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中圖儀器

深圳市中圖儀器股份有限公司是一家高新技術企業,致力于全尺寸鏈精密測量儀器及設備的研發、生產和銷售。

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中圖儀器文章

  • 粗糙度輪廓儀一體機可以檢測產品的表面參數2024-03-20 13:59

    粗糙度輪廓儀一體機具有廣泛的適用性,可以滿足各種行業對產品質量檢測的需求。無論是汽車制造、航空航天、電子產品還是醫療器械,粗糙度輪廓儀一體機都能夠提供高效、準確的質量檢測解決方案。它不受產品材料、形狀和尺寸的限制,可以適用于各種復雜的產品結構和工藝要求,為各行各業的制造商提供了強大的技術支持。
  • 輪廓測長|雙向型輪廓儀全面測量分析螺桿參數2024-03-19 09:45

    螺桿是機械傳動元件,在工程設計和生產中發揮重要作用。準確測量螺桿形狀和尺寸對保證機械裝配準確性、提高產品質量、確保機械性能穩定及延長使用壽命具有重要意義。SJ5700DUAL輪廓儀可測量多種幾何量和內外尺寸工件參數,實現自動化、高效化測量,提高測量效率和準確性。
  • 輪廓測長|光學型輪廓儀專業檢測光學鏡片曲面2024-03-19 09:44

    精密光學元件制作中,粗糙度影響光學曲面質量。輪廓儀以高精度、自動化、多功能和數據分析能力,實現非球面鏡片的專業檢測,解讀光學曲面變化。光學鏡片曲面測量面臨幾何復雜性、表面反射和折射、尺寸材料挑戰。SJ5900光學型輪廓儀提供自動化測量、數據分析,提高效率和一致性,準確檢測微觀輪廓參數,適用于各種光學元件要求,保障工藝一致性。
  • 2024展會預告|3月上海慕尼黑光博會,中圖儀器展品提前看!2024-03-15 09:15

    慕尼黑上海光博會集中展示光電行業全方位產品,中圖儀器將展示多種測量解決方案和國產自研三坐標測量機,涵蓋顯微形貌測量、一鍵式光學影像測量、接觸式輪廓尺寸測量和位置與運動精度測量,助力制造業實現高質量產品。展會時間:3月20日-3月22日,地點:上海新國際博覽中心W4館4337。
    慕尼黑 測量 激光器 1662瀏覽量
  • 中圖輪廓儀如何測量產品外輪廓尺寸2024-03-11 11:09

    準確測量產品外輪廓尺寸對確保產品質量、生產效率及用戶體驗至關重要。使用合適的測量工具如中圖輪廓儀,遵循測量前的準備、測量步驟及注意事項,可提高測量準確性。處理和分析測量數據,有助于質量控制和產品改進。
  • 數控測量|利用機床測頭提升加工中心精度,助力生產效率飛躍!2024-03-06 11:03

    機床測頭是現代制造業的關鍵裝置,能實時監控加工誤差,提高精度和效率。其高精度測量、實時反饋和自動校準功能,確保加工質量穩定,提升生產效率。未來,機床測頭將融入更多智能化技術,推動制造業數字化、智能化發展。
    探測頭 機床 測控系統 1987瀏覽量
  • 精準制勝,WD4000無圖晶圓幾何量測系統為高質量晶圓生產保駕護航2024-03-05 08:09

    在晶圓制造前道過程的不同工藝階段點,往往需要對wafer進行厚度(THK)、翹曲度(Warp)、膜厚、關鍵尺寸(CD)、套刻(Overlay)精度等量測,以及缺陷檢測等;用于檢測每一步工藝后wafer加工參數是否達到設計標準,以及缺陷閾值下限,從而進行工藝控制與良率管理。半導體前道量檢測設備,要求精度高、效率高、重復性好,量檢測設備一般會涉及光電探測、精密機
    晶圓制造 檢測 測控 1952瀏覽量
  • 數控測量|激光干涉儀80米直測,診斷校準運動導軌2024-03-04 13:36

    在現代工業制造中,運動導軌作為精密設備的關鍵組件之一,其精密度和穩定性影響著設備的定位準確性和運動穩定性。為了保證導軌的高精度性能,激光干涉儀應運而生。校準運動導軌的重要性運動導軌的精度直接關系到整個設備的性能。在長時間運行和極端工況下,導軌可能會受到溫度、振動等外部因素的影響,導致其性能逐漸偏離理想狀態。通過激光干涉儀的診斷校準,可以及時發現并糾正這些偏差
  • 數控測量|激光干涉儀測量機床精度全面解析2024-03-04 13:35

    在機床加工領域,精度是評判機床質量的重要指標之一。而激光干涉儀是一種能夠測量機床精度的高精度測量裝置。它利用激光干涉現象來實現非接觸式測量,具有高精度、高分辨率、快速測量等優點,在機床加工領域有著廣泛的應用。了解機床精度的重要性機床精度直接影響著產品的質量和性能,它是制造業中至關重要的一個指標。在現代制造業中,隨著對產品精度要求的不斷提高,機床精度的重要性也
  • “芯”動未來,無圖晶圓幾何量測系統提升半導體競爭力2024-02-29 09:14

    無圖晶圓幾何量測系統,適用于線切、研磨、拋光工藝后,進行wafer厚度(THK)、整體厚度變化(TTV)、翹曲度(Warp)、彎曲度(Bow)等相關幾何形貌數據測量,能夠提供Thickness map、LTV map、Top map、Bottom map等幾何形貌圖及系列參數,有效監測wafer形貌分布變化,從而及時管控與調整生產設備的工藝參數,確保wafe
    半導體晶圓 晶圓 檢測 2091瀏覽量