產品
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電子束光刻機2025-08-15 15:14
產品型號：ZEL304G 標配：激光干涉樣品臺 樣品臺行程：≤105 mm 圖像分辨率：≤1nm @ 15 kV；≤1.5 nm @ 1kV 注釋：詳情咨詢澤攸科技 -
DMD無掩膜光刻機2025-08-15 15:11
產品型號：ZML 紫外光源中心波長：405 nm 曝光均勻度：90%以上 最小特征線寬：0.5um 注釋：詳情咨詢澤攸科技 -
全自動臺階儀JS2000C/3000C2025-08-15 15:09
產品型號：JS2000C/3000C 臺階高度最大范圍：160um 臺階高度重復性：≤0.5nm 探針加力范圍：0.5mg~50mg 注釋：詳情咨詢澤攸科技 -
半自動臺階儀JS100C/200C/300C2025-08-15 15:07
產品型號：JS100C/200C/300C 樣品尺寸：6寸（JS100C）/ 8寸（JS200C）/ 12寸（JS 重復性測量偏差：≤0.5nm(1o lum標準塊重復掃描30次) 注釋：詳情咨詢澤攸科技 -
手動臺階儀JS10C2025-08-15 15:05
產品型號：JS10C 型號：JS10C -
ZEM Pro單晶燈絲臺式掃描電鏡2025-08-15 15:02
產品型號：ZEM Pro 分辨率：優于3nm 放大倍數：360000 -
ZEM20臺式掃描電鏡2025-08-15 11:46
產品型號：ZEM20 分辨率：優于4nm 放大倍數：360000 -
ZEM Ultra場發射臺式掃描電鏡2025-08-15 11:38
產品型號：ZEM Ultra 分辨率：優于2.5nm 放大倍數：100萬倍