半導(dǎo)體激光全自動(dòng)COS綜合測(cè)試機(jī)
型號(hào):
HX-COST150
我司自主研發(fā)的全自動(dòng)COS綜合性能測(cè)試設(shè)備:是用于激光芯片貼片后,光性能的檢測(cè)設(shè)備。傳統(tǒng)檢測(cè)方式為人工上下料,儀器檢測(cè)數(shù)據(jù),人工篩選和記錄。本設(shè)備將全面實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化,大大提高芯片檢出效率,減少人為操作帶來的誤判或芯片操作,更省人省時(shí)。
技術(shù)參數(shù):
| 型號(hào) | HX-COST150 |
| 供電 | 單相交流/220V(50Hz),30A |
| 整機(jī)功率/重量 | ≤8KW / 1200kg |
| 氣源 | 壓縮空氣0.5~0.8Mpa,真空度>-80Kpa,直徑10mmTube,(選項(xiàng):真空泵) |
| 水源 | 純水,4L/Min(管直徑:機(jī)臺(tái)12mm,冷卻8mm) |
| 設(shè)備尺寸 | 1400 x 1350 x 2100(mm) |
| 測(cè)試工位 | 雙通道,4工位 |
| 測(cè)試最大電流 | 100A,步長(zhǎng)0.1A,分辨率1mA,設(shè)定精度0.1%+50mA |
| 激光波長(zhǎng)范圍 | 300~1100nm |
| 功率測(cè)試 | 功率重復(fù)測(cè)試精度<0.5%,功率測(cè)試范圍為0-80W,分辨率0.01W |
| 波長(zhǎng)檢測(cè) | 測(cè)量范圍為300-1100nm,波長(zhǎng)測(cè)量精度為1nm,光學(xué)分辨率≤0.25nm。 |
| 偏振度 | 偏振度差值<土0.5%; |
| 發(fā)散角 | X軸方向測(cè)量范圍-50°至50°,Y軸方向-60°至60°,精度土0.5 |
| 測(cè)試效率 | 280PCS/小時(shí) |