新啟航半導體有限公司文章

• 碳化硅 TTV 厚度在 CMP 工藝中的反饋控制機制研究2025-09-11 11:56

  

  一、引言 化學機械拋光（CMP）工藝是實現碳化硅（SiC）襯底全局平坦化的關鍵技術，對提升襯底質量、保障后續器件性能至關重要。總厚度偏差（TTV）作為衡量碳化硅襯底質量的核心指標之一，其精確控制是 CMP 工藝的重要目標。研究碳化硅 TTV 厚度在 CMP 工藝中的反饋控制機制，有助于優化工藝參數，實現 TTV 厚度的精準調控，推動碳化硅產業高質量發展。 二

  CMP 拋光 碳化硅 785瀏覽量

• 探針式與非接觸式碳化硅 TTV 厚度測量方法對比評測2025-09-10 10:26

  

  一、引言 碳化硅（SiC）作為寬禁帶半導體材料，在功率器件、射頻器件等領域應用廣泛。總厚度偏差（TTV）是衡量碳化硅襯底質量的關鍵指標，準確測量 TTV 對保障器件性能至關重要。目前，探針式和非接觸式是碳化硅 TTV 厚度測量的兩種主要方法，深入對比評測二者特性，有助于選擇合適的測量方案，提升測量效率與準確性。 二、測量原理 2.1 探針式測量原理 探針式測

  厚度測量 晶圓 碳化硅 1260瀏覽量

• 【新啟航】碳化硅 TTV 厚度與表面粗糙度的協同控制方法2025-09-04 09:34

  

  摘要 本文圍繞碳化硅晶圓總厚度變化（TTV）厚度與表面粗糙度的協同控制問題，深入分析二者的相互關系及對器件性能的影響，從工藝優化、檢測反饋等維度提出協同控制方法，旨在為提升碳化硅襯底質量、保障半導體器件性能提供技術方案。 引言 在碳化硅半導體制造中，TTV 厚度與表面粗糙度是衡量襯底質量的重要指標，直接影響器件的電學性能、熱性能及可靠性。TTV 厚度不

  器件 晶圓 碳化硅 896瀏覽量

• 碳化硅襯底 TTV 厚度測量技術的最新發展趨勢與未來展望2025-09-01 11:58

  

  摘要 本文聚焦碳化硅襯底晶圓總厚度變化（TTV）厚度測量技術，剖析其在精度提升、設備小型化及智能化測量等方面的最新發展趨勢，并對未來在新興應用領域的拓展及推動半導體產業發展的前景進行展望，為行業技術研發與應用提供參考思路。 引言 在半導體制造領域，碳化硅襯底憑借其優異的物理特性，如高擊穿電場、高熱導率等，成為制造高性能功率器件和射頻器件的關鍵材料。而 TTV

  晶圓 測量 1021瀏覽量

• 【新啟航】便攜式碳化硅襯底 TTV 厚度測量設備的性能與適用場景2025-08-29 14:43

  

  摘要 本文圍繞便攜式碳化硅襯底 TTV 厚度測量設備，深入分析其測量精度、速度、便攜性等性能指標，并結合半導體生產車間、科研實驗室、現場檢測等場景，探討設備的適用性，旨在為行業選擇合適的測量設備提供參考依據。 引言 隨著碳化硅半導體產業的快速發展，對碳化硅襯底晶圓總厚度變化（TTV）的精確測量需求日益增長。傳統測量設備多為大型臺式儀器，存在使用場景受限、無法

  晶圓 測量設備 碳化硅 1107瀏覽量

• 【新啟航】碳化硅襯底 TTV 厚度不均勻性測量的特殊采樣策略2025-08-28 14:03

  

  摘要 本文聚焦碳化硅襯底 TTV 厚度不均勻性測量需求，分析常規采樣策略的局限性，從不均勻性特征分析、采樣點布局優化、采樣頻率確定等方面提出特殊采樣策略，旨在提升測量效率與準確性，為碳化硅襯底質量評估提供更可靠的數據支持。 引言 在碳化硅半導體制造領域，晶圓總厚度變化（TTV）不均勻性是影響器件性能和良率的關鍵因素。精確測量 TTV 厚度不均勻性有助于及時發

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• 碳化硅襯底 TTV 厚度不均勻性測量的特殊采樣策略2025-08-27 14:28

  

  摘要 本文聚焦碳化硅襯底 TTV 厚度不均勻性測量需求，分析常規采樣策略的局限性，從不均勻性特征分析、采樣點布局優化、采樣頻率確定等方面提出特殊采樣策略，旨在提升測量效率與準確性，為碳化硅襯底質量評估提供更可靠的數據支持。 引言 在碳化硅半導體制造領域，晶圓總厚度變化（TTV）不均勻性是影響器件性能和良率的關鍵因素。精確測量 TTV 厚度不均勻性有助于及時發

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• 碳化硅襯底 TTV 厚度測量中邊緣效應的抑制方法研究2025-08-26 16:52

  

  摘要 本文針對碳化硅襯底 TTV 厚度測量中存在的邊緣效應問題，深入分析其產生原因，從樣品處理、測量技術改進及數據處理等多維度研究抑制方法，旨在提高 TTV 測量準確性，為碳化硅半導體制造提供可靠的質量檢測保障。 引言 在碳化硅襯底 TTV 厚度測量過程中，邊緣效應是影響測量準確性的重要因素。由于襯底邊緣的應力分布不均、表面形貌差異以及測量時邊界條件的特殊性

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• 如何利用 AI 算法優化碳化硅襯底 TTV 厚度測量數據處理2025-08-25 14:06

  

  摘要 本文聚焦碳化硅襯底 TTV 厚度測量數據處理環節，針對傳統方法的局限性，探討 AI 算法在數據降噪、誤差校正、特征提取等方面的應用，為提升數據處理效率與測量準確性提供新的技術思路。 引言 在碳化硅半導體制造中，晶圓總厚度變化（TTV）是衡量襯底質量的關鍵指標。TTV 厚度測量數據處理的準確性直接影響工藝優化與產品良率。然而，測量數據常受環境噪聲、設備誤

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• 探針式碳化硅襯底 TTV 厚度測量儀的操作規范與技巧2025-08-23 16:22

  

  本文圍繞探針式碳化硅襯底 TTV 厚度測量儀，系統闡述其操作規范與實用技巧，通過規范測量流程、分享操作要點，旨在提高測量準確性與效率，為半導體制造過程中碳化硅襯底 TTV 測量提供標準化操作指導。 引言 在碳化硅半導體制造領域，精確測量襯底的晶圓總厚度變化（TTV）是保障芯片性能與良率的關鍵環節。探針式碳化硅襯底 TTV 厚度測量儀憑借其高精度的特點，在行業

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