產品簡介
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普密斯3D白光干涉輪廓儀Meter View 系列 WLI-1000能夠以優于納米級的分辨率實現“面”測量，非接觸式測量樣品表面形貌，不損傷產品本身。
廣泛應用于光學，半導體，材料，精密機械等等領域，用于表面形貌紋理，微觀結構分析。
產品特點
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1. 表征微觀形貌的粗糙度測量;
2. 臺階高、角度等輪廓尺寸測量;
3. 自動對焦、自動找條紋、自動調亮度等自動化輔助功能;
4. 校平、圖像修描、去噪和濾波、區域提取等數據處理功能;
5. 對比分析和多文件分析等輔助分析功能。
應用領域
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對各種產品、部件和材料表?的平?度、粗糙度、波紋度、?形輪廓、表?缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階?度、彎曲變形情況、加?情況等表?形貌特征進?測量和分析。
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