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hustec

華科智源是一家專(zhuān)業(yè)從事功率半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)自主研發(fā)制造與綜合測(cè)試分析服務(wù)的高新技術(shù)企業(yè),核心業(yè)務(wù)為半導(dǎo)體功率器件智能檢測(cè)準(zhǔn)備研制生產(chǎn)。

51 內(nèi)容數(shù) 1.1w 瀏覽量 2 粉絲

三極管測(cè)試儀/設(shè)備

型號(hào): HUSTEC-1600A-MT

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 設(shè)備尺寸 500(寬)x 450(深)x 250(高)mm
  • 質(zhì)量 30kg
  • 海拔高度 海拔不超過(guò) 1000m
  • 儲(chǔ)存環(huán)境 -20℃~50℃
  • 工作環(huán)境 15℃~40℃
  • 相對(duì)濕度 20%RH ~ 85%RH
  • 大氣壓力 86Kpa~ 106Kpa
  • 防護(hù) 無(wú)較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導(dǎo)電粉塵等空氣污染的損害
  • 水電氣 用電要求:AC220V,±10%
  • 電網(wǎng)頻率 50Hz±1Hz

--- 產(chǎn)品詳情 ---

華科智源HUSTEC-1600A-MT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀可用于多種封裝形式的 IGBT測(cè)試,還可以測(cè)量大功率二極管 、IGBT模塊,大功率 IGBT、大功率雙極型晶體管,MOS管等器件的 V-I 特性測(cè)試,測(cè)試1200A(可擴(kuò)展至2000A),5000V以下的各種功率器件,廣泛應(yīng)用于軌道交通,電動(dòng)汽車(chē) ,風(fēng)力發(fā)電,變頻器,焊機(jī)行業(yè)的IGBT來(lái)料選型和失效分析,設(shè)備還可以用于變頻器,風(fēng)電,軌道交通,電焊機(jī)等行業(yè)的在線(xiàn)檢修,無(wú)需從電路板上取下來(lái)進(jìn)行單獨(dú)測(cè)試,可實(shí)現(xiàn)在線(xiàn)IGBT檢測(cè),測(cè)試方便,測(cè)試過(guò)程簡(jiǎn)單,既可以在測(cè)試主機(jī)里設(shè)置參數(shù)直接測(cè)試,又可以通過(guò)軟件控制主機(jī)編程后進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試,通過(guò)電腦操作完成 IGBT 的靜態(tài)參數(shù)測(cè)試;
 

三極管測(cè)試儀/設(shè)備產(chǎn)品信息:

1、產(chǎn)品型號(hào)及名稱(chēng):HUSTEC-3000A-MT IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀

2、產(chǎn)品測(cè)試電流電壓為3000A,±5000V,向下兼容

3、VGE最高可達(dá)±100V;開(kāi)啟電壓VGETH支持兩種測(cè)試方法;

4、采用插槽式設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),便于升級(jí)和維護(hù);

5、設(shè)備支持SI基,SIC材料的MOS管,IGBT單管及模塊,二極管測(cè)試,晶閘管測(cè)試,

6、自動(dòng)進(jìn)行分檔測(cè)試,既覆蓋大功率特征下的測(cè)試范圍,又可保證小功率器件測(cè)試精度

7、支持單點(diǎn)測(cè)試,I-V曲線(xiàn)掃描,還具有曲線(xiàn)對(duì)比功能;

8、測(cè)試數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)為Excel文件,WORD報(bào)告

9、安全性,防爆,防觸電,防燙傷,短路保護(hù)等多重保護(hù)措施,確保操作人員、設(shè)備、數(shù)據(jù)及樣品安全。
 

三極管測(cè)試儀/設(shè)備測(cè)試參數(shù):

ICES  集電極-發(fā)射極漏電流

IGESF 正向柵極漏電流

IGESR 反向柵極漏電流

BVCES 集電極-發(fā)射極擊穿電壓

VGETH 柵極-發(fā)射極閾值電壓

VCESAT 集電極-發(fā)射極飽和電壓

ICON 通態(tài)電極電流

VGEON 通態(tài)柵極電壓

VF 二極管正向?qū)▔航?/p>

整個(gè)測(cè)試過(guò)程自動(dòng)完成,電腦軟件攜帶數(shù)據(jù)庫(kù)管理查詢(xún)功能,可生成測(cè)試曲線(xiàn),方便操作使用

 

三極管測(cè)試儀/設(shè)備基礎(chǔ)能力:

1) 測(cè)試電壓范圍:0-±5000V

2) 測(cè)試電流范圍:0-±1600A

3) 測(cè)試柵極電壓范圍:0-±100V

4) 電壓分辨率:0.1mV

5) 電流分辨率:0.1nA
 

三極管測(cè)試儀/設(shè)備測(cè)試種類(lèi)及參數(shù):

(1)Diode(支持 Si ,SiC , GaN 材料器件)

靜態(tài)參數(shù):BVR/擊穿電壓、IR/漏電流、VF/正向壓降;

(2)MOSFET(支持 Si ,SiC , GaN 材料器件)

靜態(tài)參數(shù):BVDSS/漏源極擊穿電壓,VGS(th)/柵極開(kāi)啟電壓,IDSS 漏源極漏電流、VF/二極管正向壓降;Rdson 內(nèi)阻

(3)IGBT單管及模塊(支持 Si ,SiC , GaN 材料器件)

靜態(tài)參數(shù):BVCES/集射極擊穿電壓,VGE(th)/柵極開(kāi)啟電壓 、ICES/集射極漏電流、VF/二極管正向壓降;VCESAT/飽和壓降,IGESR,IGESF 柵極漏電流

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