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• 發布了產品 2026-03-04 17:10

  大功率IGBT模塊測試設備

  

  產品型號：HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸：500（寬）x 450（深）x 250（高）mm 質量：30kg 海拔高度：海拔不超過 1000m

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• 發布了產品 2026-03-04 10:06

  功率半導體測試設備

  

  產品型號：HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸：500（寬）x 450（深）x 250（高）mm 質量：30kg 海拔高度：海拔不超過 1000m

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• 發布了產品 2026-03-03 14:31

  半導體分立器件靜態參數測試系統

  

  產品型號：HUSTEC-DC-2010 設備尺寸：500（寬）x 450（深）x 250（高）mm 質量：30kg 海拔高度：海拔不超過 1000m

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• 發布了產品 2026-03-03 11:44

  半導體分立器件測試系統

  

  產品型號：HUSTEC-DC-2010 主機尺寸：深 660*寬 430*高 210(mm) 主機重量：＜35kg 主機顏色：銀色系

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• 發布了產品 2026-02-28 14:58

  晶體管測試儀

  

  產品型號：HUSTEC-1600A-MT 主機尺寸：深 660*寬 430*高 210(mm) 主機重量：＜35kg 主機顏色：銀色系

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• 發布了產品 2026-02-27 16:20

  SiC器件靜態參數測試儀

  

  產品型號：HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸：500（寬）x 450（深）x 250（高）mm 質量：30kg 海拔高度：海拔不超過 1000m

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• 發布了產品 2026-02-27 11:35

  元器件靜態參數測試儀

  

  產品型號：HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸：500（寬）x 450（深）x 250（高）mm 質量：30kg 海拔高度：海拔不超過 1000m

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• 發布了產品 2026-02-27 09:53

  分立器件測試設備系統

  

  產品型號：HUSTEC-DC-2010 設備尺寸：500（寬）x 450（深）x 250（高）mm； 質量：30kg 海拔高度：海拔不超過 1000m

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• 發布了產品 2026-02-26 16:08

  半導體靜態參數測試系統

  

  產品型號：HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸：500（寬）x 450（深）x 250（高）mm 質量：30kg 海拔高度：海拔不超過 1000m

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• 發布了產品 2026-02-26 15:30

  功率半導體測試儀

  

  產品型號：HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸：500（寬）x 450（深）x 250（高）mm 質量：30kg 海拔高度：海拔不超過 1000m

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