冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber

型號(hào)： TS系列

--- 產(chǎn)品詳情 ---

簡(jiǎn)單介紹

TS系列冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶(hù)選擇，充分滿(mǎn)足不同用戶(hù)的各種要求；設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber 的詳細(xì)介紹

TS系列冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備特點(diǎn)
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶(hù)選擇，充分滿(mǎn)足不同用戶(hù)的各種要求；
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；
高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng)，使用壽命長(zhǎng)；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減小；
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門(mén)的高密封性；
多種可選功能（測(cè)試孔、記錄儀、測(cè)試電纜等）保證了用戶(hù)多種功能和測(cè)試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求；

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber可根據(jù)用戶(hù)要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能

溫度控制
可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過(guò)程的全程記錄和追溯；
每臺(tái)電機(jī)均配置過(guò)流（過(guò)熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿(mǎn)足客戶(hù)的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備滿(mǎn)足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則
GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.5A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法107 溫度沖擊試驗(yàn)

主要技術(shù)指標(biāo):

兩箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱
型號(hào)			CTS-50	CTS-120	CTS-180
HxWxD(mm)		內(nèi)	300x460x350	500x610x400	600x660x450
		外	2250x1200x1950	2720x1050x1950	2920x1100x2150
性能參數(shù)	高溫室	溫度暴露范圍	﹢60℃ ～ ﹢200℃
		預(yù)熱溫度上限	200℃
		升溫時(shí)間	R.T→﹢200℃約40min
	低溫室	溫度暴露范圍	0 ～ ﹣75℃
		預(yù)熱溫度下限	﹣75℃
		降溫時(shí)間	R.T→﹣70℃約60min
	提籃	溫度范圍	﹣65 ～ 150℃
		溫度波動(dòng)度	≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170﹣1996表示）
		溫度偏差	≤±2℃（﹣65℃ ～ ﹢150℃）
	轉(zhuǎn)換時(shí)間		≤5S
	溫度回復(fù)時(shí)間		≤5min
結(jié)構(gòu)	外箱材質(zhì)		冷軋鋼板表面噴塑（象牙白）
	內(nèi)箱材質(zhì)		#304鏡面不銹鋼（1.2mm）
	隔熱材料		非危廢類(lèi)環(huán)保型玻璃纖維保溫層
制冷	制冷方式		風(fēng)冷或水冷
	制冷機(jī)		進(jìn)口壓縮機(jī)
溫度傳感器			鎧裝鉑電阻
控制器			西門(mén)子PLC模塊（含宏展環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備嵌入式PLC控制軟件PlatinumV1.0）+7英寸彩色液晶觸摸控制屏（含宏展環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備嵌入式觸摸屏控制軟件PlatinumV1.0）。
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于功能接口			USB數(shù)據(jù)接口：設(shè)備帶有USB存儲(chǔ)接口，存儲(chǔ)信息包括試驗(yàn)時(shí)間、試驗(yàn)?zāi)繕?biāo)值和試驗(yàn)實(shí)測(cè)值等主要運(yùn)行參數(shù)，存儲(chǔ)格式為.csv格式，此文件可由宏展公司上位機(jī)通訊軟件直接生產(chǎn)曲線(xiàn)，該USB接口不支持熱插拔及下載功能，如要用U盤(pán)存儲(chǔ)試驗(yàn)數(shù)據(jù)，需一直讓U盤(pán)處于正常聯(lián)接狀態(tài)。 TCP/IP通訊接口：試驗(yàn)箱帶有RJ45數(shù)據(jù)接口，后期如購(gòu)買(mǎi)上位機(jī)通訊功能后（含宏展環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備嵌入式計(jì)算機(jī)軟件PlatinumV1.0），即可聯(lián)接此接口以實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)管理功能，單臺(tái)試驗(yàn)箱支持5臺(tái)計(jì)算機(jī)同時(shí)訪(fǎng)問(wèn)、上位機(jī)軟件*大可管理32臺(tái)試驗(yàn)箱。
裝機(jī)功率（KVA）			19.7	32	36
電源			AC380V 50Hz三相四線(xiàn)制+接地線(xiàn)
標(biāo)配配置			產(chǎn)品使用說(shuō)明書(shū)、試驗(yàn)報(bào)告1份、合格證及質(zhì)量保證書(shū)各1份、隔板2層、帶腳輪
滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)			GJB150.3、GJB150.4、GJB150.5、GB/T2423.1、GB/T2423.2
詳細(xì)參數(shù)以對(duì)應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格書(shū)為準(zhǔn)

