產品
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大功率IGBT模塊測試設備2026-03-04 17:10
產品型號：HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸：500（寬）x 450（深）x 250（高）mm 質量：30kg 海拔高度：海拔不超過 1000m 儲存環境：-20℃～50℃ 工作環境：15℃～40℃ -
功率半導體測試設備2026-03-04 10:06
產品型號：HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸：500（寬）x 450（深）x 250（高）mm 質量：30kg 海拔高度：海拔不超過 1000m 儲存環境：-20℃～50℃ 工作環境：15℃～40℃ -
半導體分立器件靜態參數測試系統2026-03-03 14:31
產品型號：HUSTEC-DC-2010 設備尺寸：500（寬）x 450（深）x 250（高）mm 質量：30kg 海拔高度：海拔不超過 1000m 儲存環境：-20℃～50℃ 工作環境：15℃～40℃ -
半導體分立器件測試系統2026-03-03 11:44
產品型號：HUSTEC-DC-2010 主機尺寸：深 660*寬 430*高 210(mm) 主機重量：＜35kg 主機顏色：銀色系 主機功耗：＜300W 海拔高度：海拔不超過 4000m -
晶體管測試儀2026-02-28 14:58
產品型號：HUSTEC-1600A-MT 主機尺寸：深 660*寬 430*高 210(mm) 主機重量：＜35kg 主機顏色：銀色系 主機功耗：＜300W 海拔高度：海拔不超過 4000m -
SiC器件靜態參數測試儀2026-02-27 16:20
產品型號：HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸：500（寬）x 450（深）x 250（高）mm 質量：30kg 海拔高度：海拔不超過 1000m 儲存環境：-20℃～50℃ 工作環境：15℃～40℃ -
元器件靜態參數測試儀2026-02-27 11:35
產品型號：HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸：500（寬）x 450（深）x 250（高）mm 質量：30kg 海拔高度：海拔不超過 1000m 儲存環境：-20℃～50℃ 工作環境：15℃～40℃ -
分立器件測試設備系統2026-02-27 09:53
產品型號：HUSTEC-DC-2010 設備尺寸：500（寬）x 450（深）x 250（高）mm； 質量：30kg 海拔高度：海拔不超過 1000m 儲存環境：-20℃～50℃ 工作環境：15℃～40℃ -
半導體靜態參數測試系統2026-02-26 16:08
產品型號：HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸：500（寬）x 450（深）x 250（高）mm 質量：30kg 海拔高度：海拔不超過 1000m 儲存環境：-20℃～50℃ 工作環境：15℃～40℃ -
功率半導體測試儀2026-02-26 15:30
產品型號：HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸：500（寬）x 450（深）x 250（高）mm 質量：30kg 海拔高度：海拔不超過 1000m 儲存環境：-20℃～50℃ 工作環境：15℃～40℃