型號： Keithley 2636B

系列： 2600B 系列 源測量單元

通道數： 2個完全獨立的源測量通道（即兩個SMU），可同步或異步工作。

定位： 精密、高速、高功率的直流與脈沖式源測量一體化設備，專為研發和參數測試設計。

核心價值： 在一個設備中同時提供精密電壓源、電流源、電壓表、電流表和歐姆表的功能，并能同步施加激勵和測量響應。
1. 源與測量能力
每個通道都具備以下能力：

作為電壓源：

輸出范圍： ±20 V（標準），可通過選件擴展至更高電壓。

輸出電流： 最大 ±3 A（直流）或 ±10 A（脈沖）。

作為電流源：

輸出范圍： ±3 A（直流）或 ±10 A（脈沖）。

順從電壓： 最大 ±20 V。

作為電壓表：

測量范圍： ±20 V。

分辨率： 最高 0.1 μV。

作為電流表：

測量范圍： 從 10 pA 至 3 A/10 A（多量程）。

分辨率： 在最低量程可達 10 fA（飛安）。

四線歐姆表： 通過源出電流并測量電壓，實現精密電阻測量。

2. 精度與速度
基本精度： 電壓和電流的直流精度通常在 0.015% 量級，非常高。

低電流測量： 其皮安計級別的低電流測量能力（低至pA級）是測試半導體器件漏電流、光電器件暗電流等的關鍵。

高速數字化與采樣： 內置18位， 1 MS/s（百萬樣本/秒）的數字化儀。不僅可以讀取穩定值，還能高速捕獲瞬態波形（如MOSFET的開關特性、LED的瞬態響應）。

3. 脈沖式源測量（關鍵特性）
脈沖寬度： 可產生短至 < 50 μs 的精確電流或電壓脈沖。

應用價值： 這是2636B區別于普通源表的精髓所在。對于測試自熱效應敏感的器件（如LED、激光二極管、功率半導體），脈沖測試可以在器件溫度顯著升高之前完成測量，獲得更接近真實工作條件的直流特性（I-V曲線），避免因自熱導致的測量誤差和器件損壞。

4. 系統與軟件
TSP? 技術： 內置 測試腳本處理器。用戶可以將復雜的測試序列（如完整的I-V掃描、電容-電壓測試）以 Lua 腳本語言編寫并存儲在儀器內部，然后通過一條簡單的觸發命令全速運行，無需與上位機頻繁通信，實現極高的測試吞吐量。

KickStart 軟件： 提供圖形化界面，無需編程即可快速配置和執行常見測試，并生成專業圖表和報告。

多機同步： 通過 TSP-Link? 接口，可以將多達 32臺 2600B系列SMU（總共 64個通道）無縫連接和同步，構建大規模的多引腳測試系統，用于測試多端子器件或集成電路。
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