2026年3月25日，華儀電子正式推出兩款全新電氣安全測(cè)試產(chǎn)品——EEC-31三合一耐壓測(cè)試器與EEC-41四合一耐壓與接地阻抗測(cè)試器。兩款新品基于華儀在電氣安全測(cè)試領(lǐng)域近五十年的技術(shù)積累與應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)，聚焦制造企業(yè)在實(shí)際生產(chǎn)與檢測(cè)環(huán)節(jié)中的核心需求，以更高的集成度、更優(yōu)的性價(jià)比，為客戶提供穩(wěn)定且可靠的電氣安全測(cè)試解決方案。EEC-31：三合一高效測(cè)試，緊湊設(shè)計(jì)應(yīng)

在當(dāng)今數(shù)字化浪潮中，服務(wù)器作為數(shù)字基礎(chǔ)設(shè)施的核心，正經(jīng)歷著深刻而持久的變革。隨著云計(jì)算、人工智能、邊緣計(jì)算等新興技術(shù)的崛起，服務(wù)器的發(fā)展呈現(xiàn)出諸多引人矚目的趨勢(shì)。01AI驅(qū)動(dòng)性能革命人工智能的迅猛發(fā)展對(duì)服務(wù)器性能提出了更高要求。AI訓(xùn)練和推理任務(wù)需要強(qiáng)大的并行計(jì)算能力，傳統(tǒng)CPU架構(gòu)已難以滿足。因此，搭載GPU、TPU、FPGA等專用加速芯片的AI服務(wù)器成為

動(dòng)態(tài)特性測(cè)試及示波器深度應(yīng)用動(dòng)態(tài)特性決定碳化硅MOS管的開(kāi)關(guān)損耗、響應(yīng)速度及抗干擾能力，是高頻應(yīng)用場(chǎng)景下的關(guān)鍵評(píng)估指標(biāo)。雙脈沖測(cè)試（DPT）作為動(dòng)態(tài)特性測(cè)試的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法，需依托示波器完成開(kāi)關(guān)波形的捕獲與參數(shù)分析，核心測(cè)試項(xiàng)目包括開(kāi)關(guān)損耗（Eon、Eoff）、開(kāi)關(guān)時(shí)間（ton、toff）、電壓/電流過(guò)沖及反向恢復(fù)特性。01雙脈沖測(cè)試系統(tǒng)構(gòu)成一套完整的雙脈沖測(cè)

NO.1在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的賽道上，最令人崩潰的瞬間莫過(guò)于：樣機(jī)已經(jīng)定型，卻在最后的EMC認(rèn)證環(huán)節(jié)遭遇“紅燈”。那一刻，意味著高昂的整改費(fèi)用和錯(cuò)失的市場(chǎng)窗口。越早在研發(fā)階段引入EMI測(cè)試，修復(fù)問(wèn)題的成本就越低。但面對(duì)市面上琳瑯滿目的頻譜儀、示波器和接收機(jī)，工程師到底該如何根據(jù)自己的產(chǎn)品特性，挑選一把最趁手的“排雷”利器？EMI預(yù)認(rèn)證解決方案指南選擇最適合的EMI調(diào)試

碳化硅（SiC）MOS管作為寬禁帶半導(dǎo)體的核心器件，憑借高耐壓、高頻化、低損耗及耐高溫特性，在新能源汽車、光伏逆變、工業(yè)電源等領(lǐng)域逐步替代傳統(tǒng)硅基IGBT器件。精準(zhǔn)的測(cè)試技術(shù)是挖掘其性能潛力、保障系統(tǒng)可靠性的關(guān)鍵，而示波器作為信號(hào)捕獲與分析的核心儀器，在動(dòng)態(tài)特性表征中發(fā)揮著不可替代的作用。本文將系統(tǒng)闡述碳化硅MOS管的核心測(cè)試項(xiàng)目、技術(shù)要點(diǎn)，重點(diǎn)解析示波器及

羅德與施瓦茨（以下簡(jiǎn)稱“R&S”）通過(guò)推出FPL1044頻譜分析儀及適用于全系FPL系列的全新40MHz實(shí)時(shí)頻譜分析（RTSA）選件，進(jìn)一步拓展其中端儀器產(chǎn)品組合。R&SFPL1044在實(shí)現(xiàn)高達(dá)44GHz高頻性能的同時(shí)，追求卓越性價(jià)比。通用的RTSA選件則為FPL用戶賦予強(qiáng)大的實(shí)時(shí)分析能力。圖：搭載新RTSA選件的R&SFPL1044可實(shí)現(xiàn)高達(dá)44GHz的4

