動態(tài)

• 發(fā)布了產(chǎn)品 2024-01-29 21:57

  集成電路,芯片開封測試,芯片質(zhì)量評估

  

  產(chǎn)品型號：IC芯片開封試驗 服務區(qū)域 ：全國 服務資質(zhì) ：CNAS、CMA 服務周期：常規(guī)5-7個工作日

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2024-01-29 21:50

  aec-q200,車規(guī)元器件全系認證服務,全項檢測

  

  產(chǎn)品型號：AEC-Q200產(chǎn)品測試 服務區(qū)域：全國 服務周期：2-3個月，提供全面的認證計劃、測試等服務 發(fā)票：可提供

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2024-01-29 21:47

  車規(guī)級多芯片模塊車規(guī)AEC-Q104認證

  

  產(chǎn)品型號：AEC-Q104認證測試 服務區(qū)域：全國 服務周期：2-3個月，提供全面的認證計劃、測試等服務 發(fā)票：可提供

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2024-01-29 21:43

  aec-q100認證,車規(guī)元器件全系認證服務,全項試驗項目

  

  產(chǎn)品型號：AEC-Q100認證試驗 服務區(qū)域：全國 服務周期：3-4個月，提供全面的認證計劃、測試等服務 測試項目 發(fā)票：可提供

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2024-01-29 21:38

  aec-q102認證中心,AEC-Q車規(guī)認證機構(gòu)

  

  產(chǎn)品型號：AEC-Q102產(chǎn)品試驗 服務區(qū)域：全國 服務周期：2-3個月，提供全面的認證計劃、測試等服務 發(fā)票：可提供

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2024-01-29 21:35

  AEC-Q101分立半導體器件車規(guī)級認證可靠性測試

  

  產(chǎn)品型號：AEC-Q101認證試驗 服務區(qū)域：全國 服務周期：2-3個月，提供全面的認證計劃、測試等服務 發(fā)票：可提供

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• 發(fā)布了文章 2024-01-16 15:20

  專家訪談丨中國“芯”飽受良率之痛，芯片制造該如何破局？

  

  芯片被稱為信息產(chǎn)業(yè)的糧食和“大腦”，是信息社會的基石，在信息化、智能化不斷加快的今天，芯片已經(jīng)成為戰(zhàn)略性、基礎性產(chǎn)業(yè)。可以說，芯片作為支撐中國經(jīng)濟持續(xù)高質(zhì)量發(fā)展、特別是支撐戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè)崛起，其地位更是無可替代。然而，芯片制造是一項極為復雜和精細的工藝，很多重要環(huán)節(jié)都需要精密的檢測手段發(fā)現(xiàn)缺陷。

  半導體 失效分析 芯片 芯片制造

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• 發(fā)布了文章 2024-01-11 08:49

  關于電子元器件空間輻射單粒子效應的考核

  

  宇宙遍布著各種高能量的輻射粒子，這些粒子會對元器件帶來影響，如何進行抗輻射設計成為了工程師針對邏輯類數(shù)字電路、存儲器以及某些功率器件的一個必要考量。

  半導體 失效分析 電子元器件

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• 發(fā)布了文章 2024-01-09 17:33

  熱管理解決方案 | 容易被忽略的能耗降低策略——流阻試驗/壓降試驗

  

  通過流阻試驗或壓降試驗可驗證介質(zhì)種類、溫度、流速等參數(shù)與流道系統(tǒng)的關系，探究實際運行過程中系統(tǒng)的流阻及壓降情況，可助力產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設計優(yōu)化及工況運行優(yōu)化，提高流體的流動效率，降低運行過程中無效能量消耗，保證系統(tǒng)運行的安全性。

  熱管理 電池

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• 發(fā)布了文章 2023-12-27 22:42

  電子產(chǎn)品可靠性評價方法：MTBF可靠性評價介紹

  

  在推出新產(chǎn)品時，客戶經(jīng)常詢問產(chǎn)品的可使用年限以及如何確保用戶能夠正常使用若干年（如三年以上)。以每天使用10小時為例，產(chǎn)品需要保證三年使用期間內(nèi)11000小時無故障。特別是在產(chǎn)品設計、驗證和推廣階段，產(chǎn)品設計方特別關注產(chǎn)品的可靠性期限問題。

  MTBF 檢測 電子產(chǎn)品

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