm Y:55mm |
樣品容納大小 | XY可自由移動:105*87*51.5mm靜止:165*122*51.5mm |
減速模式 | 選配(0-10kv樣品臺電壓減速) |
成像模式 | 視頻模式:512x512像素,無需小窗口掃描;快掃模式:512x512像素 |
導航功能 | 光學相機導航,艙內攝像頭,可實時觀察樣品艙內情況 |
自動功能 | 自動亮度對比度、自動聚焦、大圖拼接 |
尺寸 | 主機:650 × 370 × 642(mm) |
拓展功能 | 兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺(TEC冷臺、加熱臺、拉伸臺等) |
懇請注意:因市場發展和產品開發的需要,本產品資料中有關內容可能會根據實際情況隨時更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請諒解。如有疑問或需要更多詳細信息,請隨時聯系澤攸科技咨詢。
為你推薦
-
電子束光刻機2025-08-15 15:14
產品型號:ZEL304G 標配:激光干涉樣品臺 樣品臺行程:≤105 mm 圖像分辨率:≤1nm @ 15 kV;≤1.5 nm @ 1kV 注釋:詳情咨詢澤攸科技立即咨詢 -
DMD無掩膜光刻機2025-08-15 15:11
產品型號:ZML 紫外光源中心波長:405 nm 曝光均勻度:90%以上 最小特征線寬:0.5um 注釋:詳情咨詢澤攸科技立即咨詢 -
全自動臺階儀JS2000C/3000C2025-08-15 15:09
產品型號:JS2000C/3000C 臺階高度最大范圍:160um 臺階高度重復性:≤0.5nm 探針加力范圍:0.5mg~50mg 注釋:詳情咨詢澤攸科技立即咨詢 -
半自動臺階儀JS100C/200C/300C2025-08-15 15:07
產品型號:JS100C/200C/300C 樣品尺寸:6寸(JS100C)/ 8寸(JS200C)/ 12寸(JS 重復性測量偏差:≤0.5nm(1o lum標準塊重復掃描30次) 注釋:詳情咨詢澤攸科技立即咨詢 -
手動臺階儀JS10C2025-08-15 15:05
產品型號:JS10C 型號:JS10C立即咨詢 -
ZEM Pro單晶燈絲臺式掃描電鏡2025-08-15 15:02
產品型號:ZEM Pro 分辨率:優于3nm 放大倍數:360000立即咨詢 -
ZEM20臺式掃描電鏡2025-08-15 11:46
產品型號:ZEM20 分辨率:優于4nm 放大倍數:360000立即咨詢 -
ZEM Ultra場發射臺式掃描電鏡2025-08-15 11:38
產品型號:ZEM Ultra 分辨率:優于2.5nm 放大倍數:100萬倍立即咨詢
-
澤攸科技 | 臺階儀:微觀形貌的精密解析工具 —— 原理、技術與產業化應用2025-08-19 10:31
-
澤攸科技 | 電子束光刻(EBL)技術介紹2025-08-14 10:07
-
澤攸科技 | 國產臺階儀和進口臺階儀相比,各有什么優勢?2025-08-14 09:56