金鑒實驗室文章

• 深入剖析典型潮敏元器件分層問題2025-05-14 14:37

  

  潮敏物料主要是指非密封封裝的IC，受潮后主要失效模式為內部分層。在電子組裝領域，潮敏元器件一直是影響產品質量和可靠性的關鍵因素之一。這些元器件受潮后容易出現各種失效問題，給生產過程帶來了諸多挑戰。潮敏元器件失效現象描述1.QFN元器件內部分層QFN（無引腳四方扁平封裝）元器件是一種常見的潮敏元器件。在某次生產中，發現某單板上的QFN元器件出現內部分層現象。該

  IC 元器件 964瀏覽量

• 電子元器件的定義、選用與控制要點解析2025-05-13 17:55

  

  電子元器件的定義在信息技術飛速發展的當下，電子元器件的定義和內涵也在持續拓展與深化。電子元器件在電子設備中扮演著至關重要的角色，其選用與控制的合理性直接關系到產品的性能、可靠性和使用壽命。美國軍標MIL-STD-1547A《航天器與運載器用電子元器件、材料和工藝》將電子元器件廣義地定義為包含電氣、電磁、機電和光電元器件的范疇。這些元器件與計算機、電源、導航儀

  電子元器件 航天器 1406瀏覽量

• 詳細解析AEC-Q102認證2025-05-13 17:54

  

  AEC-Q102是由汽車電子委員會（AEC）制定的車用光電器件可靠性標準，于2017年首次發布，并在2020年更新至RevA版本。該標準的核心目標是驗證LED、激光二極管、光耦等光電器件在極端汽車環境（如溫度、濕度、振動）下的長期穩定性和安全性，確保這些器件能夠滿足車載環境15年的使用壽命要求。AEC-Q102認證已成為汽車供應鏈的準入門檻，通過該認證的產品

  AEC 汽車電子 認證 1297瀏覽量

• RoHS與ELV有什么差異？2025-05-12 15:44

  

  RoHS的標準RoHS（RestrictionofHazardousSubstances）是一項由歐盟立法制定的強制性標準，全稱為《關于限制在電子電氣設備中使用某些有害成分的指令》。該標準的核心目標是限制在電子電氣產品制造過程中使用特定的有害物質，以減少對環境和人類健康的潛在危害。RoHS標準的應用范圍RoHS指令涵蓋了廣泛的產品類別，包括但不限于大型家用電

  RoHS 電子電子 1359瀏覽量

• 案例解析||照明LED的失效模式問題及改善措施2025-05-09 16:51

  

  LED是一種直接將電能轉換為可見光和輻射能的發光器件，具有耗電量小、發光效率高、體積小等優點，目前已經逐漸成為了一種新型高效節能產品，并且被廣泛應用于顯示、照明、背光等諸多領域。近年來，隨著LED技術的不斷進步，其發光效率也有了顯著的提升，現有的藍光LED系統效率可以達到60%，而白光LED的光效已經超過150lm/W，這些特點都使得LED受到越來越多的關注

  led 發光器件 失效模式 905瀏覽量

• AEC-Q102之推拉力測試2025-05-09 16:49

  

  在汽車智能化與電動化的浪潮中，光電半導體器件（如LED、激光雷達、光傳感器等）的可靠性直接決定了車輛的安全性與性能。AEC-Q102作為汽車電子領域針對分立光電半導體的核心測試標準，其推拉力測試是評估器件機械強度的關鍵環節。推拉力測試的技術原理與標準要求推拉力測試旨在評估半導體器件內部連接結構（如鍵合線、焊點、端子）的機械強度，防止因振動、沖擊或組裝應力導致

  AEC 推拉力測試機 汽車電子 728瀏覽量

• 透射電子顯微鏡（TEM）與聚焦離子束技術（FIB）在材料分析中的應用2025-05-09 16:47

  

  什么是透射電子顯微鏡（TEM）透射電子顯微鏡（TEM）是一種功能強大的分析工具，可分析各種合成材料和天然材料。它能夠通過三種不同的分析技術獲得固態樣品的化學信息：能量色散X射線分析（EDX）、電子能量損失光譜（EELS）和高角度環形暗場成像（HAADF）。金鑒實驗室配備先進的TEM設備，擁有經驗豐富的操作團隊，可為客戶提供專業的材料分析服務。1.能量色散X射

  TEM 材料 離子束 1027瀏覽量

• 元器件失效分析有哪些方法？2025-05-08 14:30

  

  失效分析的定義與目標失效分析是對失效電子元器件進行診斷的過程。其核心目標是確定失效模式和失效機理。失效模式指的是我們觀察到的失效現象和形式，例如開路、短路、參數漂移、功能失效等；而失效機理則是指導致失效的物理或化學過程，如疲勞、腐蝕、過應力等。通過失效分析，我們能夠提出有效的糾正措施，防止同類問題再次出現，從而提高產品的可靠性和穩定性。失效分析的程序1.收集

  元器件 失效分析 1072瀏覽量

• 聚焦離子束技術：原理、應用與展望2025-05-08 14:26

  

  聚焦離子束技術（FocusedIonBeam，簡稱FIB）作為一種前沿的微觀加工與分析技術，近年來在眾多領域得到了廣泛應用。金鑒實驗室憑借其專業的檢測技術和服務，成為了眾多企業在半導體檢測領域的首選合作伙伴。FIB技術的基本原理聚焦離子束技術的核心在于將特定元素（如鎵元素）的離子化為帶正電的離子（Ga+），并通過電場加速使其獲得高能量。隨后，借助靜電透鏡系統

  fib 檢測 離子束 649瀏覽量

• AEC-Q102認證之器件可焊性2025-05-07 14:11

  

  可焊性測試在汽車電子中的關鍵地位在汽車電子行業，AEC-Q102標準為分立光電半導體元件的可靠性測試提供了全面而嚴格的規范。其中，可焊性測試作為核心環節之一，對于保障產品質量和性能發揮著至關重要的作用。汽車電子設備在運行過程中需要面對復雜多變的工作環境，如高溫、高濕、振動等，而良好的可焊性是確保光電半導體器件與電路板之間實現可靠電氣連接和機械固定的基礎。只有

  AEC 汽車電子 認證 588瀏覽量