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發布了文章 2026-04-02 11:38
瑞樂半導體新品速遞——掩膜版/光掩膜 /光罩RTD RTD-MASK測溫系統
掩膜版/光掩膜/光罩RTD測溫系統利用自主研發的核心技術將RTD傳感器集成到光罩掩膜版表面,實時監控和記錄掩膜版在工藝制程過程中的精細溫度變化數據,為半導體制造過程提供一種高效可靠的方式來監測和優化關鍵的工藝參數。掩膜版/光掩膜/光罩RTDRTD-MASK測溫系統產品優勢:1.±0.05℃高精度測溫監測:RTD傳感器能夠提供高精度的溫度讀數,確保半導體制造過125瀏覽量 -
發布了文章 2026-03-28 23:20
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發布了文章 2025-07-18 14:56
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發布了文章 2025-07-10 21:31
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發布了文章 2025-07-01 21:31
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發布了產品 2025-06-27 10:37
On Wafer WLS無線晶圓測溫系統
產品型號:OnW-12 Wafer 尺寸:8”、12” 晶圓材質:硅片 測溫點數:53 點 /65點/ 81 點 / 可定制測溫點148瀏覽量 -
發布了產品 2025-06-27 10:16
TC Wafer晶圓測溫系統
產品型號:TCW-4 TCW-6 TCW-8 TCW-12 Wafer 尺寸:2”、3”、4”、6”、8”、12 晶圓材質:1-34支持定制 線長:L1- 腔體內部;L2- 倉門過渡段;L3- 腔體外部130瀏覽量 -
發布了產品 2025-06-27 10:12
RTD Wafer晶圓測溫系統
產品型號:RTD-12 RTD-8 Wafer 尺寸:2”、3”、4”、6”、8”、12” 晶圓材質:硅片 / 藍寶石等 測溫元件:RTD107瀏覽量 -
發布了產品 2025-06-27 10:08
RTD Wafer 無線晶圓測溫系統
產品型號:RTD-12 RTD-8 Wafer 尺寸:8”、12” 晶圓材質:硅片 / 藍寶石等 測溫元件:RTD113瀏覽量 -
發布了文章 2025-06-27 10:03