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廣電計量

廣電計量一家全國化、綜合性的國有第三方檢測機構。專注于為客戶提供計量、檢測、認證以及技術咨詢與培訓等專業技術服務。

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MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析

型號： 功率器件失效根因分析
品牌： GRGTEST(廣電計量)

--- 產品參數 ---

  • 服務區域 全國
  • 服務資質 CNAS
  • 發票 可提供
  • 報告類型 中英文電子/紙質報告

--- 產品詳情 ---

服務范圍

MOSFET、IGBT、DIODE、BJT，第三代半導體器件等分立器件，以及上述元件構成的功率模塊

檢測標準

l  GJB548B-2005微電子器件試驗?法和程序

l  QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求

檢測項目

試驗類型試驗項?
?損分析X 射線透視、聲學掃描顯微鏡、?相顯微鏡
電特性/電性定位分析電參數測試、IV&CV 曲線量測、ESD、Photon Emission、OBIRCH、ATE 測試與三溫(常溫/低溫/高溫) 驗證
破壞性分析開封、去層、切片、芯片級切片、推拉力測試
微觀顯微分析DB FIB切片截?分析、FESEM 檢查、EDS微區元素分析、掃描電鏡、透射電鏡

相關資質

CNAS

服務背景

國內功率器件廠商迎來了空前的發展機會。在成長中廠商迫切希望減少或消除產品失效，并在設計、?藝和產品研發、量產、可靠性測試、封裝等階段進?改進，以迅速占領市場。

我們的優勢

廣電計量擁有業界領先的專家團隊及先進的失效分析設備，專注功率器件失效根因分析，可為客戶提供完整的失效根因分析服務，針對產品的研發設計、來料檢驗、加?組裝、測試篩選、客戶端使用等各個環節，為客戶提供失效分析咨詢、協助客戶開展設計規劃、以及分析測試服務。

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