金鑒實驗室文章

• 什么是透射電鏡？2025-03-06 17:18

  

  透射電子顯微鏡（TEM，TransmissionElectronMicroscope），簡稱透射電鏡，是一種以波長極短的電子束作為照明源的高分辨率、高放大倍數的電子光學儀器。透射電子顯微鏡的工作原理是通過電子槍發射電子束，經加速和聚焦后照射在樣品上。電子束與樣品相互作用后，強度和方向均發生改變，由于樣品各部位材料結構不同，投放到熒光屏上的各點強度也會不同，從

  顯微鏡 透射 透射電鏡 1742瀏覽量

• 一文了解AEC-Q車規認證2025-03-06 17:17

  

  AECQ認證是汽車零部件領域的一項重要車規級標準，它為汽車電子零部件的可靠性和質量提供了明確的規范和測試要求。金鑒實驗室作為專業的測試機構，能夠提供符合AEC-Q標準的全面測試服務，確保汽車電子組件的可靠性與質量，以滿足汽車行業對于安全性、持久性和穩定性的嚴苛要求。AEC（AutomotiveElectronicsCouncil，汽車電子委員會）是由克萊斯勒

  AEC 汽車電子 車規芯片 2128瀏覽量

• 聚焦離子束（FIB）技術：微納加工的利器2025-03-05 12:48

  

  聚焦離子束（FocusedIonBeam,FIB）技術是微納加工領域中不可或缺的關鍵技術。它憑借高精度、高靈活性和多功能性，成為眾多微納加工技術中的佼佼者。通過精確控制電場和磁場，FIB技術能夠將離子束聚焦到亞微米甚至納米級別，實現對樣品的直接加工和實時監測。FIB技術的核心組成1.離子源：技術的核心離子源是FIB技術的核心部件。通常采用液態金屬離子源（如鎵

  fib 離子束 聚焦 1025瀏覽量

• 氬離子截面技術與SEM在陶瓷電阻分析中的應用2025-03-05 12:44

  

  SEM技術及其在陶瓷電阻分析中的作用掃描電子顯微鏡（SEM）是一種強大的微觀分析工具，能夠提供高分辨率的表面形貌圖像。通過SEM測試，可以清晰地觀察到陶瓷電阻表面的微觀結構和形態特征，從而評估其質量。例如，可以判斷陶瓷電阻表面是否存在缺陷、裂紋或污染等問題。這些表面特征對陶瓷電阻的性能有著直接的影響，因此SEM在陶瓷電阻的質量控制和性能優化中發揮著重要作用。

  SEM 顯微鏡 陶瓷電阻 659瀏覽量

• 機械碰撞防護等級測試2025-03-05 12:43

  

  一機械碰撞防護等級（IK01~IK10）IK是指設備外殼的防沖擊防護等級，IK類似于IP防護等級，對于室外電子設備，無論是架空，地埋還是普通室外放置，都需要有相應的IP、IK要求。IK等級是焦耳為單位的擺錘自由落體撞擊來決定的，標識電器設備外殼對外界機械碰撞的防護等級(IK代碼)。IK代碼的特征數字組合為01到10，即：IK01，IK02，IK03，IK04

  機械 測試 防護等級 1390瀏覽量

• 芯片可靠性測試：性能的關鍵2025-03-04 11:50

  

  在芯片行業，可靠性測試是確保產品性能的關鍵環節。金鑒實驗室作為專業的檢測機構，提供全面的芯片可靠性測試服務，幫助企業在激烈的市場競爭中保持領先。預處理（Preconditioning，PC）預處理（PC）也稱為MSL濕度敏感試驗，主要針對芯片在吸收濕氣后，經過表面貼裝技術（SMT）回流焊接過程中可能出現的問題。在實際應用中，芯片吸收濕氣后可能會在焊接過程中出

  可靠性測試 芯片 1632瀏覽量

• 含溴阻燃劑檢測2025-03-04 11:50

  

  溴化阻燃劑簡介溴系阻燃劑（BrominatedFlameRetardants，簡稱BFRs）是含溴有機化合物的一大類，包括多溴二苯醚（簡稱PBDEs）、六溴環十二烷（簡稱HBCDD）和多溴聯苯（簡稱PBBs）等。這類化合物憑借其出色的阻燃效能，被廣泛地應用于塑料制品、各種紡織品以及兒童相關產品中，主要目的是提升這些產品的耐火性能。應用與潛在風險溴化阻燃劑的使

  印刷電路板 檢測 674瀏覽量

• 聚焦離子束技術在現代科技的應用2025-03-03 15:51

  

  聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術是一種在微觀尺度上對材料進行加工、分析和成像的先進技術。它在材料科學、半導體制造、納米技術等領域發揮著不可或缺的作用。FIB的基本原理聚焦離子束技術的核心在于利用高能離子束對樣品進行加工和分析。其基本原理是將鎵（Ga）等元素在強電場的作用下加速，形成高能離子束。通過精確控制電場和磁場，離子束能夠聚焦到

  fib 材料 離子束 841瀏覽量

• 氬離子束研磨拋光助力EBSD樣品的高效制備2025-03-03 15:48

  

  EBSD樣品制備EBSD樣品的制備過程對實驗結果的準確性和可靠性有著極為重要的影響。目前，常用的EBSD樣品制備方法包括機械拋光、電解拋光和聚焦離子束（FIB）等，但這些方法各有其局限性。1.機械拋光的局限性機械拋光是一種傳統的EBSD樣品制備方法，雖然操作相對簡單，但存在諸多問題。首先，由于其硬度較大，可能會劃傷材料表面，尤其不適合硬度較低的材料。其次，機

  fib 離子束 814瀏覽量

• 雙束聚焦離子束-掃描電鏡（FIB）：TEM樣品制備2025-02-28 16:11

  

  雙束聚焦離子束-掃描電鏡（DualBeamFocusedIonBeam,FIB）作為一種先進的微觀加工與分析技術，廣泛應用于材料科學、納米技術、半導體研究等領域。其不僅可以制作常見的截面透射電子顯微鏡（TEM）薄片樣品，還能根據不同的研發表征需求，對材料樣品的表面進行平面加工制樣。截面與平面TEM樣品的區別截面TEM樣品與平面TEM樣品的主要區別在于觀察面的

  fib 掃描電鏡 離子束 1294瀏覽量