E4991A 射頻阻抗/材料分析儀E4991A 射頻阻抗/材料分析儀

基本精度基本精度 +/-0.8%

掃描參數頻率：1 MHz 至 3 GHz

振蕩器電平：高達 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArmsDC 

偏置電平（選件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA更多特性Windows

 風格的用戶界面內置 VBA 

編程功能通過 LAN 接口進行數據傳輸E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強大的內置分析功能。

它將為元器件和電路設計人員測量 3 GHz 以內的元器件提供創新功能，

幫助他們進行研發工作。

與反射測量技術不同，

E4991A 使用射頻電流–電壓（RF-IV）技術，

可在廣泛的阻抗范圍內提供更精確的阻抗測量結果。

基本阻抗精度是 +/-0.8%。

高 Q 精度有利于進行低功耗元器件分析。

內置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的掃描范圍和 1 mHz的分辨率。

材料評估E4991A 提供完整的介電/磁性材料測量解決方案，

涵蓋 1 MHz 至 1 GHz的寬頻率范圍。

晶圓測量借助E4991A-010 探針臺連接套件，

您可輕松地地將 Keysight E4991A 連接到射頻探頭系統

（由 Cascade Microtech 提供）上進行晶圓測量。