動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2024-12-04 12:37

  離子束技術(shù)在多領(lǐng)域的應(yīng)用探索

  

  聚焦離子束技術(shù)（FIB）聚焦離子束技術(shù)（FocusedIonBeam，F(xiàn)IB）是一種高精度的微納加工手段，它通過加速并聚焦液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束，照射在樣品表面，從而產(chǎn)生二次電子信號(hào)以形成電子像。這一過程與掃描電子顯微鏡（SEM）的成像原理相似，但FIB利用高能離子束對(duì)材料表面原子進(jìn)行剝離，實(shí)現(xiàn)微米至納米級(jí)別的精確加工。FIB技術(shù)結(jié)合物理濺射和化學(xué)氣體反

  fib 離子束 芯片

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• 發(fā)布了文章 2024-12-04 12:35

  什么是RoHS測試？

  

  RoHS，全稱為《電氣、電子設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》，是一個(gè)旨在限制電子電氣產(chǎn)品中特定有害物質(zhì)使用的法規(guī)。歐盟于2006年7月1日實(shí)施了RoHS指令的第一版（RoHS1.0），明確限制了六種有害物質(zhì)的使用，包括鉛、鎘、汞、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚。違反這些限制的產(chǎn)品在出口到歐盟時(shí)可能會(huì)受到重罰。RoHS2.02015年6月4日，歐盟通過指令(EU

  RoHS 測試 電氣

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• 發(fā)布了文章 2024-12-03 12:18

  LED驅(qū)動(dòng)電源故障診斷與分析

  

  在LED照明系統(tǒng)中，驅(qū)動(dòng)電源的穩(wěn)定性對(duì)于整個(gè)燈具的壽命至關(guān)重要。盡管LED光源本身具有較長的使用壽命，但LED驅(qū)動(dòng)電源的復(fù)雜性往往導(dǎo)致其成為系統(tǒng)中的薄弱環(huán)節(jié)。據(jù)統(tǒng)計(jì)，超過80%的LED燈具失效是由于驅(qū)動(dòng)電源的問題引起的。電子元器件的老化問題電子元器件是LED驅(qū)動(dòng)電源的核心組成部分，包括電阻、電容、二極管、三極管等。這些元器件在長期使用過程中，可能會(huì)因?yàn)殚_路、

  led 照明系統(tǒng) 驅(qū)動(dòng)電源

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• 發(fā)布了文章 2024-12-03 12:17

  材料失效分析方法匯總

  

  材料故障診斷學(xué)：失效分析技術(shù)失效分析技術(shù)，作為材料科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)的關(guān)鍵分支，致力于運(yùn)用科學(xué)方法論來識(shí)別、分析并解決材料與產(chǎn)品在實(shí)際應(yīng)用過程中出現(xiàn)的故障問題。該技術(shù)對(duì)于增強(qiáng)產(chǎn)品的可靠性、改進(jìn)設(shè)計(jì)、優(yōu)化制造流程、減少成本以及提升市場競爭力扮演著至關(guān)重要的角色。失效分析的科學(xué)方法論失效分析的科學(xué)方法論是一套系統(tǒng)化流程，它從識(shí)別失效模式著手，通過觀察失效現(xiàn)象，逐步推導(dǎo)出

  失效分析 材料 電子元器件

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• 發(fā)布了文章 2024-12-03 12:16

  電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)在孿晶結(jié)構(gòu)分析中的應(yīng)用研究

  

  電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)作為一種先進(jìn)的材料表征手段，其在孿晶分析中的應(yīng)用日益廣泛。EBSD技術(shù)通過分析掃描電鏡中電子束與樣品表面相互作用產(chǎn)生的衍射菊池帶，能夠精確地確定材料的晶體結(jié)構(gòu)、取向以及晶界等信息。TWIP鋼(Fe–22wt.%Mn–0.6wt.%C,FCC)的孿生變形行為取向依賴性(a)拉伸真應(yīng)變?yōu)?.3時(shí)試樣縱截面取向成像圖;(b)產(chǎn)生和未產(chǎn)

  材料 電子束 鎂合金

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• 發(fā)布了文章 2024-12-03 12:14

