服務內容

廣電計量目前已實現12位AD/DA轉換器芯片電性能測試程序的開發。

服務范圍

數據傳輸系統、自動測試設備、醫療信息處理、電視信號的數字化、圖像信號的處理和識別、數字通信和語音信息處理等將數字量和模擬量互相轉換電路的儀器設備。

檢測標準

SJ 20961-2006 集成電路A/D和D/A轉換器測試方法的基本原理。

檢測項目

AD/DA轉換器芯片電性能測試及程序開發，其中測試技術指標：

（1）A/D轉換器參數符號及名稱

（2）D/A轉換器參數符號及名稱

相關資質

CMA、CNAS

測試周期

開發周期：4-8周；常規測試周期：3-5個工作日。

服務背景

在現代工業化社會中，工業的生產場景涉及到方方面面與計算機協同生產的需求。在數字系統的應用中，通常要將一些被測量的連續變化的物理量通過傳感器送到數字系統進行加工處理，經過處理獲得的輸出數據又要送回物理系統，對系統物理量進行調節和控制。

在實際生產場景中，是由設備的傳感器對生產過程中產生的電壓、電流、壓力、溫度、位移、流量等的實時改變進行記錄并轉換成模擬電信號。傳感器輸出的模擬電信號需轉換成數字信號（計算機內部需要的離散數字量，即二進制數、十進制數等），數字系統才能對模擬信號進行處理。這種模擬量到數字量的轉換稱為模-數(A/D)轉換。處理后獲得的數字量有時又需轉換成模擬量返回到實際生產場景中指引設備進行后續工作，這種轉換稱為數-模（D/A)變換。

A/D轉換器（Analog to Digital Converter簡稱為ADC）和D/A轉換器(Digital to Analog Converter簡稱為DAC）是數字系統和模擬系統的接口電路。通過A/D和D/A兩個方向的數據轉換，即可實現生產設備與計算機的協同生產，如汽車流水線上的機械手和雷達。

越復雜的生產場景對AD/DA轉換器芯片的可靠性越高，電性能測試是檢驗AD/DA芯片功能性能可靠性的主要手段。

我們的優勢

廣電計量聚焦集成電路失效分析技術，擁有業界領先的專家團隊及先進的失效分析設備，可為客戶提供完整的失效分析檢測服務，幫助制造商快速準確地定位失效，找到失效根源。同時，我們可針對客?的研發需求，提供不同應?下的失效分析咨詢、協助客戶開展實驗規劃、以及分析測試服務，如配合客戶開展NPI階段驗證，在量產階段(MP)協助客戶完成批次性失效分析。

常見問題

Q：AD/DA轉換器電性能測試常見誤差有哪些？

A：零點誤差、增益誤差、差分非線性誤差及積分非線性誤差。