無(wú)處不在的電磁干擾在工業(yè)生產(chǎn)線、射頻實(shí)驗(yàn)室、電力檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)等復(fù)雜場(chǎng)景中，數(shù)字示波器作為“信號(hào)偵察兵”的角色至關(guān)重要。但不少工程師遇到過(guò)棘手的狀況：屏幕觸控響應(yīng)遲滯、頻繁誤觸，精心調(diào)試的波形出現(xiàn)無(wú)規(guī)律抖動(dòng)，高頻毛刺疊加或基線漂移，嚴(yán)重時(shí)測(cè)量數(shù)據(jù)完全失真，給故障排查與產(chǎn)品研發(fā)帶來(lái)巨大阻礙。這些問(wèn)題的罪魁禍?zhǔn)?，正是無(wú)處不在的電磁干擾(EMI)。電磁干擾對(duì)示波器的影響

親愛(ài)的品質(zhì)工程師、研發(fā)同仁，您是否也常為這些轉(zhuǎn)速問(wèn)題所困擾？為了測(cè)量轉(zhuǎn)速，耗費(fèi)時(shí)間在安裝檢測(cè)齒輪或者貼反光片等準(zhǔn)備工作；為一個(gè)轉(zhuǎn)速數(shù)據(jù)，不得不破壞樣品，耗時(shí)耗力，卻無(wú)法用于批量質(zhì)檢；生產(chǎn)線上，想檢測(cè)電吹風(fēng)、電動(dòng)牙刷、剃須刀等“隱身”電機(jī)的轉(zhuǎn)速，卻苦于電機(jī)完全封裝，旋轉(zhuǎn)軸不外露，無(wú)法安裝傳感器；01小野測(cè)器FT-2500高級(jí)轉(zhuǎn)速表小野測(cè)器FT-2500高級(jí)轉(zhuǎn)速

在上篇中，我們討論了無(wú)效紋波測(cè)量的原因，揭示了寬帶測(cè)量法在紋波測(cè)試中的缺陷——無(wú)法區(qū)分“固有紋波”與“注入紋波”，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果失真。而頻選（窄帶）測(cè)量方法只鎖定目標(biāo)頻率的信號(hào)，因此可以從根本上解決這一難題。本篇中，我們將深入頻選測(cè)量的技術(shù)內(nèi)核，探討其性能權(quán)衡，并了解像RippleNX這樣的自動(dòng)化解決方案，是如何通過(guò)硬件與固件的協(xié)同優(yōu)化，兼顧濾波精度與測(cè)試速度

全球AI應(yīng)用浪潮正推動(dòng)服務(wù)器架構(gòu)演進(jìn)，其高功耗與高密度的特點(diǎn)對(duì)電氣安全與生產(chǎn)效率提出了更嚴(yán)苛的要求。而當(dāng)產(chǎn)品進(jìn)入量產(chǎn)階段，安規(guī)測(cè)試不僅是合規(guī)必需，更直接關(guān)系到產(chǎn)線效率與交付周期。隨著AI服務(wù)器技術(shù)持續(xù)升級(jí)，制造商普遍面臨以下三大安規(guī)測(cè)試痛點(diǎn)：1.多點(diǎn)測(cè)試流程復(fù)雜2.人工操作依賴度高，易產(chǎn)生誤差與風(fēng)險(xiǎn)3.測(cè)試數(shù)據(jù)管理困難那么，制造商如何在全球市場(chǎng)量產(chǎn)壓力下，兼

前言對(duì)于以新能源車為代表的電動(dòng)出行(E-Mobility)來(lái)說(shuō)，續(xù)航里程的提高是最重要的課題之一。為了實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)，除了要掌握電池和大功率的動(dòng)力傳動(dòng)系統(tǒng)的狀態(tài)外，還要掌握ECU和電裝設(shè)備等零部件的功耗和暗電流。何為汽車暗電流？暗電流（darkcurrent），指點(diǎn)火開(kāi)關(guān)在OFF的位置（汽車無(wú)工作的狀態(tài)，也可以指靜止休眠狀態(tài)）時(shí)，仍然在流動(dòng)的電流，又可稱為“靜態(tài)電流”。拖累續(xù)航里程的元兇--暗電流通過(guò)