  雙束FIB-SEM系統(tǒng)在材料科學(xué)中的應(yīng)用

  

  導(dǎo)語聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）是一種先進(jìn)的微納加工和成像技術(shù)，它在材料科學(xué)研究中扮演著不可或缺的角色。FIB-SEM系統(tǒng)能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行精確的定點(diǎn)切割和分析，從而揭示材料內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)和成分。以CdS微米線為例，通過光學(xué)顯微鏡觀察，我們可以看到微米線節(jié)點(diǎn)處可能含有其他物質(zhì)，但無法確定具體成分和內(nèi)部形貌。利用FIB-SEM技術(shù)，我們可以在節(jié)點(diǎn)處

  掃描電鏡 顯微鏡 材料

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• 發(fā)布了文章 2024-12-02 15:26

  什么是高低溫濕熱試驗(yàn)（THB）？

  

  濕熱試驗(yàn)概述濕熱試驗(yàn)是環(huán)境工程領(lǐng)域中一種關(guān)鍵的測試方法，通過在控制的高溫和高濕環(huán)境下對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行暴露，以評(píng)估產(chǎn)品在實(shí)際使用中對(duì)潮濕環(huán)境的適應(yīng)性和耐久性。這種測試對(duì)于確保電子產(chǎn)品、電氣設(shè)備、汽車零件、航空器材以及軍事裝備等產(chǎn)品在潮濕環(huán)境中的性能和可靠性至關(guān)重要。濕熱試驗(yàn)的應(yīng)用領(lǐng)域1.產(chǎn)品開發(fā)與設(shè)計(jì)階段在這個(gè)階段，濕熱試驗(yàn)用于研究和評(píng)估潮濕環(huán)境對(duì)產(chǎn)品設(shè)計(jì)的影響。通

  恒定濕熱試驗(yàn) 測試

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• 發(fā)布了文章 2024-12-02 15:25

  FIB測試技術(shù)

  

  聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術(shù)是一種精密的微納加工手段，它通過將離子束聚焦到極高的精度，實(shí)現(xiàn)對(duì)材料的精確蝕刻和加工。FIB技術(shù)的核心在于其能夠產(chǎn)生具有極細(xì)直徑的離子束，這使得它在納米尺度的加工領(lǐng)域中扮演著不可或缺的角色。FIB的工作原理FIB的工作原理基于離子源產(chǎn)生的離子束，這些離子在電場的作用下被加速并聚焦成細(xì)束。當(dāng)這些高能離子

  fib 測試 離子束

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• 發(fā)布了文章 2024-12-02 15:24

  電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）：原理、測試方法與應(yīng)用領(lǐng)域

  

  電子背散射衍射電子背散射衍射技術(shù)（EBSD），作為一種尖端的材料分析手段，融合了掃描電子顯微鏡（SEM）的精細(xì)成像與電子衍射的晶體學(xué)分析技術(shù)。電子束與樣品的相互作用在EBSD測試中，首先利用SEM產(chǎn)生的高能電子束照射到材料表面。當(dāng)電子束與樣品原子相互作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生多種信號(hào)，其中包括背散射電子。衍射現(xiàn)象電子束與樣品中的晶體結(jié)構(gòu)相互作用時(shí)，會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象。衍射電

  SEM 探測器 顯微鏡

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• 發(fā)布了文章 2024-12-02 15:23

  X射線熒光光譜分析儀（XRF）：高效能譜分析技術(shù)

  

  元素檢測需要擁有先進(jìn)的能量色散X熒光光譜儀，能夠?yàn)榭蛻籼峁└呔鹊脑胤治龇?wù)，確保您的產(chǎn)品符合國際標(biāo)準(zhǔn)。元素檢測范圍可以針對(duì)多種元素進(jìn)行精準(zhǔn)檢測，確保您的產(chǎn)品符合RoHS指令的要求。1.RoHS指令限制物質(zhì)：包括鉛、鎘、汞、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚。2.鹵素族元素：如溴、氯等。3.其他元素：涵蓋銅、鐵、錫、鎳、錳、鉍、銻、銀、砷、鉻、鈷、鋁、汞、鋅等。

  分析儀 檢測 電氣設(shè)備

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