2600A系列特點
263單通道系統數字源表，2636A雙通道系統數字源表
執行并行測試，獲得無以倫比的吞吐量
20,000讀數/秒提供更快的測試時間和能力，捕捉器件瞬態性能
系列產品提供寬動態范圍：1fA～10A和1μV～200V
TSP-Link總線支持每GPIB或IP地址多達32單元/64通道的通道擴展
測試腳本處理器(TSP)以*的系統自動化在儀器中執行完整的測試程序(腳本)
USB端口用于保存數據和測試腳本
LXI Class C兼容性提供高速數據傳輸并且實現快捷地遠程測試、監控和排錯

263和2636A主要指標
電壓測量
量程 顯示分辨率 輸入阻抗 準確度(1年)
23℃±5℃
200.000mV 1μV >1014Ω ±(0.015%+225μV)
2.00000V 10μV >1014Ω ±(0.02%+350μV)
20.0000V 100μV >1014Ω ±(0.015%+5mV)
200.000V 1mV >1014Ω ±(0.015%+50mV)
電流測量
量程 顯示分辨率 輸入端壓降 準確度(1年)
23℃±5℃
100.00pA 1fA <1mV ±(0.15%+120fA)
1.00000nA 10fA <1mV ±(0.15%+240fA)
10.0000nA 100fA <1mV ±(0.15%+3pA)
100.000nA 1pA <1mV ±(0.06%+40pA)
1.00000μA 10pA <1mV ±(0.025%+400pA)
10.0000μA 100pA <1mV ±(0.025%+1.5nA)
100.000μA 1nA <1mV ±(0.02%+25nA)
1.00000mA 10nA <1mV ±(0.02%+200nA)
10.0000mA 100nA <1mV ±(0.02%+2.5μA)
100.000mA 1μA <1mV ±(0.02%+20μA)
1.00000A 10μA <1mV ±(0.03%+1.5mA)
1.50000A 10μA <1mV ±(0.05%+3.5mA)
10.0000A 100μA <1mV ±(0.4%+25mA)
典型應用 I-V功能測試和特性分析，
晶圓級可靠性測試，
測試集成電路如RFIC、ASIC、SOC，
測試光電器件如LED、VCSEL和顯示器，
測試納米材料和器件。