金鑒實驗室文章

• LED燈珠來料檢驗2025-07-24 11:30

  

  燈珠是LED燈具最核心的原物料，直接決定了燈具的性能和可靠性。大多LED照明廠商出于投資回報比的考量，并未采購專業的微觀結構檢測設備，也缺乏材料學科的專業技術人員。LED燈珠來料檢驗的優點1.來料檢驗，封裝工藝檢查，及時排查不合格的LED燈珠批次燈珠品質是影響LED燈具產品質量的最重要因素，燈珠品質又與封裝工藝、物料微觀結構息息相關，如不合格的引線鍵合工藝會

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• EBSD測試主要測什么?2025-07-23 17:04

  

  EBSD技術，即電子背散射衍射技術，是一種在材料科學領域中廣泛應用的分析技術。它通過與掃描電子顯微鏡（SEM）的結合使用，能夠提供材料表面下微觀結構的詳細信息，包括晶粒的取向、晶界類型、再結晶碳化物、顯微織構、相鑒別以及晶界特征等。這些信息對于理解材料的力學性能、熱處理過程、相變行為以及微觀結構與宏觀性能之間的關系至關重要。EBSD技術的工作原理EBSD技術

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• 什么是超聲波掃描顯微鏡技術？2025-07-22 14:54

  

  超聲波的基本概念與屬性超聲波，這種聲波的頻率超出了人類聽覺的極限，即超過20000赫茲。它們在物理特性上與普通聲波相似，但由于頻率極高，使得人類耳朵無法感知。超聲波在遇到真空時無法傳播，且在頻率達到10MHz以上時，也無法穿透空氣。這種聲波展現出幾個獨特的屬性：它們在遇到空氣時會發生全反射，能夠在各種界面上產生反射，并且由于波長極短，它們能夠像光線一樣沿直線

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• 電子背散射衍射（EBSD）技術原理與數據解讀2025-07-22 14:53

  

  電子背散射衍射（EBSD）技術是一種高效的材料分析手段，它依賴于對電子束與材料相互作用后產生的背散射電子衍射圖樣進行分析，以獲得材料晶體學的特征。該技術能夠揭示材料內部的微觀構造、晶體的朝向、相態的組成以及織構特征等重要參數，對推動材料科學研究和實際生產中的應用具有顯著的價值。EBSD系統的組成EBSD系統通常集成在掃描電子顯微鏡（SEM）中，其基本組成部分

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• X-Ray檢測技術及其應用2025-07-22 14:48

  

  X-Ray檢測技術自20世紀70年代開始應用于工業領域以來，憑借其在微米范圍內對材料缺陷分析的高精度優勢，逐漸成為無損檢測領域的重要技術手段。隨著電子產品的微小化以及對元部件可靠性要求的不斷提高，X-Ray檢測技術在材料無損檢測中的應用日益廣泛，并且隨著技術的不斷革新，其應用范圍也在持續拓展。X-Ray檢測的基本原理微焦點X-Ray檢測的核心原理是利用X射線

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• LED芯片越亮，發熱量越大，還是芯片越暗，發熱量越大？2025-07-21 16:16

  

  LED芯片越亮，發熱量越大，還是芯片越暗，發熱量越大？遇到這個問題，相信很多人都會認為是芯片越暗，發熱量越大，因為更多都能量轉化成了熱能。但是，事實并非如此，LED芯片越亮，發熱量可能越大，也可能會越小，這是因為電流密度大小會決定芯片的光功率和熱功率大小，同時溫度也會影響芯片的發光效率。那么應該如何分析LED芯片的發光發熱性能并加以利用？下面我們將通過金鑒顯

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• SEM與TEM該如何選擇?2025-07-18 21:05

  

  掃描電鏡（SEM）把細束電子像畫筆一樣在樣品表面來回掃描，電子與表層原子短暫碰撞后，釋放出二次電子或背散射電子。探測器把這些信號逐點收集、放大，最后在屏幕上拼成一幅二維強度圖。因為作用深度只有幾納米，SEM的圖像顆粒輪廓、裂紋走向、元素襯度一目了然。透射電鏡（TEM）則讓高能電子直接“穿墻而過”。只有當樣品被削到百納米以下，電子才能帶著晶格間距、厚度、缺陷密

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• LED支架鍍層結構觀察：手工磨樣、氬離子拋光、FIB三種方法大PK2025-07-18 21:03

  

  制樣方式由于切片分析可以獲取到豐富的樣品內部微觀結構信息，因此被金鑒實驗室廣泛應用于LED支架結構觀察。例如：支架鍍層的厚度與均勻度，鍍層內部質量、鍍層晶體結構和形貌、基材的材質與質量，無一不關乎到LED使用壽命。1.手工機械研磨樣雖價格便宜可觀察區域面積大，但由于其受到硬度、延展性等材料性能的影響，做出來的截面常常有變形、磨痕、脫落、褶皺、熱損傷等特性，產

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• FIB-SEM的常用分析方法2025-07-17 16:07

  

  聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）是一種集多種先進技術于一體的微觀分析儀器，其工作原理基于離子束與電子束的協同作用。掃描電子顯微鏡（SEM）工作機制掃描電子顯微鏡（SEM）的核心成像邏輯并非傳統透射電鏡（TEM）所依賴的多級電磁透鏡放大，而是以極細的電子探針在樣品表面執行“光柵式”逐點逐行掃描。電子槍產生的初始電子束經2–3級電磁透鏡聚焦，最終形成直徑可小

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• AEC-Q102之什么是錫須生長？2025-07-17 16:06

  

  AEC-Q102標準是由汽車電子委員會制定的一系列嚴格規范，目的是確保汽車使用的電子元件能夠在嚴酷的工作環境中保持高度的可靠性和性能穩定性。在這些規范中，錫須測試占據了至關重要的地位，它專門用來評估電子元件在預期服務壽命期間產生錫須的潛在可能性。錫須測試對于維護汽車電子系統的安全性和可靠性是必不可少的，它幫助確保元件在面對高溫、濕度和其他環境壓力時不會發生故

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