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
型號(hào)			TSL-80A	TSL-150A	TSL-225A	TSL-408A
			TSU-80W	TSU-150W	TSU-225W	TSU-408W
			TSS-80W	TSS-150W	TSS-225W	TSS-408W
內(nèi)部尺寸（mm）		W	500	600	750	850
		H	400	500	500	600
		D	400	500	600	800
外形尺寸（mm）		W	1460	1560	1710	1880
		H	1840	1940	1940	2040
		D	1500	1600	1700	1900
試驗(yàn)方式			氣動(dòng)風(fēng)門(mén)切換2溫室或3溫室方式
性能	高溫室	預(yù)熱溫度范圍	﹢60℃ ～ ﹢200℃
	高溫室	升溫速率	﹢60→＋200℃≤20分鐘
	低溫室	預(yù)冷溫度范圍	﹣78－0℃
	低溫室	降溫速率	﹢20→－75℃≤80分鐘
	試驗(yàn)室	溫度偏差	±2℃
		溫度范圍	TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃ TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃ TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
		溫度恢復(fù)時(shí)間	5分鐘以?xún)?nèi)
試樣擱架承載能力（kg）			30
試樣重量（kg）			7.5	7.5	10	10
注：外形尺寸（不包括外形凸起部分）；升溫速率和降溫速率（溫度上升和溫度下降均為試驗(yàn)箱單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能）；溫度恢復(fù)條件（室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路）
詳細(xì)參數(shù)以對(duì)應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格書(shū)為準(zhǔn)

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber

---- 不符合此規(guī)格◎符合此規(guī)格可配增加此功能※可配增加LN2功能

試驗(yàn)規(guī)范

駐留溫度(℃)
(exposure temp.)

駐留溫度時(shí)間(Min)
(exposure time)

覆歸時(shí)間
(recovery time)

周期
或次數(shù)

試驗(yàn)起
始點(diǎn)

備注

適用機(jī)臺(tái)型號(hào)
TS-(80/150/225/408)

高溫

室溫

低溫

高溫/低溫

室溫

MIL-STD-883E
(Method No.1010.7)

+85

+10

----

-55

≧10min
≦15min

----

含駐留時(shí)間&
轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min

*少
10次

低溫或
高溫

Temperature Cycling
(轉(zhuǎn)換時(shí)間<1min)

實(shí)驗(yàn)過(guò)程若中斷
超過(guò)總實(shí)驗(yàn)之1/10
次則實(shí)驗(yàn)須重做

◎

----

+125

+15

◎

----

-10

+150

+15

◎

----

+150

+15

-65

◎

----

-10

MIL-STD-202F
(Method No.107G)

+83

-25

+10

-55

28g以下
15～30 Min
28～136g
30Min
136g～1.36Kg
60Min
1.36～13.6Kg
120Min
13.6~136Kg
240Min

Max.
5 Min

5 Min 以?xún)?nèi)

5 cycle
25
50
100

低溫

Transfer time
不超過(guò)5 min

◎

-3

+125

-65

◎

----

-5

+125

-65

◎

----

-5

JIS C 0025
IEC 68-2-14
GB 2423.22

+70

+85

+100

+125

±2

室溫

-5

-10

-25

-40

-55

-65

±3
±3
±3
±3
±3
±3

3hr
2hr
1hr
30min
或無(wú)定義則
以3hr定義

手動(dòng)轉(zhuǎn)
移時(shí)間
2～3Min

為駐留時(shí)間
之1/10

5 cycle
除非有
其它規(guī)格

低溫

Auto
Transfer time
不超過(guò)30 sec
小試件
Transfer time
不超過(guò)10 sec

★

◎

----

IPC 2.6.7

+70

±2

----

15 Min

----

2 Min 以?xún)?nèi)

100 cycle

高溫
(試驗(yàn)結(jié)束
點(diǎn)在高溫)

Transfer time
不超過(guò)2 min

★

-0

-5

+85

-40

◎

-0

-5

+105

-55

◎

．

-0

-5

+105

-65

．

----

-0

-5

+105

．

----

-0

IPC 2.6.6

+85

-25

+10

-55

30 Min

10-15
Min

5 cycle

◎

-0

-5

+125

-5

-65

◎

----

-0

-5

Bellcore
GR-1221-CORE

+70

±2

----

≧10min
≦15min

----

含駐留時(shí)間
&轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min

500 cycle
OR
1000cycle

◎

+80

±2

◎

JESD22
A104-A

+125

+10

-40

≦15min

含駐留時(shí)間
&轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min

抽10次
可接受;
1000次
合格

Temperature
Cycling
(轉(zhuǎn)換時(shí)間<1min)
實(shí)驗(yàn)過(guò)程若中斷
超過(guò)總實(shí)驗(yàn)之1/10
次則實(shí)驗(yàn)須重做

◎

-0

-10

+85

+10

-55

◎

．

-0

+125

+10

-0

-10

+150

+10

-0

+150

+10

-65

◎

．

----

北京宏展儀器有限公司

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber

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