購買聯系方式在主頁
主要特性與技術指標本精度本精度 +/-0.8%掃描參數頻率：1 MHz 至 3 GHz振蕩器電平：高達 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArmsDC 偏置電平（選件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA更多特性Windows 風格的用戶界面內置 VBA 編程功能通過 LAN 接口進行數據傳輸多功能測量選件介電/磁性材料測量（選件 E4991A-002）可靠的晶圓測量（選件 E4991A-010）溫度特性測量（選件 E4991A-007）描述E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強大的內置分析功能。它將為元器件和電路設
計人員測量 3 GHz 以內的元器件提供創新功能，幫助他們進行研發工作。與反射測量技術不同，E4991A
使用射頻電流–電壓（RF-IV）技術，可在廣泛的阻抗范圍內提供更精確的阻抗測量結果。本阻抗精度是
+/-0.8%。高 Q 精度有利于進行低功耗元器件分析。內置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的掃描范圍和 1
mHz的分辨率。材料評估E4991A 提供完整的介電/磁性材料測量解決方案，涵蓋 1 MHz 至 1 GHz的寬頻率范圍。E4991A 射頻阻抗/材料分析儀主要特性與技術指標本精度本精度 +/-0.8%掃描參數頻率：1 MHz 至 3 GHz振蕩器電平：高達 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArmsDC 偏置電平（選件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA更多特性Windows 風格的用戶界面內置 VBA 編程功能通過 LAN 接口進行數據傳輸多功能測量選件介電/磁性材料測量（選件 E4991A-002）可靠的晶圓測量（選件 E4991A-010）溫度特性測量（選件 E4991A-007）描述E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強大的內置分析功能。它將為元器件和電路設
計人員測量 3 GHz 以內的元器件提供創新功能，幫助他們進行研發工作。與反射測量技術不同，E4991A
使用射頻電流–電壓（RF-IV）技術，可在廣泛的阻抗范圍內提供更精確的阻抗測量結果。本阻抗精度是
+/-0.8%。高 Q 精度有利于進行低功耗元器件分析。內置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的掃描范圍和 1
mHz的分辨率。
材料評估E4991A 提供完整的介電/磁性材料測量解決方案，涵蓋 1 MHz 至 1 GHz的寬頻率范圍。
晶圓測量借助E4991A-010 探針臺連接套件，您可輕松地地將 keysight E4991A 連接到射頻探頭系統（由
Cascade microtech 提供）上進行晶圓測量。
溫度特性評估溫度特性測試套件 E4991A-007 是一款為元器件和材料進行溫度特性測量的新型解決方案。該選件可在
- 55°C 至 + 150°C 廣泛的溫度范圍內提供高精度的溫度特性分析功能，以及強大的溫度漂移補償功能。
