--- 產品參數 ---
- 主機尺寸 深 660*寬 430*高 210(mm)
- 主機重量 <35kg
- 主機顏色 銀色系
- 主機功耗 <300W
- 海拔高度 海拔不超過 4000m
- 環境要求 -20℃~60℃(儲存)、5℃~50℃(工作)
- 相對濕度 20%RH~75%RH (無凝露,濕球溫度計溫度 45℃以下
- 大氣壓力 86Kpa~106Kpa
- 防護條件 無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導電粉塵等
--- 產品詳情 ---
從實驗室到產線的分立器件測試,需要一套兼具高精度、高效率、可靠性和可擴展性的解決方案。這是一個從 “研發驗證” 到 “批量生產” 的跨越,對測試系統的要求有顯著不同。

一、核心需求差異:實驗室 vs. 產線
| 維度 | 實驗室/研發測試 | 生產線測試 |
| 核心目標 | 性能表征、極限分析、模型驗證 | 質量把關、快速分選、成本控制 |
| 關鍵指標 | 精度、靈活性、測量范圍、功能全面性 | 速度、穩定性、重復性、UPH (每小時產能) |
| 設備要求 | 高精度源表、靈活配置、多種測量功能 | 高吞吐率、自動化、多工位并行、 良品率統計 |
| 操作復雜度 | 可以手動、可編程復雜測試序列 | 全自動、一鍵啟動、操作簡單 |
| 成本考量 | 單臺設備成本高可接受 | 總體擁有成本、測試成本/器件 |
華科智源HUSTEC-DC-2010分立器件測試儀系統可以完全滿足這些需求,
- 覆蓋范圍廣:可測試 19 大類 27 分類 大中小功率的分立器件及模塊的靜態直流參數
- 可測各種類型器件:測試范圍包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等
- 功能完善:單點+曲線測試,滿足不同測試需求
- 應用場景豐富:
? 測試分析(功率器件研發設計階段的初始測試)
? 失效分析(對失效器件進行測試分析,查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提 出改善方案)
? 選型配對(在器件焊接至電路板之前進行全部測試,將測試數據比較一致的器件進行分類配對)
? 來料檢驗(研究所及電子廠的質量部(IQC)對入廠器件進行抽檢/全檢,把控器件的良品率)
? 量產測試(可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備,實現規模化、自動化測試)

二、從實驗室到產線的完整解決方案路徑
解決方案通常遵循 “實驗室驗證 → 測試程序開發 → 產線系統部署” 的流程。
第一階段:實驗室研發與驗證
目標: 獲得器件的精確電性參數,建立測試規范。
輔助設備:示波器、LCR表、溫度控制器等。
工作內容:
直流參數測試:Vf(正向壓降)、Ir(反向漏電流)、BV(擊穿電壓)、Hfe(直流增益)、Rds(on)(導通電阻)等。

第二階段:測試程序開發與優化
目標: 將實驗室的測試方法轉化為高效、可靠的自動化測試程序。
數據記錄:存儲原始數據、測試結果、時間戳等信息,便于追溯。
第三階段:產線部署與執行
目標: 實現高速、穩定、無人值守的批量測試。
自動化硬件接口:
探針臺:用于晶圓級測試(CP),自動移動晶圓,使探針接觸芯片焊盤。
分選機(Handler):用于封裝后測試(FT),自動將料管中的器件運送到測試座(Test Socket),測試后根據結果分揀到不同的料管中。
機械臂(Robot):用于板級或模塊測試的上下料。
測試治具與Socket:定制化的接口,確保器件電氣連接可靠、一致。
產線測試系統軟件(更高層次):
測試執行軟件:運行測試程序,控制整個流程。
生產管理集成:與工廠的MES(制造執行系統)通信,獲取任務、上報結果、綁定器件序列號與測試數據。
數據分析與監控平臺:實時監控產線良率(Yield)、測試時間(Test Time)、設備綜合效率(OEE),生成SPC(統計過程控制)圖表,預警異常。

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